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    • 41. 发明申请
    • PROCEDE DE REALISATION SIMPLIFIEE D'UNE STRUCTURE EPITAXIEE
    • 生产外观结构的简化方法
    • WO2007074027A1
    • 2007-07-05
    • PCT/EP2006/069263
    • 2006-12-04
    • COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUEFOURNEL, FranckMORICEAU, Hubert
    • FOURNEL, FranckMORICEAU, Hubert
    • H01L21/20C30B25/18C30B33/00
    • H01L21/187C30B25/18C30B33/00H01L21/0237H01L21/02381H01L21/0243H01L21/02521H01L21/02639H01L21/0265H01L21/02664H01L21/30604
    • Procédé de réalisation d'une structure consistant à déposer un matériau par épitaxie colonnaire sur une face cristalline d'un substrat (2), à poursuivre afin que les colonnes (4) donnent une couche continue (5). On pourvoit la face d'un réseau périodique de saillies (3) à l'échelle nanométrique, chaque saillie (3) présentant une zone d'appui (35) et étant obtenue à partir d'un réseau de défauts cristallins et/ou de champs de contraintes créé au sein d'une zone cristalline (16) située au voisinage d'une interface (15) de collage entre deux éléments cristallins (11, 12) ayant des réseaux cristallins décalés en rotation et/ou en flexion et/ou présentant un désaccord de paramètres de maille à l'interface, aptes à conditionner la période (38) du réseau de saillies (3). La période (38) du réseau, la hauteur (36) des saillies et la taille de leur zone d'appui (35) étant ajustées de manière que la couche continue (40) ait une épaisseur critique supérieure à celle obtenue par épitaxie sans les saillies.
    • 一种制造结构体的方法,该结构体是通过在衬底(2)的结晶面上通过柱状外延沉积材料并连续地使柱(4)形成连续层(5)而构成的。 该表面设置有纳米片(3)的周期性阵列,每个纳米块(3)具有轴承区(35),并且由晶体缺陷阵列和/或位于结晶区(16)内产生的应变场的阵列获得 在具有晶格的两个结晶元件(11,12)之间的接合界面(15)附近旋转和/或弯曲偏移和/或具有在界面处的晶格失配,其能够确定阵列的周期(38) 纳米片(3),阵列的周期(38),纳米片的高度(36)和其轴承区(35)的尺寸被调整,使得连续层(40)的临界厚度大于获得的 通过外延,没有纳米片。