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    • 1. 发明申请
    • 角形チップ抵抗器及びその製造法
    • 矩形芯片电阻器及其制造方法
    • WO2016171244A1
    • 2016-10-27
    • PCT/JP2016/062724
    • 2016-04-22
    • 釜屋電機株式会社
    • 森田 都文春野尻 悠介
    • H01C1/142H01C7/00H01C17/065H01C17/242
    • H01C13/02H01C1/142H01C7/00H01C17/006H01C17/06H01C17/065H01C17/242
    • チップ抵抗器は、絶縁基板10、その上面の長手方向両端部に設けた第1及び第2の上面電極(11x、11b)、及び上面電極に電気的に接触する抵抗体12を含み、上面電極は、対向する内側に切欠き部11a及び突出部11bを有し、第1の上面電極の切欠き部は、絶縁基板の長手方向の辺の少なくとも一方の側から絶縁基板横断方向内方に向かっており、第2の上面電極の切欠き部は、第1の上面電極の切欠き部と絶縁基板中央に対して実質的に点対称の位置にあり、抵抗体は、上面電極の突出部において接触する接触部12bと、切欠き部における上面電極に接触しない非接触部12cとを有し、非接触部端辺上の1点を始端として、絶縁基板の長手方向に延長した直線形状を含むトリミング溝(53a,53b)を有する。
    • 芯片电阻器包括:绝缘基板10; 第一和第二上表面电极(11x,11b),其设置在绝缘基板的上表面的纵向方向上的两端; 以及与上表面电极电接触的电阻器12。 上表面电极包括在相对的内侧上的切口部分11a和突出部分11b,第一上表面电极的切口部分从绝缘基板的至少一个纵向边侧向内侧延伸 绝缘基板的横向。 第二上表面电极的切口部分相对于第一上表面电极和绝缘基板中心的切口部分处于基本上点对称的位置。 电阻器包括与上表面电极的突出部分接触的接触部分12b和在切除部分处不与上表面电极接触的非接触部分12c,并且具有修剪槽(53a,53b) 从作为绝缘基板的长度方向的起始端的非接触部端部侧的点延伸的线状。
    • 7. 发明申请
    • METHOD AND APPARATUS FOR TUNING THE IMPEDANCE OF INTEGRATED SEMICONDUCTOR DEVICES
    • 用于调整集成半导体器件阻抗的方法和装置
    • WO00077836A1
    • 2000-12-21
    • PCT/CA2000/000715
    • 2000-06-13
    • H01L27/04H01C17/242H01L21/02H01L21/22H01L21/268H01L21/822H01L27/08
    • H01L28/20H01C17/242H01L27/0802
    • The invention relates to a method of iteratively, selectively tuning the impedance of an integrated semiconductor device (1) by modifying the dopant profile of a region of low dopant concentration by controlled diffusion of dopants from one or more adjacent regions of higher dopant concentration through the melting action of a focussed heating source, such as a laser. For instance, the focussed heating source is directed to a selected area which encompasses a portion of a first and a second doped region, one of which have a higher dopant concentration than the other. At least one heating pulse is applied to the selected area so as to melt it. The selected area is allowed to solidify between each successive application of the heating pulse or pulses. The method is used for increasing as well as decreasing the dopant concentration of the selected area in order to tune the resistance value of the integrated semiconductor device (1) without requiring any additional manufacturing steps.
    • 本发明涉及一种迭代地选择性地调整集成半导体器件(1)的阻抗的方法,该方法是通过从掺杂剂浓度较高的一个或多个相邻区域通过所述掺杂剂浓度的控制扩散来调节低掺杂剂浓度区域的掺杂剂分布 聚焦加热源(例如激光)的熔化作用。 例如,聚焦的加热源被引导到包围第一和第二掺杂区域的一部分的选定区域,其中一个具有比另一个更高的掺杂剂浓度。 至少一个加热脉冲施加到所选择的区域以使其熔化。 允许所选区域在每个连续施加的加热脉冲或脉冲之间凝固。 该方法用于增加以及降低所选区域的掺杂剂浓度,以便调整集成半导体器件(1)的电阻值,而不需要任何额外的制造步骤。
    • 8. 发明申请
    • PASSIVE RESISTIVE COMPONENT SURFACE ABLATION TRIMMING TECHNIQUE USING Q-SWITCHED, SOLID-STATE ULTRAVIOLET WAVELENGTH LASER
    • 使用Q开关,固态超紫外线波长激光的被动电阻元件表面抛光修剪技术
    • WO99040591A1
    • 1999-08-12
    • PCT/US1998/017891
    • 1998-08-28
    • H01C17/242
    • H01C17/242
    • A method of laser trimming a passive resistive component changes its resistance value while leaving substantially unchanged coverage of the substrate area the component occupies to maintain its power dissipation capacity or preserve its high frequency response characteristics. In a preferred embodiment, the output of a 266 nm or 355 nm, Q-switched YAG laser or a 349 nm, Q-switched YLF laser is controlled so that no single output pulse completely removes thick-film resistor material depthwise at any given location. The laser output is moved in a line scan or raster scan fashion across an area of the resistor material to ablate a portion of its surface area to a depth that is less than the height of the resistor material. Varying the laser fluence, scan speed, bite size, repetition rate, and pitch makes possible the control of the amount of material, and particularly the depth of material, removed by the laser. The laser output is scanned across the exposed surface of the resistor until its resistance value reaches a desired value. Partly removing the resistor material allows resistance tuning with no damage to the substrate. Leaving substantially unchanged the substrate area that the resistor covers maintains its power dissipation capacity and preserves its frequency response characteristics.
    • 激光微调无源电阻元件的方法改变其电阻值,同时保持元件占据的衬底面积的基本上不变的覆盖范围,以保持其功率耗散能力或保持其高频响应特性。 在优选实施例中,266nm或355nm Q开关YAG激光器或349nm Q开关YLF激光器的输出被控制,使得没有单个输出脉冲在任何给定位置处完全去除厚膜电阻器材料 。 激光输出以线扫描或光栅扫描的方式移动到电阻材料的区域上,以将其表面区域的一部分烧蚀到小于电阻材料的高度的深度。 改变激光注量,扫描速度,咬合尺寸,重复率和间距使得可以控制由激光器去除的材料的量,特别是材料的深度。 激光输出扫描电阻的暴露表面,直到其电阻值达到所需值。 部分去除电阻材料允许电阻调整,而不损坏基板。 使电阻器覆盖的衬底面积基本上保持不变,从而保持其功率耗散能力并保持其频率响应特性。
    • 9. 发明申请
    • チップ抵抗器
    • 芯片电阻
    • WO2016067726A1
    • 2016-05-06
    • PCT/JP2015/073882
    • 2015-08-25
    • KOA株式会社
    • 松本 健太郎
    • H01C7/00H01C1/032H01C17/242
    • H01C1/142H01C1/012H01C1/032H01C1/148H01C7/18H01C17/006H01C17/242H01C17/281
    •  抵抗体を外部環境から確実に保護することができると共に耐食性にも優れたチップ抵抗器を提供するため、絶縁基板2と、絶縁基板2の表面両端部に設けられた一対の表電極3と、絶縁基板2の裏面両端部に設けられた一対の裏電極7と、両表電極3に跨るように設けられた抵抗体4と、抵抗体4を覆う第1絶縁層5と、第1絶縁層5を覆う樹脂材料からなる第2絶縁層6と、表電極3と裏電極7を導通する端面電極8と、端面電極8を覆うメッキ層9等を備え、第2絶縁層6の両端部にそれ以外の部位に比べて表面粗さを粗くした粗面部6aを形成し、端面電極8とメッキ層9の端部をそれぞれ粗面部6aに密着させる構成のチップ抵抗器1とした。
    • 为了提供能够可靠地将电阻元件与外部环境保护的特别耐腐蚀的芯片电阻器,芯片电阻器1被配置为具有绝缘基板2,一对前表面电极3 设置在绝缘基板2的两个前表面端,设置在绝缘基板2的两个反向端的一对反向电极7,设置成在两个表面电极3上延伸的电阻元件4, 用于覆盖电阻元件4的第一绝缘层5,包括用于覆盖第一绝缘层5的塑料材料的第二绝缘层6,用于在表面电极3和反面电极7之间建立电连续性的端面电极8 ,覆盖端面电极8等的镀层9等。在第二绝缘层6的两端形成具有表面粗糙度的粗糙表面部分6a 超过其他部分。 每个端面电极8和镀层9的端部紧密地固定在粗糙表面部分6a上。