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1. 发明申请

WO2017067210A1 背光模组的检测设备审中-公开
公开(公告)号：WO2017067210A1
公开(公告)日：2017-04-27
申请号：PCT/CN2016/087603
申请日：2016-06-29
申请人：京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方茶谷电子有限公司
发明人：牛子瑞
IPC分类号： G02F1/13 , G01M11/00
CPC分类号： G01R31/44 , G01R1/0408 , G02F1/1303 , G02F1/1336
摘要：一种检测设备，包括：平台（10），所述平台（10）上放置待检测物品；旋转装置（20），所述旋转装置（20）设置于所述平台（10）下侧，其中，所述旋转装置（20）配置成基于输入的角度对所述平台（10）进行旋转。

2. 发明申请

WO2016065723A1 高频电缆测试平台审中-公开
公开(公告)号：WO2016065723A1
公开(公告)日：2016-05-06
申请号：PCT/CN2014/095898
申请日：2014-12-31
申请人：上海电缆研究所 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
发明人：张成 , 江斌 , 沈奶连 , 龚江疆 , 尹莹
IPC分类号： G01R1/04 , G01R31/08
CPC分类号： G01R31/021 , G01R1/0408 , G01R1/0416
摘要：一种高频电缆测试平台，包括导电触点（30）和用于将所述电缆（4）的导体压紧在导电触点（30）上的夹具（2），还包括一个分线座（1），所述分线座（1）包括一个顶面（10）和多个不同的侧面（12），所述导电触点（30）分别设置在所述侧面（12）上，所述夹具（2）布置在分线座（1）的外围并与所述导电触点（30）相对，所述分线座（1）上还设有分线导槽（13），所述分线导槽（13）倾斜地连接在所述顶面（10）和侧面（12）之间。该高频电缆测试平台采用了一种具有多面体结构的分线座，可以缩短剥线长度，避免对缆芯的垂直折弯，最大限度地降低对电缆结构的破坏，从而大大提高测试频率。

3. 发明申请

WO2014200862A3 LOW FAULT CURRENT ISOLATOR SYSTEM 审中-公开
标题翻译：低故障电流隔离器系统
公开(公告)号：WO2014200862A3
公开(公告)日：2015-06-11
申请号：PCT/US2014041376
申请日：2014-06-06
申请人： ELECTRICAL MATERIALS COMPANY
发明人： O'REGAN TIMOTHY M , O'REGAN TIMOTHY J , HAYES THOMAS , SEVERSON KEVIN J
IPC分类号： H02H7/00
CPC分类号： H02H3/10 , G01R1/04 , G01R1/0408 , G01R22/065 , G01R31/026 , H01H85/041 , H01H85/38 , H01R13/05 , H01R13/71 , H02H1/0061 , H02H1/0092 , H02H3/093 , H02H7/263 , H02H7/28 , Y02B90/224 , Y04S20/14
摘要： A low fault current isolation arrangement senses loss of voltage and automatically isolates and de-energizes a down live primary wire if overcurrent protection devices have not cleared the high impedance fault in an electric power distribution network. Incorporating an operator selectable time delay response, the low fault current isolation arrangement permits overcurrent protection devices to attempt to detect and shut down the affected conductor, and isolates and shuts down the low current fault if the overcurrent devices are not successful. The isolation arrangement continuously monitors AC voltage as remotely provided by smart meters even after a fault location is de-energized, and serves as a back up, and not as a replacement, for existing overcurrent protection schemes. A host computer operates in conjunction with plural smart meters each coupled to an associated customer distribution transformer in conjunction with the fault isolator to detect and shut down high impedance faults.
摘要翻译：如果过电流保护装置没有清除配电网络中的高阻抗故障，则低故障电流隔离装置可以感测电压的损失，并自动隔离和断电下电主电线。结合操作员可选择的延时响应，低故障电流隔离装置允许过电流保护装置尝试检测和关闭受影响的导体，并且如果过电流装置不成功，则隔离和关闭低电流故障。即使在故障位置断电之后，隔离装置也能够连续地监控智能电表远程提供的交流电压，并且作为现有过流保护方案的备用，而不是替代。主计算机与多个智能电表一起工作，每个智能电表均与故障隔离器耦合到相关联的客户配电变压器，以检测和关闭高阻抗故障。

4. 发明申请

WO2014054377A1 ウエハ取り付け方法及びウエハ検査装置审中-公开
标题翻译： WAFER安装方法和WAFER检查装置
公开(公告)号：WO2014054377A1
公开(公告)日：2014-04-10
申请号：PCT/JP2013/074003
申请日：2013-08-30
申请人：東京エレクトロン株式会社
发明人：山田　浩史
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2887 , G01R1/0408 , G01R1/0491 , G01R1/07364 , G01R1/07378 , G01R31/2893 , H01L21/68 , H01L21/687
摘要：ウエハ検査装置の構造の複雑化を防止することができるウエハ取り付け方法を提供する。複数のテスター１５及びウエハＷを搬送する搬送ステージ１８を備えるウエハ検査装置１０において、伸縮自在なベローズ２３を、テスター１５のプローブカード２０を囲むように配置し、ウエハＷを厚板部材であるチャックトップ２８に載置し、該チャックトップ２８を搬送ステージ１８に支持させ、搬送ステージ１８をウエハＷ及びチャックトップ２８とともにプローブカード２０に対向させた後、搬送ステージ１８をプローブカード２０へ向けて移動させてチャックトップ２８をベローズ２３へ当接させ、チャックトップ２８がベローズ２３へ当接した後も、搬送ステージ１８をウエハＷ及びチャックトップ２８とともにプローブカード２０へ向けて移動させてウエハＷをプローブカード２０へ当接させる。
摘要翻译：提供了可以防止晶片检查装置的结构变得复杂的晶片安装方法。在设置有多个测试器（15）的晶片检查装置（10）和用于输送晶片（W）的输送台（18）的情况下，放置可膨胀波纹管（23）以包围探针卡（20）的探针卡测试器（15），将晶片（W）放置在厚板的卡盘顶部（28）上，卡盘顶部（28）由输送台（18）支撑，输送台（18）为在传送台（18）定位之后，与探针卡（20）一起移动以将卡盘顶部（28）抵靠波纹管（23）与晶片（W）和卡盘顶部（28）一起定位在与探针相对的位置即使在卡盘顶部（28）对接波纹管（20）之后，传送台（18）也与晶片（W）和卡盘顶部（28）一起移动到探针卡（20）（23），使得晶片（W）抵靠在探针卡（20）上。

5. 发明申请

WO2014040071A1 METHOD AND APPARATUS FOR MASSIVELY PARALLEL MULTI-WAFER TEST 审中-公开
标题翻译：用于大规模并行多波长测试的方法和装置
公开(公告)号：WO2014040071A1
公开(公告)日：2014-03-13
申请号：PCT/US2013/059048
申请日：2013-09-10
申请人： ADVANTEST CORPORATION , ANDBERG, John, W. , LEVENTHAL, Ira, H. , LOSEY, Matthew, W. , DESTA, Yohannes , NAMBURI, Lakshmikanth , LOPOPOLO, Vince , GROVER, Sanjeev , VOLKERINK, Erik
发明人： ANDBERG, John, W. , LEVENTHAL, Ira, H. , LOSEY, Matthew, W. , DESTA, Yohannes , NAMBURI, Lakshmikanth , LOPOPOLO, Vince , GROVER, Sanjeev , VOLKERINK, Erik
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： G01R1/073 , G01R1/0408 , G01R31/2891 , G01R31/2893 , G01R35/005
摘要： Disclosed herein is a cost effective, efficient, massively parallel multi-wafer test cell. Additionally, this test cell can be used for both single-touchdown and multiple - touchdown applications. The invention uses a novel "split-cartridge" design, combined with a method for aligning wafers when they are separated from the probe card assembly, to create a cost effective, efficient multi-wafer test cell. A "probe-card stops" design may be used within the cartridge to simplify the overall cartridge design and operation.
摘要翻译：本文公开了一种成本有效，高效，大规模并行的多晶圆测试电池。此外，该测试单元可用于单触地板和多触地应用。本发明使用新颖的“分离式墨盒”设计，结合将晶片与探针卡组件分离时对准的方法，以创建成本有效的，高效的多晶圆测试单元。可以在墨盒内使用“探针卡停止”设计，以简化总体墨盒的设计和操作。

6. 发明申请

WO2013179950A1 キャリア分解装置、電子部品収容装置、電子部品取出装置、及び電子部品試験装置审中-公开
标题翻译：载体分离装置，电子部件壳体装置，电子部件检索方法和电子部件测试装置
公开(公告)号：WO2013179950A1
公开(公告)日：2013-12-05
申请号：PCT/JP2013/064079
申请日：2013-05-21
申请人：株式会社アドバンテスト
发明人：小暮　吉成
IPC分类号： G01R31/26 , H01R31/06 , H01R33/76
CPC分类号： G01R31/2893 , G01R1/0408 , G01R1/0483 , Y10T29/53022
摘要：相互に密着したベース部材８１とカバー部材８４を有する試験用キャリア８０を分解するキャリア分解装置は、カバー部材８４を吸着保持する第１の反転アーム１１と、ベース部材８１を吸着保持する分解テーブル１３とを備え、第１の反転アーム１１は、分解テーブル１３に対して接近及び離反することが可能となっており、第１の反転アーム１１は、カバー部材８４に接触する第１の接触面１１２ａを有し、第１の接触面１１２ａは、カバー部材８４に向かって突出する突起１１５を有している。
摘要翻译：拆卸具有相互密封的基部构件（81）和盖构件（84）的测试载体（80）的托架拆卸装置包括：使用抽吸来保持盖构件（84）的第一翻转臂（11） ; 以及使用吸力来固定基部构件（81）的拆卸台（13）。第一翻转臂（11）能够朝向和远离拆卸台（13）移动并且具有与盖构件（84）接触的第一接触表面（112a）。第一接触表面（112a）具有朝向盖构件（84）突出的突起（115）。

7. 发明申请

WO2013176537A1 A SEMICONDUCTOR COMPONENTS DELIVERY SYSTEM ASSOCIATED WITH A TURRET TYPE TESTING APPARATUS 审中-公开
标题翻译：与电流型测试装置相关的半导体组件传送系统
公开(公告)号：WO2013176537A1
公开(公告)日：2013-11-28
申请号：PCT/MY2013/000100
申请日：2013-05-23
申请人： EXIS TECH SDN BHD
发明人： LEE, Heng Lee
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R1/0408 , G01R31/01 , G01R31/26 , G01R31/2893
摘要： The invention discloses a semiconductor components delivery system associated with a turret type testing apparatus for testing integrity and functionality of semiconductor components wherein at least two input feeders loadable with semiconductor components to be vision checked, tested and/or packed are provided. The delivery system is also provided with multiple output means such as a tube, a tape or a bin or a combination thereof for semiconductor components determined to be non defective.
摘要翻译：本发明公开了一种与用于测试半导体部件的完整性和功能性的转台式测试装置相关联的半导体部件传送系统，其中至少两个输入馈送器可由半导体部件加载以进行视觉检查，测试和/或打包。输送系统还设置有被确定为无缺陷的半导体部件的多个输出装置，例如管，带或箱或其组合。

8. 发明申请

WO2013176127A1 試験用キャリア审中-公开
标题翻译：测试载体
公开(公告)号：WO2013176127A1
公开(公告)日：2013-11-28
申请号：PCT/JP2013/064076
申请日：2013-05-21
申请人：株式会社アドバンテスト
发明人：中村　陽登 , 藤崎　貴志 , 市川　弘毅
IPC分类号： G01R31/26 , H01R31/06 , H01R33/76
CPC分类号： G01R1/0408 , G01R31/003 , G01R31/2863 , G01R31/2867
摘要：試験用キャリア１０は、ダイ９０を保持するベースフィルム４０と、ベースフィルム４０に重ねられてダイ９０を覆うカバーフィルム７０と、を備え、カバーフィルム７０は、自己粘着性を有すると共にベースフィルム４０よりも柔軟であり、ベースフィルム４０は貫通孔４６を有し、当該貫通孔４６は、ベースフィルム４０においてダイ９０と接触する領域４０１の近傍に形成されている。
摘要翻译：一种测试载体（10），包括：保持模具（90）的基膜（40）; 以及覆盖在基膜（40）上并覆盖模具（90）的覆盖膜（70）。覆盖膜（70）具有自粘性，比基膜（40）更柔软。基膜（40）具有通孔（46），并且所述通孔（46）形成在与基膜（40）中的模具（90）接触的区域（401）附近。

9. 发明申请

WO2013117265A1 NEST FOR TESTING ELECTRICAL COMPONENTS 审中-公开
标题翻译：测试电气部件
公开(公告)号：WO2013117265A1
公开(公告)日：2013-08-15
申请号：PCT/EP2012/074397
申请日：2012-12-05
申请人： ISMECA SEMICONDUCTOR HOLDING SA
发明人： VIENOT, Sylvain , VIVERGE, Philippe , SCARPELLA, Massimo , ROY, Philippe
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/04 , G01R31/26
CPC分类号： G01R1/0408 , G01R31/2635 , G01R31/2865 , G01R31/2893
摘要： A nest (1) comprising, a fix part (3), and a movable part (5), wherein the fix (part 3) and movable part (5) are configured to cooperate so as to define a (pocket 7) which can receive at least a part of an electrical component (25), wherein the movable part (5) is moveable between a first position and a second position, wherein in the first position the pocket (7) is open so that at least part of the electrical component can be moved into the pocket (7), and in the second position the pocket (7) is closed so that the at least part of the electrical component (25) positioned in the pocket is secured within the pocket, wherein the nest (1) further comprises a biasing means (9) which is arranged to bias the movable part (5) towards its second position. There is further provided a nest assembly, a component handling assembly, and a table comprising said nest.
摘要翻译：一种包括固定部分（3）和可移动部分（5）的嵌套（1），其中所述固定件（3）和可移动部件（5）构造成协作以便限定（口袋7）接收电气部件（25）的至少一部分，其中所述可移动部件（5）可在第一位置和第二位置之间移动，其中在所述第一位置，所述口袋（7）是敞开的，使得所述至少一部分电气部件可以移动到口袋（7）中，并且在第二位置，口袋（7）被关闭，使得定位在口袋中的电气部件（25）的至少一部分被固定在口袋内，其中，嵌套（1）还包括偏置装置（9），其被设置成朝向其第二位置偏压可动部分（5）。还提供了一个嵌套组件，部件处理组件以及包括所述嵌套的工作台。

10. 发明申请

WO2013105927A1 A REUSABLE ELECTRONIC CIRCUIT ASSEMBLING AND TESTING SYSTEM AND USES THEREOF 审中-公开
标题翻译：可重复使用的电子电路组装和测试系统及其用途
公开(公告)号：WO2013105927A1
公开(公告)日：2013-07-18
申请号：PCT/US2012/000260
申请日：2012-05-30
申请人： CHEN, Erli
发明人： CHEN, Erli
IPC分类号： H01R11/30
CPC分类号： G01R31/00 , G01R1/0408 , G09B23/185 , H01R9/28 , H01R13/6205 , H01R31/08 , H01R2201/20 , H05K7/026 , H05K7/1038 , Y10T29/49002 , Y10T29/49117 , Y10T29/49124 , Y10T29/49128 , Y10T29/53 , Y10T29/5313 , Y10T29/53196 , Y10T29/53226 , Y10T29/5323
摘要： A reusable electronic circuit assembling system facilitates assembly and testing of electronic circuits. The system has at least one baseboard and one or more assembling blocks magnetically or mechanically attached to the baseboard. Each assembling block has at least two electrically connected conductive clips located separately in the opening holes of the assembly block. Discrete electronic components are connected by selectively inserting the electrodes of the to-be-connected electronic components into the clips of the assembling blocks. A complete circuit is constructed by attaching the above block-component assemblies on the baseboard and connecting them in accordance with the desired circuit diagram.
摘要翻译：可重复使用的电子电路组装系统便于电子电路的组装和测试。该系统具有至少一个基板和一个或多个磁性地或机械地连接到基板的组装块。每个组装块具有至少两个电连接的导电夹子，分别位于组装块的开孔中。通过将待连接的电子部件的电极选择性地插入到组装块的夹子中来连接分立的电子部件。通过将上述块组件组件附接在基板上并根据期望的电路图将其连接起来构成完整的电路。

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