专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明申请

WO2014208007A1 多結晶シリコンの結晶粒径分布の評価方法审中-公开
标题翻译：评估多晶硅晶粒尺寸分布的方法
公开(公告)号：WO2014208007A1
公开(公告)日：2014-12-31
申请号：PCT/JP2014/002925
申请日：2014-06-03
申请人：信越化学工業株式会社
发明人：宮尾　秀一 , 祢津　茂義
IPC分类号： G01N23/207 , C01B33/02 , C30B29/06
CPC分类号： G01N23/207 , C01B33/02 , C30B13/00 , C30B15/00 , C30B29/06 , G01N2223/3306 , G01N2223/606
摘要：　多結晶シリコンの結晶粒径分布をＸ線回折法により評価するにあたり、採取した円板状試料（２０）をミラー指数面＜ｈｋｌ＞からのブラッグ反射が検出される位置に配置し、スリットにより定められるＸ線照射領域が円板状試料（２０）の主面上をφスキャンするように円板状試料（２０）の中心を回転中心として回転角度φで面内回転させ、ブラッグ反射強度の円板状試料（２０）の回転角度（φ）依存性を示すチャートを求め、さらに、該φスキャン・チャートのベースラインの回折強度の単位回転角度当たりの変化量を１次微分値で求める。そして、該変化量の絶対値を正規分布化した際の歪度を算出し、この歪度を結晶粒径分布の評価指標として用い、単結晶シリコン製造用原料として好適な多結晶シリコンを選択する。
摘要翻译：在使用X射线晶体学评价多晶硅的晶粒尺寸分布的情况下，将收集的盘状样品（20）设置在检测到来自米勒分度平面的布拉格反射的位置，盘状样品在以盘状样品（20）的中心为旋转角的旋转角度ψ的平面，使得由狭缝ø限定的X射线照射区域扫描盘状样品（20）的主表面，表示寻求布拉格反射强度对盘状样品（20）的旋转角（ø）的依赖性，并且在基础上的每单位旋转角度的衍射强度变化量扫描图被寻求作为一阶导数。另外，计算出变化量的绝对值的正态分布中的偏斜量，将该偏斜用作结晶粒度分布的评价指标，以及适合作为原料使用的多晶硅选择单晶硅的生产。

2. 发明申请

WO2014192245A1 多結晶シリコン中の局所配向ドメインの評価方法审中-公开
标题翻译：用于评估多晶硅中定位方位的方法
公开(公告)号：WO2014192245A1
公开(公告)日：2014-12-04
申请号：PCT/JP2014/002609
申请日：2014-05-19
申请人：信越化学工業株式会社
发明人：宮尾　秀一 , 祢津　茂義
IPC分类号： G01N23/20 , C01B33/02
CPC分类号： G01N23/20 , G01N2223/602 , G01N2223/604 , G01N2223/606
摘要：　多結晶シリコンの局所配向ドメインをＸ線回折法により評価するにあたり、採取した板状試料（２０）をミラー指数面＜ｈｋｌ＞からのブラッグ反射が検出される位置に配置し、スリットにより定められるＸ線照射領域が円板状試料（２０）の主面上をφスキャンするように円板状試料（２０）の中心を回転中心として回転角度φで面内回転させ、ミラー指数面＜ｈｋｌ＞からのブラッグ反射強度の円板状試料（２０）の回転角度（φ）依存性を示すチャートから、ピークトップとベースラインの回折強度を求め、ピークトップの値をベースラインの値で除した値を局所配向ドメインの評価指標として用いる。
摘要翻译：当使用X射线衍射法评估多晶硅中的局部取向域时，收集的板状样品（20）被布置在从米勒指数平面检测到布拉格反射的位置处; 使盘形样品（20）经历面旋转旋转角度＆phgr; 围绕盘状样品（20）的中心处的旋转中心，以在狭缝的主要面上扫描由狭缝限定的X射线照射区域; 峰值顶点和基线衍射强度由表示圆盘形样品（20）旋转角度的图表计算，与米勒折射率平面的布拉格反射强度的相关性; 将峰顶值除以基线值所得到的值作为局部取向域的评价指标。

3. 发明申请

WO2016049623A1 CHARACTERIZATION OF TRACE CRYSTALLINITY BY SECOND HARMONIC GENERATION MICROSCOPY 审中-公开
标题翻译：通过第二谐波生成显微镜观察晶体结构的特征
公开(公告)号：WO2016049623A1
公开(公告)日：2016-03-31
申请号：PCT/US2015/052604
申请日：2015-09-28
申请人： PURDUE RESEARCH FOUNDATION
发明人： SIMPSON, Garth Jason , SCHMITT, Paul David
IPC分类号： G01N23/20
CPC分类号： G01N21/65 , G01N21/636 , G01N23/207 , G01N2223/606 , G01N2223/612
摘要： A method for quantifying crystallinity within a sample using second harmonic generation microscopy is described herein. In one aspect, a method for reducing the timeframe for accelerated stability testing of amorphous solid dispersions of active pharmaceutical ingredients though identifying regions of interest to quantify crystallinity and composition is presented herein.
摘要翻译：本文描述了使用二次谐波生成显微镜对样品内的结晶度进行定量的方法。在一方面，本文提供了一种减少活性药物成分的无定形固体分散体的加速稳定性测试的时间框架的方法，尽管通过鉴定感兴趣的区域来定量结晶度和组成。

4. 发明申请

WO2015113898A1 PROCEDE DE CARTOGRAPHIE DES ORIENTATIONS CRISTALLINES D'UN ECHANTILLON EN MATERIAU POLYCRISTALLIN 审中-公开
标题翻译：在多晶材料样品中绘制晶体取向的方法
公开(公告)号：WO2015113898A1
公开(公告)日：2015-08-06
申请号：PCT/EP2015/051313
申请日：2015-01-23
申请人： INSTITUT NATIONAL DES SCIENCES APPLIQUEES DE LYON , CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS) , UNIVERSITE CLAUDE BERNARD LYON 1
发明人： LANGLOIS, Cyril
IPC分类号： G01N23/225 , G01N21/47 , G06T7/40
CPC分类号： G06T3/0056 , G01N23/2251 , G01N23/2255 , G01N2223/3307 , G01N2223/405 , G01N2223/606 , G06T7/174 , G06T7/70 , G06T7/73 , G06T7/97 , G06T2207/10061 , G06T2207/10152
摘要： L'invention concerne un procédé de cartographie des orientations cristallines d'un matériau polycristallin, le procédé comprenant : • - la réception (21) d'une série d'images du matériau polycristallin acquises par un dispositif d'acquisition, tel q'un microscope électronique à balayage ou une sonde ionique focalisée, pour des géométries d'éclairage différentes, tel que pour différents angles d'inclinaison dudit matériau, • - l'estimation (22) d'au moins un profil d'intensité pour au moins un point considéré du matériau à partir de la série d'images, chaque profil d'intensité représentant l'intensité associée au point considéré en fonction de la géométrie d'éclairage, • - la détermination (24) d'une orientation cristalline pour chaque point considéré du matériau en comparant (23) le profil d'intensité associé audit point considéré à des signatures théoriques de profils d'intensité d'orientations cristallines connues contenues dans une base de données.
摘要翻译：本发明涉及一种用于映射多晶材料中的晶体取向的方法，所述方法包括：接收（21）多晶材料的一系列图像，所述图像由采集装置如扫描电子显微镜或聚焦离子束对于不同的照明几何形状，例如对于所述材料的各种倾斜角度; 从所述一系列图像估计（22）至少一个所述材料的所考虑点的强度分布，每个强度分布表示与所述考虑点相关联的强度作为所述照明几何的函数; 并且通过将与所述考虑点相关联的强度分布与已知晶体取向的理论强度分布特征进行比较来确定（24）每个考虑的材料点的晶体取向，所述签名包含在数据库中。

5. 发明申请

WO2014063002A1 LABORATORY X-RAY MICRO-TOMOGRAPHY SYSTEM WITH CRYSTALLOGRAPHIC GRAIN ORIENTATION MAPPING CAPABILITIES 审中-公开
标题翻译：实验室X射线微观造像系统，具有晶体尺寸定向绘图能力
公开(公告)号：WO2014063002A1
公开(公告)日：2014-04-24
申请号：PCT/US2013/065584
申请日：2013-10-18
申请人： CARL ZEISS X-RAY MICROSCOPY, INC.
发明人： FESER, Michael , HOLZNER, Christian , LAURIDSEN, Erik Mejdal
IPC分类号： G01N23/207
CPC分类号： G01N23/207 , G01N23/046 , G01N2223/419 , G01N2223/606
摘要： A method and system for three dimensional crystallographic grain orientation mapping illuminates a polycrystalline sample with a broadband x-ray beam derived from a laboratory x-ray source, detects, on one or more x-ray detectors, diffracted beams from the sample, and processes data from said diffracted beams with the sample in different rotation positions to generate three dimensional reconstructions of grain orientation, position, and/or 3-D volume. A specific, cone beam, geometry leverages the fact that for a point xray source with a divergent beam on reflection of an extended crystal grain diffracts x-rays such that they are focused in the diffraction plane direction.
摘要翻译：用于三维晶体取向映射的方法和系统用来自实验室X射线源的宽带x射线束照射多晶样品，在一个或多个x射线检测器上检测来自样品的衍射光束，并且处理来自所述衍射光束的数据与样品处于不同旋转位置，以产生晶粒取向，位置和/或3-D体积的三维重建。特定的锥形光束的几何利用了以下事实：对于在扩展晶粒的反射上具有发散光束的点x射线源衍射X射线，使得它们在衍射平面方向上聚焦。

6. 发明申请

WO2015113658A1 PROCEDE ET DISPOSITIF POUR ACQUERIR ET TRAITER DES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION ISSUS D'UN EQUIPEMENT METTANT EN OEUVRE UN FAISCEAU DE PARTICULES FOCALISEES, ET SYSTEME D'IMAGERIE ANALYTIQUE INTEGRANT CE DISPOSITIF 审中-公开
标题翻译：用于从使用聚焦粒子束的设备的块中获取和处理衍射图的方法和设备，以及包括所述设备的分析成像系统
公开(公告)号：WO2015113658A1
公开(公告)日：2015-08-06
申请号：PCT/EP2014/071392
申请日：2014-10-07
申请人： NEWTEC SCIENTIFIC
发明人： MENARD, Jean-Claude
IPC分类号： G01N23/225 , H01J37/26 , G02B26/08 , G01T1/20
CPC分类号： G01N23/2254 , G01N2223/313 , G01N2223/418 , G01N2223/606 , G02B26/0833 , H01J37/244 , H01J37/2955 , H01J2237/24475
摘要： La présente invention concerne un procédé pour traiter des diagrammes de diffraction issus d'un équipement mettant en œuvre un faisceau de particules focalisées, lesquels diagrammes de diffraction étant générés par un écran convertisseur particules-photons (1), qui comprend (i) une transmission sélective vers un photo-détecteur, au moyen d'un modulateur spatial de lumière (20), de la lumière émise depuis ledit écran convertisseur (1) dans au moins une zone sélectionnée, laquelle lumière ayant une intensité photonique représentative des caractéristiques de diffraction du matériau dans ladite zone sélectionnée, (ii) une détection, au moyen dudit photo-détecteur, d'une intensité photonique représentative de la lumière transmise par ledit modulateur spatial de lumière (20), et (iii) une programmation dudit modulateur spatial de lumière (20) selon un diagramme filtre (DF) pour réaliser une fonction de filtrage spatial de la lumière issue dudit écran convertisseur (1).
摘要翻译：本发明涉及一种用于从使用聚焦粒子束的设备处理衍射图的方法，所述衍射图由粒子 - 光子转换器屏幕（1）产生，该方法包括（i）选择性地将光电检测器，借助于空间光调制器（20），在至少一个选定区域中从所述转换器屏幕（1）发射的光，所述光具有代表所述选定区域中的材料的衍射特性的光子强度，（ii）通过所述光电检测器检测代表由所述空间光调制器（20）传输的光的光子强度，以及（iii）根据滤波器图（DF）编程所述空间光调制器（20）以产生来自所述转换器屏幕（1）的光的空间滤波功能。

7. 发明申请

WO2013190829A1 多結晶シリコンの結晶配向度評価方法、多結晶シリコン棒の選択方法、多結晶シリコン棒、多結晶シリコン塊、および、単結晶シリコンの製造方法审中-公开
标题翻译：多晶硅晶体取向度评估方法，多晶硅选择方法，多晶硅，多晶硅，多晶硅制造方法
公开(公告)号：WO2013190829A1
公开(公告)日：2013-12-27
申请号：PCT/JP2013/003791
申请日：2013-06-18
申请人：信越化学工業株式会社
发明人：宮尾　秀一 , 岡田　淳一 , 祢津　茂義
IPC分类号： G01N23/20 , C01B33/02 , C01B33/035
CPC分类号： G01N23/20 , C01B33/02 , C01B33/021 , C01B33/035 , C30B13/00 , C30B29/06 , C30B29/605 , G01N23/207 , G01N2223/3306 , G01N2223/606
摘要：　多結晶シリコンの結晶配向度をＸ線回折法により評価するにあたり、採取した円板状試料２０をミラー指数面＜ｈｋｌ＞からのブラッグ反射が検出される位置に配置し、スリットにより定められるＸ線照射領域が円板状試料２０の主面上をφスキャンするように円板状試料２０の中心を回転中心として回転角度φで面内回転させ、ミラー指数面＜ｈｋｌ＞からのブラッグ反射強度の円板状試料２０の回転角度（φ）依存性を示すチャートを求め、該チャートからベースラインを求め、該ベースラインの回折強度値を結晶配向度の評価指標として用いる。本発明は、単結晶シリコン製造用原料として好適な多結晶シリコンを高い定量性と再現性で選別し、単結晶シリコンの安定的製造に寄与する技術を提供する。
摘要翻译：本发明提供以高水平的定量性和再现性选择作为单晶硅制造的原料的期望的多晶硅的技术，有助于单晶硅的稳定制造。当通过X射线衍射评估多晶硅晶体的取向度时：将所采用的盘形样品（20）定位在检测到来自反射镜指示面的布拉格反射的位置; 以盘状样品（20）的中心为旋转角度的旋转角（Phi）进行面内旋转，使得由狭缝Phi限定的x射线投影区域扫描盘形样品（20）的主表面; 导出表示来自Miller索引面的布拉格反射强度的盘形样品（20）的旋转角度（Phi）依赖性的图表; 基线来自图表; 并且将基线的衍射强度的值用作晶体的取向度的评价指标。

8. 发明申请

WO2008049419A1 VERFAHREN ZUM ERMITTELN VON INTENSITÄTSWERTEN IM RAHMEN EINER DIFFRAKTOMETRISCHEN INTENSITÄTSMESSUNG AN EINER PROBE, VORRICHTUNG ZUM DURCHFÜHREN EINER DIFFRAKTOMETRISCHEN INTENSITÄTSMESSUNG AN EINER PROBE 审中-公开
标题翻译： PROCEDURE用于确定强度值IN的样品的衍射物强度测量，DEVICE用于进行衍射物强度测量的试样的
公开(公告)号：WO2008049419A1
公开(公告)日：2008-05-02
申请号：PCT/DE2007/001922
申请日：2007-10-25
申请人： TECHNISCHE UNIVERSITÄT , TECHNISCHE UNIVERSITÄT CHEMNITZ , UNIVERSITÄT ZU LÜBECK , SCHAEBEN, Helmut , HIELSCHER, Ralf , PRESTIN, Jürgen , POTTS, Daniel
发明人： SCHAEBEN, Helmut , HIELSCHER, Ralf , PRESTIN, Jürgen , POTTS, Daniel
IPC分类号： G01N23/20
CPC分类号： G01N23/20016 , G01N2223/606
摘要： Bei einem Verfahren zum Ermitteln von Intensitätswerten im Rahmen einer dif fraktometrischen Intensitätsmessung an einer Probe wird in einem ersten Messdurchgang für jede Messposition einer ersten Mehrzahl von Messpositionen innerhalb eines Messbereiches jeweils mindestens ein Intensitätswert ermittelt. Ferner wird basierend auf den ermittelten Intensitätswerten die Form mindestens eines Teilbereiches des Messbereiches ermittelt. Ferner wird eine zweite Mehrzahl von Messpositionen ermittelt, wobei in dem mindestens einen Teilbereich des Messbereiches mehr Messpositionen der zweiten Mehrzahl von Messpositionen vorhanden sind als Messpositionen der ersten Mehrzahl von Messpositionen. Weiterhin wird in einem zweiten Messdurchgang für jede Messposition der zweiten Mehrzahl von Messpositionen jeweils mindestens ein Intensitätswert ermittelt wird. Die Messauflösung wird an eine beobachtete Textur angepasst und die Messzeit wird reduziert, in dem Messungen, die in dem ersten Messdurchgang durchgeführt worden sind, in dem zweiten Messdurchgang nicht wiederholt werden.
摘要翻译：在用于在每种情况下对样品确定DIF折射测量的强度中强度值的方法的至少一个强度值以用于在第一多个测量范围内的测量位置中的每一个测量位置的第一测量周期来确定。此外，至少在测量范围的部分区域的形状被确定基于所确定的强度值。此外，第二多个测量位置中的被确定，其中至少所述测量范围的一部分的第二多个测量位置中的多个测量位置作为测量所述第一多个测量位置中的位置处。此外，在第二测量通所述第二多个测量位置中的每一个测量位置在各种情况下的至少一个强度值被确定。测量分辨率被调整为所观察的质地和测量时间减少，未在已经在所述第一测量通道中的第二测量运行被执行的测量重复。

9. 发明申请

WO2019115381A1 PROCÉDÉ, DISPOSITIF ET PROGRAMME DE TRAITEMENT D'IMAGES DE DIFFRACTION D'UN MATÉRIAU CRISTALLIN 审中-公开
公开(公告)号：WO2019115381A1
公开(公告)日：2019-06-20
申请号：PCT/EP2018/083947
申请日：2018-12-07
申请人： ELECTRICITE DE FRANCE , CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS) , ECOLE NORMALE SUPERIEURE DE CACHAN
发明人： LATOURTE, Félix , SHI, Qiwei , HILD, François , ROUX, Stéphane
IPC分类号： G01N23/203 , G06T3/00 , G06T7/00
CPC分类号： G01N23/203 , G01N2223/0566 , G01N2223/606 , G01N2223/607 , G06T7/001
摘要： L'invention concerne un procédé de traitement d'images, obtenues par détecteur à diffraction, d'un matériau cristallin ou polycristallin, dans lequel on acquiert une première image du matériau dans un état de référence et une deuxième image du matériau se trouvant dans un état déformé. L'invention est caractérisée en ce que dans un calculateur au cours d'une première étape (E6, E12), on fait prendre à un tenseur F e gradient de déformation élastique courant une valeur déterminée par calcul, au cours d'une deuxième étape (E7), on calcule le champ de déplacement courant induit par le tenseur F e , au cours d'une troisième étape (E8), on calcule des troisièmes valeurs numériques d'une image déformée ğ u (x) = g(x + u(x)) corrigée parle champ de déplacement courant, au cours d'un algorithme itératif, on effectue des itérations des deuxième et troisième étapes (E12, E7, E8) sur des valeurs du tenseur F e modifiées jusqu'à remplir un critère de convergence sur la correction à la valeur courante de F e .

10. 发明申请

WO2015138619A1 BLEND MODES FOR MINERALOGY IMAGES 审中-公开
标题翻译：矿物图像的混合模式
公开(公告)号：WO2015138619A1
公开(公告)日：2015-09-17
申请号：PCT/US2015/019989
申请日：2015-03-11
申请人： FEI COMPANY
发明人： HOWELL, Garth , OWEN, Michael James , SALAZAR, Leonardo , HABERLAH, David , GOERGEN, Eric
IPC分类号： G06T15/50 , G06T11/00 , G01N23/00 , G01N23/225
CPC分类号： G06T11/00 , G01N23/2252 , G01N2223/401 , G01N2223/405 , G01N2223/418 , G01N2223/606 , G01N2223/616 , G06T15/503
摘要： Optimized blending mode for mineralogy images. A luminosity value is determined for a pixel in a base layer or top layer mineralogy image. An image weighting value is determined from the luminosity value and an optional mixing parameter. A multiply value is determined by multiplying the base and top layer pixel values. An overlay value is determined from twice the multiply value if the value of one of the base layer or top layer pixel values is over a threshold, otherwise it is determined by inverting twice the product of the inverted top layer pixel value with the inverted base layer pixel value. A blended image pixel value is determined by adding the multiply value weighted with the image weighting value and the overlay value weighted with the inverted image weighting value.
摘要翻译：矿物图像优化混合模式。确定基层或顶层矿物学图像中的像素的亮度值。根据亮度值和可选的混合参数确定图像加权值。通过乘以基层和顶层像素值来确定乘法值。如果基层或顶层像素值之一的值超过阈值，则由乘法值的两倍确定覆盖值，否则通过将反向顶层像素值与反向基底层的乘积反相两倍来确定像素值。通过将用图像加权值加权的乘积值和用反转图像加权值加权的覆盖值相加来确定混合图像像素值。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式