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热词
    • 1. 发明申请
    • 放射測定器
    • 辐射测量仪
    • WO2017138579A1
    • 2017-08-17
    • PCT/JP2017/004639
    • 2017-02-08
    • 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構
    • 田島 治長崎 岳人
    • G01J5/00G01J5/02G01J5/10G01J5/46G01J5/58G01J5/60
    • G01J5/00G01J5/02G01J5/10G01J5/46G01J5/58G01J5/60
    • 【課題】本発明は、対象物の温度を高精度に測定する放射測定器を提供することを目的とするものである。 【解決手段】本発明は、対象物からの放射を偏光フィルター3により偏光に分離し、その片方を第一光学路を介してスペクトラムアナライザー7に入れ、もう片方を第二光学路を介してスペクトラムアナライザー7に入れ二色比を測定し、一方、真空極低温恒温槽1の中におかれた、真空極低温の準熱平衡状態にある黒体2の放射を、第三光学路を通して偏光フィルター3に入れ偏光に分離し、それぞれを対象物の放射の光学路と同じ光学路に入れ、スペクトラムアナライザー7に入れ二色比を測定し、これら2つの二色比から対象物の温度を高精度に求める。
    • 要解决的问题:提供一种用于以高精度测量物体温度的辐射测量仪器。 解决方案:在本发明中,来自物体的辐射通过偏振滤波器3被分离成偏振光,其中一个通过第一光路被放置在频谱分析仪7中,另一个被连接到光谱 在分析仪7中测量二向色性比,而放置在真空低温恒温槽1中的处于真空低温准热平衡状态的黑体2的辐射通过第三光路传输到偏振滤光片3 ,将它们置于偏振光中,将它们放置在与物体的辐射光路相同的光路上,将它们放入光谱分析仪7中,测量二色比,并从这两个二色比值中高精度地计算物体的温度 我想要它。
    • 2. 发明申请
    • DEVICE AND METHOD FOR TEMPERATURE CORRECTION USING A PROXIMITY SENSOR IN A NON-CONTACT THERMOPILE THERMOMETER
    • 使用非接触式热电偶温度计中的临近传感器进行温度校正的装置和方法
    • WO2016145319A1
    • 2016-09-15
    • PCT/US2016/022023
    • 2016-03-11
    • MAXIM INTEGRATED PRODUCTS, INC.
    • LEE, Janice, C.PECORARO, DavidPEI, Cheng-Wei
    • G01J5/22G01F1/688G01J5/46
    • G01J5/46G01J5/22G01K1/00G01K1/20
    • A temperature measurement device having a thermopile temperature sensor and a proximity sensor, a mobile temperature measurement device, and a method for determining a corrected temperature with a temperature measurement device are described. In an implementation, a temperature measurement device includes a semiconductor device; a thermopile temperature sensor disposed on the semiconductor device, where the thermopile temperature sensor is configured to receive radiation from an object; a proximity sensor disposed on the semiconductor device, the proximity sensor configured to detect a distance between the thermopile temperature sensor and the object; and a controller configured determine a corrected temperature measurement using at least an indication of received radiation and an indication of distance between the thermopile temperature sensor and the object.
    • 描述了具有热电堆温度传感器和接近传感器的温度测量装置,移动温度测量装置和用温度测量装置确定校正温度的方法。 在实施方式中,温度测量装置包括半导体器件; 设置在所述半导体器件上的热电堆温度传感器,其中所述热电堆温度传感器被配置为接收来自物体的辐射; 设置在所述半导体器件上的接近传感器,所述接近传感器被配置为检测所述热电堆温度传感器和所述物体之间的距离; 并且控制器配置使用至少接收到的辐射的指示和热电堆温度传感器和物体之间的距离的指示来确定校正的温度测量。
    • 7. 发明申请
    • 表面温度の測定方法及び測定システム
    • 用于测量表面温度的方法和系统
    • WO2012081512A1
    • 2012-06-21
    • PCT/JP2011/078536
    • 2011-12-09
    • 独立行政法人産業技術総合研究所山田 善郎石井 順太郎
    • 山田 善郎石井 順太郎
    • G01J5/48
    • G01J5/02G01J5/0003G01J5/46G01J5/522G01J5/524G01J2005/0077
    • 本発明は、被測定面の放射率分布に影響されずに正しく被測定面の表面温度を測定することができる測定方法及び測定システムを提供する。放射率分布を持つ被測定面と、該被測定面の輝度分布を測定する放射計と、該被測定面に関して該放射計から鏡面反射位置に設置された補助熱源とを用意し、該被測定面の放射率の異なる2か所の輝度を2つの異なる補助熱源温度で測定し、該放射率の異なる2か所のそれぞれ2つの輝度測定値に基づいて該放射率の異なる2か所の反射率比を算出し、該放射率の異なる2か所の輝度測定値と該反射率比を用いて該被測定面の温度を求める。
    • 本发明提供一种测量方法和测量系统,用于正确地测量待测表面的表面温度,而不受被测表面的发射率分布的影响。 要测量的表面,所述表面具有辐射率分布,测量待测表面的亮度分布的辐射计和辅助热源,其设置在相对于表面的辐射计的镜面反射位置处 测量,准备。 然后,在两个不同的辅助热源温度下测量待测表面上具有不同发射率的两个区域的亮度,并且基于具有不同发射率的两个区域的两个亮度测量值,两者的反射率 计算具有不同发射率的区域,并且使用亮度测量值和具有不同发射率的两个区域的反射率比来获得要测量的表面的温度。