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1. 发明申请

WO2009022304A3 SECURE STORAGE OF A CODEWORD WITHIN AN INTEGRATED CIRCUIT 审中-公开
标题翻译：在集成电路中安全存储编码
公开(公告)号：WO2009022304A3
公开(公告)日：2009-04-09
申请号：PCT/IB2008053253
申请日：2008-08-13
申请人： NXP BV , PELGROM MARCEL , VERTREGT MAARTEN , TUINHOUT HANS PAUL
发明人： PELGROM MARCEL , VERTREGT MAARTEN , TUINHOUT HANS PAUL
IPC分类号： G11C17/12 , G06K19/073 , G11C7/20
CPC分类号： G11C7/24 , G11C11/41
摘要： The invention discloses an integrated circuit (10) for securely storing a codeword. The value of the codeword is dependent on the mobility (µA, µB, µC) of at least one transistor (TRA, TRB, TRC) of the integrated circuit. The invention further discloses a reader means (15), a method for determining the value of the codeword from the integrated circuit (10), and a method for altering the value of the codeword.
摘要翻译：本发明公开了一种用于安全地存储码字的集成电路（10）。码字的值取决于集成电路的至少一个晶体管（TRA，TRB，TRC）的迁移率（μA，μB，μC）。本发明还公开了一种读取器装置（15），一种用于从集成电路（10）确定码字的值的方法，以及用于改变码字值的方法。

2. 发明申请

WO2009104130A3 POWER SUPPLY SWITCHING FOR REDUCING POWER CONSUMPTION OF INTEGRATED CIRCUITS 审中-公开
标题翻译：电源开关降低集成电路的功耗
公开(公告)号：WO2009104130A3
公开(公告)日：2009-10-15
申请号：PCT/IB2009050638
申请日：2009-02-17
申请人： NXP BV , VEENDRICK HENDRICUS J M , PELGROM MARCEL , ZIEREN VICTOR
发明人： VEENDRICK HENDRICUS J M , PELGROM MARCEL , ZIEREN VICTOR
IPC分类号： H03K19/00
CPC分类号： H03K19/0016
摘要： Reduction of power consumption of integrated circuits due to reduced leakage is provided by driving an integrated circuit with a first drive potential (Vdd) and a second drive potential (Vsscore), switching the second drive potential to a ground potential in active mode using a power switch (30), and connecting a substrate potential of the integrated circuit to the ground potential.
摘要翻译：通过驱动具有第一驱动电位（Vdd）和第二驱动电位（Vsscore）的集成电路来提供由于泄漏减少而导致的集成电路的功耗的降低，使用功率在活动模式下将第二驱动电位切换到地电位开关（30），并且将集成电路的衬底电位连接到地电位。

3. 发明申请

WO2007148268A3 SEMICONDUCTOR DEVICE WITH TEST STRUCTURE AND SEMICONDUCTOR DEVICE TEST METHOD 审中-公开
标题翻译：具有测试结构和半导体器件测试方法的半导体器件
公开(公告)号：WO2007148268A3
公开(公告)日：2008-04-24
申请号：PCT/IB2007052268
申请日：2007-06-14
申请人： NXP BV , PELGROM MARCEL , PETRESCU VIOLETA , THEENDAKARA PRAVEEN
发明人： PELGROM MARCEL , PETRESCU VIOLETA , THEENDAKARA PRAVEEN
IPC分类号： G01R31/30
CPC分类号： G01R31/2884 , G01R31/3161
摘要： The invention relates to a semiconductor device comprising a test structure (100) for detecting variations in the structure of the semiconductor device, the test structure (100) comprising a first supply rail (110), a second supply rail (120), a ring oscillator (130) coupled between the first supply rail (110) and second supply rail (120), the ring oscillator (130) having an output (132) for providing a test result signal, and an array (140) of individually controllable transistors (142) coupled in parallel between the first supply rail (110) and the ring oscillator (130). Variations in the current output of the respective transistors (142) in the array (140) lead to variations in the respective output frequencies of the ring oscillator (130). This gives a qualitative indication of the aforementioned structural variations. More accurate results can be obtained by inclusion of a reference current source (160) for calibrating the ring oscillator (130) prior to the measurement of the current output of the individual transistors (142).
摘要翻译：本发明涉及一种包括用于检测半导体器件结构变化的测试结构（100）的半导体器件，该测试结构（100）包括第一电源轨（110），第二电源轨（120），环耦合在第一电源轨道（110）和第二电源轨道（120）之间的振荡器（130），环形振荡器（130）具有用于提供测试结果信号的输出（132）和独立可控晶体管的阵列（140）（142），并联在所述第一电源轨（110）和所述环形振荡器（130）之间。阵列（140）中的相应晶体管（142）的电流输出的变化导致环形振荡器（130）的相应输出频率的变化。这给出了上述结构变化的定性指示。通过在测量各个晶体管（142）的电流输出之前，包括用于校准环形振荡器（130）的参考电流源（160）可以获得更准确的结果。

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