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1. 发明申请

WO2011144632A1 METHOD AND DEVICE FOR HIGH RESOLUTION FULL FIELD INTERFERENCE MICROSCOPY 审中-公开
标题翻译：用于高分辨率全场干涉显微镜的方法和装置
公开(公告)号：WO2011144632A1
公开(公告)日：2011-11-24
申请号：PCT/EP2011/057997
申请日：2011-05-17
申请人： LLTECH MANAGEMENT , BOCCARA, Albert Claude , HARMS, Fabrice , LE CONTE CHRESTIEN DE POLY, Bertrand
发明人： BOCCARA, Albert Claude , HARMS, Fabrice , LE CONTE CHRESTIEN DE POLY, Bertrand
IPC分类号： G01B9/02 , G01B21/00 , G01N21/45
CPC分类号： G01B9/02 , G01B9/02068 , G01B9/02082 , G01B9/02091 , G01B9/04 , G02B21/0056 , G02B26/06
摘要： The invention relates to an incoherent light full field interference microscopy device for the imaging of a volumetric scattering sample (106). The device comprises an interference device (100) between a reference wave (401), produced by reflection of an incident wave by a reflective surface (105) of a reference arm of the interference device, and an object wave (402) produced by backscattering of the incident wave by a slice of the sample, an acquisition device (108) for at least a first interference signal and at least a second interference signal resulting from the interference of the reference and object waves, the at least two interference signals having a phase difference, an processing unit (403) for calculating an image of the slice of the sample, based on said interference signals. The interference device also comprises an optical element (404) for modifying the phase of the wavefront, and the microscopy device comprises a control unit (405) for the optical element, linked to the processing unit (403), the optical phase modification element being controlled by optimizing a statistical parameter of at least a part of the image calculated by the processing unit.
摘要翻译：本发明涉及一种用于体积散射样品（106）成像的非相干光全场干涉显微镜装置。该装置包括通过由干涉装置的参考臂的反射表面（105）反射入射波而产生的参考波（401）和由后向散射产生的物体波（402）之间的干涉装置（100）通过一个采样片的入射波的采样装置（108），用于至少第一干扰信号的采集装置（108）和由参考和对象波的干扰产生的至少第二干扰信号，所述至少两个干扰信号具有相位差，用于基于所述干扰信号计算样本片的图像的处理单元（403）。所述干涉装置还包括用于修改所述波前相位的光学元件（404），并且所述显微镜装置包括与所述处理单元（403）连接的用于所述光学元件的控制单元（405），所述光学相位修改元件通过优化由处理单元计算的图像的至少一部分的统计参数来控制。

2. 发明申请

WO2012035170A1 OPTICAL TISSUE SECTIONING USING FULL FIELD OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY 审中-公开
标题翻译：光学组织分割使用全场光学相干TOMOGRAPHY
公开(公告)号：WO2012035170A1
公开(公告)日：2012-03-22
申请号：PCT/EP2011/066246
申请日：2011-09-19
申请人： LLTECH Inc. , BOCCARA, Albert Claude , HARMS, Fabrice , LE CONTE CHRESTIEN DE POLY, Bertrand
发明人： BOCCARA, Albert Claude , HARMS, Fabrice , LE CONTE CHRESTIEN DE POLY, Bertrand
IPC分类号： A61B5/00
CPC分类号： H04N7/18 , A61B5/0066 , A61B5/0068
摘要： According to a first aspect, the invention relates to a multimodal optical sectioning microscope (200, 400, 600) for full-field imaging of a volumic and scattering sample comprising: - a full-field OCT system for providing an image of a first section in depth of the sample comprising an illumination sub-system (201, 401, 601) and a full-field imaging interferometer with a detection sub system (208, 408, 608) and an optical conjugation device for optically conjugating the sample and said detection sub system, wherein said optical conjugation device comprises a microscope objective (203, 403, 603), - a supplementary full-field optical sectioning imaging system for providing a fluorescent image of a second section in depth of said sample comprising a structured illumination microscope with an illumination sub system (623), means (421, 422) for generating at the focal plane of said microscope objective of said full-field imaging interferometer a variable spatial pattern illumination and a detection sub system (624), optically conjugated with said focal plane of the microscope objective.
摘要翻译：根据第一方面，本发明涉及一种用于体积和散射样品的全场成像的多模式光学切片显微镜（200,400,600），包括： - 全场OCT系统，用于提供第一部分的图像包括照明子系统（201,401,601）和具有检测子系统（208,408,608）的全场成像干涉仪的样本的深度以及用于将样品和所述检测光学共轭的光共轭装置子系统，其中所述光共轭装置包括显微镜物镜（203,403,603）， - 辅助全场光学分割成像系统，用于提供所述样品深度的第二部分的荧光图像，所述辅助全场光学分割成像系统包括具有照明子系统（623），用于在所述全场成像干涉仪的所述显微镜物镜的焦平面处产生可变空间图案照明的装置（421,422）和检测子系统（624），与显微镜物镜的所述焦平面光学共轭。

3. 发明申请

WO2012004388A1 METHOD AND DEVICE FOR THREE-DIMENSIONAL IMAGING BY FULL-FIELD INTERFERENTIAL MICROSCOPY 审中-公开
标题翻译：通过全场干涉显微镜进行三维成像的方法和装置
公开(公告)号：WO2012004388A1
公开(公告)日：2012-01-12
申请号：PCT/EP2011/061633
申请日：2011-07-08
申请人： LLTECH INC , BOCCARA, Albert Claude , HARMS, Fabrice , LE CONTE CHRESTIEN DE POLY, Bertrand
发明人： BOCCARA, Albert Claude , HARMS, Fabrice , LE CONTE CHRESTIEN DE POLY, Bertrand
IPC分类号： G02B21/00 , G02B9/02
CPC分类号： G01B9/02091 , A61B5/0066 , A61B2562/046 , G01B9/02048 , G01B9/02057 , G01B11/2441 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/10 , G01J3/2823 , G01J3/45 , G02B21/14
摘要： According to one aspect, the invention relates to a device (20) for three-dimensional imaging by full-field interferential microscopy of a volumic and scattering sample (1) comprising an emission source (201) for emitting an incident wave with low temporal coherence, an imaging interferometer (200) of variable magnification, allowing for the acquisition of at least one first and one second interferometric images resulting from the interference of a reference wave obtained by reflection of the incident wave on a reference mirror (205) and an object wave obtained by backscattering of the incident wave by a slice of the sample at a given depth of the sample, the at least two interferometric images having a phase difference obtained by varying the relative path difference between the object and reference arms of the interferometer, a processing unit (206) for processing said interferometric images making it possible to obtain a tomographic image of said slice of the sample, means for axially displacing the interferometer relative to the sample allowing for the acquisition of tomographic images for slices at different depths of the sample and means for varying the magnification of the imaging interferometer allowing for the acquisition of interferometric images of a slice of the sample for different magnification values.
摘要翻译：根据一个方面，本发明涉及一种用于通过全场干涉显微镜对体积和散射样品（1）进行三维成像的装置（20），其包括用于发射具有低时间相干性的入射波的发射源（201），可变放大率的成像干涉仪（200），允许获取由参考反射镜（205）和对象物体（205）上的入射波反射获得的参考波的干涉所产生的至少一个第一和第二干涉图像所述至少两个干涉图像具有通过改变所述干涉仪的对象和参考臂之间的相对路径差异而获得的相位差，所述相位差通过在所述样本的给定深度处的样本的切片获得，处理单元（206），用于处理所述干涉图像，使得可以获得所述样本的所述切片的断层图像，用于轴向的装置相对于样品移位干涉仪，允许采集用于在样本的不同深度处的切片的断层图像，以及用于改变成像干涉仪的放大倍率的装置，以允许采集不同放大倍数值的样本片段的干涉图像。

4. 发明申请

WO2012035148A1 FULL-FIELD OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY SYSTEM FOR IMAGING AN OBJECT 审中-公开
标题翻译：用于成像对象的全景光学相干坐标系统
公开(公告)号：WO2012035148A1
公开(公告)日：2012-03-22
申请号：PCT/EP2011/066132
申请日：2011-09-16
申请人： LLTECH MANAGEMENT , BOCCARA, Albert , LATRIVE, Anne , LE CONTE DE POLY, Bertrand , HARMS, Fabrice
发明人： BOCCARA, Albert , LATRIVE, Anne , LE CONTE DE POLY, Bertrand , HARMS, Fabrice
IPC分类号： A61B5/00 , G01N21/47
CPC分类号： G01B9/02091 , A61B5/0066 , A61B5/0084 , G01N21/4795
摘要： The present invention relates to a full-field optical coherence tomography system (300) for imaging an object (319), comprising a light source (301), a first interferometric device having means for splitting an input light beam and comprising at least a reflecting surface (307), a second interferometric device having means for splitting the spectrally modulated output beam and comprising at least a reflecting surface, a multichannel acquisition device (321), the system (300) being characterized in that at least one of the interferometric devices includes at least a focusing optical element arranged to focus at least one of the input beams or at least one of the output beams onto the corresponding reflecting surface of the corresponding interferometric device.
摘要翻译：本发明涉及一种用于对物体（319）进行成像的全场光学相干断层摄影系统（300），其包括光源（301），第一干涉设备，其具有用于分割输入光束的装置，并且至少包括反射表面（307），具有用于分离光谱调制的输出光束并且至少包括反射表面的装置的第二干涉测量装置，多通道采集装置（321），所述系统（300）的特征在于，至少一个干涉装置至少包括聚焦光学元件，其被布置为将输入光束中的至少一个或至少一个输出光束聚焦到相应的干涉测量装置的对应反射表面上。

5. 发明申请

WO2016162521A1 PROCEDE ET SYSTEME D'IMAGERIE PAR MICROSCOPIE INTERFERENTIELLE PLEIN CHAMP 审中-公开
标题翻译：用于全场干涉显微成像的方法和系统
公开(公告)号：WO2016162521A1
公开(公告)日：2016-10-13
申请号：PCT/EP2016/057827
申请日：2016-04-08
申请人： LLTECH MANAGEMENT
发明人： BOCCARA, Albert Claude , HARMS, Fabrice
IPC分类号： G02B21/00 , G01B9/02 , G02B21/14 , G01N21/47 , G02B21/18
CPC分类号： G02B21/125 , G01B9/02091 , G01N21/47 , G01N21/4795 , G01N2021/4709 , G02B21/0004 , G02B21/082 , G02B21/14 , G02B21/18 , G06T1/0007 , G06T5/50 , G06T2207/10101
摘要： Système d'imagerie (20) par microscopie interférentielle plein champ d'un échantillon volumique diffusant (206) comprenant : - un dispositif d'interférence (200) comprenant un bras de référence sur lequel est agencée une surface de réflexion (205), le dispositif d'interférence étant adapté pour produire, lorsque l'échantillon est disposé sur un bras objet du dispositif d'interférence, en chaque point d'un champ d'imagerie, une interférence entre une onde de référence obtenue par réflexion d'ondes lumineuses incidentes sur une surface élémentaire de la surface de réflexion (205) correspondant audit point du champ d'imagerie et une onde objet obtenue par rétrodiffusion d'ondes lumineuses incidentes par un voxel d'une tranche de l'échantillon à une profondeur donnée, ledit voxel correspondant audit point du champ d'imagerie, - un dispositif d'acquisition (208) adapté pour acquérir, à différence de marche fixe entre le bras objet et le bras de référence, une succession temporelle de N signaux interférométriques bidimensionnels résultant des interférences produites en chaque point du champ d'imagerie, - une unité de traitement (220) configurée pour calculer une image (IB, IC) représentative de variations temporelles d'intensité entre lesdits N signaux interférométriques bidimensionnels.
摘要翻译：本发明涉及用于三维扩散样品（206）的全场干涉显微成像的系统（20）。所述系统包括： - 干涉装置（200），包括其上布置有反射表面（205）的参考臂，所述干涉装置适于在将样品放置在目标臂上时在成像场的每个点处产生通过将入射光波反射到对应于成像场的所述点的反射表面（205）的基本表面上获得的参考波之间的干扰以及通过入射光波的后向散射获得的目标波在给定深度处的样本片的体素的装置，所述体素对应于成像场的所述点; - 适于以目标臂和参考臂之间的固定路径长度差获取由在成像场的每个点产生的干扰产生的N个二维干涉测量信号的时间序列的采集装置（208）以及 - 被配置为计算表示所述N个二维干涉信号之间的强度的时间变化的图像（IB，IC）的处理单元（220）。

6. 发明申请

WO2003006940A1 DISPOSITIF D'ANALYSE D'UN FRONT D'ONDE A RESOLUTION AMELIOREE 审中-公开
标题翻译：用于分析增强分辨率的WAVEFRONT的设备
公开(公告)号：WO2003006940A1
公开(公告)日：2003-01-23
申请号：PCT/FR2002/002495
申请日：2002-07-12
申请人： IMAGINE OPTIC , LEVECQ, Xavier, Jean-François , HARMS, Fabrice
发明人： LEVECQ, Xavier, Jean-François , HARMS, Fabrice
IPC分类号： G01J9/00
CPC分类号： G01J9/00
摘要： Dispositif d'analyse d'un front d'onde à résolution améliorée. L'invention concerne un dispositif d'analyse d'un front d'onde, de type Hartmann ou Shack-Hartmann, comprenant notamment un ensemble d'éléments d'échantillonnage agencés dans un plan d'analyse, et formant autant de sous-pupilles permettant l'échantillonnage du front d'onde incident, et un plan de diffraction dans lequel sont analysées les taches de diffraction des différentes sous-pupilles éclairées par le front d'onde incident. Selon l'invention, la forme de chaque sous-pupille est telle que la figure de diffraction associée présente dans le plan de diffraction un ou plusieurs axes privilégiés, et les sous-pupilles sont orientées dans le plan d'analyse de telle sorte que le ou les axes privilégiés de la figure de diffraction d'une sous-pupille sont décalés par rapport aux axes privilégiés des figures de diffraction des sous-pupilles voisines, permettant ainsi de limiter le chevauchement des figures de diffraction.
摘要翻译：本发明涉及用于分析具有增强分辨率的波前分析装置。 Hartmann或Shack-Hartmann型的本发明的波前分析装置特别包括布置在分析平面中的一组采样元件，并且形成用于对入射波前进行采样的多个微透镜，以及衍射平面，其中分析了由入射波前照射的不同微透镜的透气光盘。本发明的特征在于，每个微透镜的形状使得相关联的衍射图在衍射平面中具有一个或多个优先斧，并且微透镜在分析平面中定向，使得优选的轴微透镜的衍射图的相对于相邻微透镜的衍射图的优先轴偏移，从而能够限制衍射图的重叠。

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