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    • 1. 发明申请
    • SENSOR ZUR VERMESSUNG DER OBERFLÄCHE EINES OBJEKTS
    • 传感器的物体的测量表面
    • WO2005121699A1
    • 2005-12-22
    • PCT/EP2005/006300
    • 2005-06-13
    • ISRA VISION SYSTEMS AGERSÜ, EnisLAMBERT, Georg
    • ERSÜ, EnisLAMBERT, Georg
    • G01B11/25
    • G01B11/25
    • Die Erfindung betrifft einen Sensor zur Vermessung der Oberfläche eines Ob­jekts mit einer Kontrastierungseinheit (3) zur Projektion eines Musters auf die Oberfläche des Objekts sowie einer Kamera (4) zur Aufnahme des auf die Ober­fläche des Objekts projizierten Musters, wobei die Kontrastierungseinheit (3) einen LED-Projektor (5) aufweist. Um eine hohe Genauigkeit und Robustheit zu erreichen, sind die Kamera (4) und der LED-Projektor (5) in Längsanordnung angeordnet. Ferner sind der Kamera (4) und dem LED-Projektor (5) jeweils Um­lenkspiegel (8, 11) zugeordnet, welche an den in Längsrichtung des Sensors (1) entgegengesetzten Enden des Gehäuses (2) des Sensors (1) angeordnet sind.
    • 本发明涉及一种传感器,用于测量一个物体的表面与Kontrastierungseinheit(3)伸出的,用于接收所述投射在物体上的图案的表面,所述Kontrastierungseinheit(3)所述对象的表面上的图案和照相机(4) 具有LED投影仪(5)。 为了达到较高的精度和鲁棒性,照相机(4)和LED投影仪(5)被设置在纵向排列。 此外,照相机(4)和LED投影仪(5)每个反射镜(8,11)相关联,所述外壳的该相对的传感器(1)的长度方向端部(2)的传感器(1)的布置。
    • 3. 发明申请
    • VERFAHREN ZUR PLANUNG EINER INSPEKTIONSBAHN UND ZUR BESTIMMUNG VON ZU INSPIZIERENDEN BEREICHEN
    • 规划检查铁路和地区的检验方法进行检查
    • WO2005090951A1
    • 2005-09-29
    • PCT/EP2005/001311
    • 2005-02-10
    • ISRA VISION SYSTEMS AGERSÜ, EnisWIENAND, Stephan
    • ERSÜ, EnisWIENAND, Stephan
    • G01N21/95
    • G01N21/9515G05B2219/37208G05B2219/37441G05B2219/37563
    • Es wird ein Verfahren zur Planung einer Inspektionsbahn (2) für mindestens ei­ne optische Aufnahmeeinrichtung (4), insbesondere eine Kamera, zur Inspektion eines dreidimensionalen Objekts (3) beschrieben, bei dem die Aufnahmeeinrich­tung (4) und das Objekt (3) mittels einer Bewegungseinrichtung (5, 6) relativ zu­einander bewegbar sind. Damit das Verfahren zur Planung von Inspektionsbah­nen und zur Bestimmung von zu inspizierenden Bereichen einfach zu handha­ben ist und zuverlässig alle zu inspizierenden Bereiche abdeckt, ist vorgesehen, dass aus den Konstruktionsdaten (8), insbesondere CAD-Daten und/oder sen­sorisch ermittelten Daten, des Objekts (3) und/oder eines zu inspizierenden Be­reichs (12) auf dem Objekt und den optischen Abbildungseigenschaften der Aufnahmeeinrichtung (4), welche in elektronischer Form abgespeichert sind, die Inspektionsbahn (2) für die optische Aufnahmeeinrichtung (4) mittels einer Re­cheneinheit (10) selbsttätig ermittelt wird, indem eine bestimmte geometrische Relation zwischen der Aufnahmeeinrichtung (4) und der zu inspizierenden Ober­fläche vorgegeben wird.
    • 中描述了一种方法,用于规划检查条带(2),用于至少一个光接收装置(4),特别是照相机,用于检测三维物体(3),其中所述接收装置(4)和所述对象(3)通过移动装置的装置 (5,6)相对于彼此可移动的。 因此,要被检查为规划检查轨道和用于区域确定的处理是易于处理和可靠的覆盖所有区域将被检查,它提供了从设计数据(8),特别是CAD数据和/或传感器确定的数据,该对象 (3)和/或(2)的光学拾取装置(4)(通过计算单元10来检查的区域(12)的对象,并且被存储在电子表格中的接收装置(4)的光学成像特性,检查路径上 )由接收装置(4)和待检查被设定的表面之间的特定几何关系自动确定。
    • 4. 发明申请
    • VERFAHREN ZUR KALIBRIERUNG EINES MESSSYSTEMS
    • 方法校准测量系统
    • WO2006087123A1
    • 2006-08-24
    • PCT/EP2006/001084
    • 2006-02-08
    • ISRA VISION SYSTEMS AGERSÜ, Enis
    • ERSÜ, Enis
    • G01B11/00G06T7/00
    • G01B11/002G06T7/73G06T7/80G06T2207/30244
    • Es wird ein Verfahren zur Kalibrierung eines auf einer Kamera (4) basierenden Messsystems (1) zur Bestimmung der Lage eines Objekts (2) in einem dreidimensionalen Bezugskoordinatensystem (3) beschrieben, bei dem die äußeren und inneren Kameraparameter in verschiedenen Schritten kalibriert werden und die Position (6) der Kamera (4) mit externen Messmitteln bestimmt wird. Um den Verfahrensablauf der Kalibrierung zu optimieren, läuft das Verfahren in mindestens drei Verfahrensschritten ab, wobei in einem ersten Verfahrensschritt die inneren Kameraparameter einer bestimmten Kamera (4) ermittelt und dieser Kamera (4) fest zugeordnet werden, in einem zweiten Verfahrensschritt die Position (6) der in dem Messsystem (1) montierten Kamera (4) bestimmt wird und in einem dritten Verfahrensschritt die Orientierung (7) der Kamera (4) im dreidimensionalen Bezugskoordinatensystem (3) durch Auswertung von Kamerabildern ermittelt wird.
    • 中描述了一种方法,用于(1)一种用于在三维参考确定对象(2)的坐标系的位置(3),其中,所述外部和内部照相机参数在不同的步骤和经校准的相机上校准(4)基于测量系统 位置(6)的摄像头(4),使用外部测量装置确定。 为了优化校准,该方法的处理顺序,位置在至少三个步骤中运行从,在第一方法步骤中被确定,特定摄像机(4)和摄像机(4)的内部相机参数被固定地相关联的,在第二工艺步骤(6 )的(在测量系统的1)安装的摄像机(4)被确定,并且在第三处理步骤中,取向(7)的照相机(4)在所述三维基准(3)通过评估摄像机图像确定坐标系。
    • 6. 发明申请
    • VERFAHREN UND SYSTEM ZUR OPTISCHEN INSPEKTION EINER PERIODISCHEN STRUKTUR
    • 方法和系统的周期结构光学检测
    • WO2007079934A2
    • 2007-07-19
    • PCT/EP2006/012233
    • 2006-12-19
    • ISRA VISION AGERSÜ, EnisLAUX, Wolfram
    • ERSÜ, EnisLAUX, Wolfram
    • G06T7/00
    • G01N21/95607G01N2021/9513G06K9/525G06T7/0002G06T7/0004G06T7/001G06T2207/30121
    • Es werden ein Verfahren und ein System zur Inspektion einer periodischen Struktur (1) durch einen optischen Bildaufnehmer mit einer Pixelstruktur (2) beschrieben, dessen aufgenommenes Bild (6) mit einem fehlerfreien Referenzbild (4) der periodischen Struktur (1) verglichen wird. Um die Fehler mit einfachen Mitteln zuverlässig erkennen zu können, wird in dem Referenzbild (4) an mindestens einer Position (X, Y) die Phasenlage (Phase X, Phase Y) der periodischen Struktur (1) zu der Pixelstruktur (2) des optischen Bildaufnehmers ermittelt. Das aufgenommene Bild (6) wird in Inspektionsbereiche (7) eingeteilt und für jeden Inspektionsbereich (7) wird die Phasenlage (Phase X, Phase Y) der periodischen Struktur (1) zu der Pixelstruktur (2) des optischen Bildaufnehmers ermittelt. Für den Vergleich eines Inspektionsbereichs (7) mit dem Referenzbild (4) wird dann ein Referenzbildbereich (8) ausgewählt, dessen Phasenlage (Phase X, Phase Y) mit dem Inspektionsbereich (7) korrespondiert.
    • 将描述一种方法和用于进行比较用的像素结构(2),所拍摄的图像(6)与所述周期性结构(1)的无故障的参考图像(4)通过的光学图像传感器检测的周期性结构(1)的系统。 为了检测错误用简单的装置可靠,是参考图像(4)中的至少一个位置的周期性结构(1)的相位位置(X,Y)(相X,Y相)的像素结构(2)的光的 成像器来确定。 所捕获的图像(6)被分成服务区(7)和用于每个检查区域(7),所述周期性结构(1)的相位角(相X,Y相),以确定所述光学图像接收器的像素结构(2)。 对于一个检查区域(7)的与所述参考图像的比较(4)被选中,那么参考图像区域(8),其相位角(相X,Y相)对应于所述检查区域(7)。
    • 7. 发明申请
    • VERFAHREN UND SYSTEM ZUR INSPEKTION VON OBERFLÄCHEN
    • 方法和系统检查曲面的
    • WO2005090950A1
    • 2005-09-29
    • PCT/EP2005/001310
    • 2005-02-10
    • ISRA VISION SYSTEMS AGERSÜ, EnisAMELUNG, Jörg
    • ERSÜ, EnisAMELUNG, Jörg
    • G01N21/95
    • G01N21/9515G01N2021/8825
    • Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Inspektion von Oberflächen eines dreidimensionalen Körpers (2), bei dem mindestens eine Kamera und mindestens eine Beleuchtungseinrichtung relativ zu der Oberfläche bewegt wer­den und während der Relativbewegung der Kamera zu der Oberfläche Bilder der zu inspizierenden Bereiche der Oberfläche aufgenommen, an einen Rech­ner (11) übertragen und dort ausgewertet werden, sowie ein entsprechendes System. Um eine hohe Qualität der Inspektion zu erreichen, werden die Kame­ra, die Beleuchtungseinrichtung und die Oberfläche während der Inspektion für jeden zu inspizierenden Bereich der Oberfläche zumindest für die Zeitdauer ei­ner Aufnahme in mindestens eine definierte geometrische Relation zueinander gebracht.
    • 本发明涉及一种用于三维体(2),的表面的检查的方法,其中所述至少一个摄像机和至少一个照明设备被相对于该表面移动,并添加到区域的表面的图像中要被检查的摄像机的相对运动的表面 被传输到计算机(11)并评价那里,相应的系统。 为了实现对每个区域中的检查时的检查的高品质,相机,照明装置和表面待检查表面的向至少在至少对于彼此确定的几何关系被带到用于记录的持续时间。