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    • 1. 发明申请
    • MÉTHODE ET APPAREIL DE CARACTÉRISATION OPTIQUE DU DOPAGE D'UN SUBSTRAT
    • 用于光学表征基板的方法和装置
    • WO2007144514A1
    • 2007-12-21
    • PCT/FR2007/000992
    • 2007-06-14
    • ION BEAM SERVICESTORREGROSA FrankROUX Laurent
    • TORREGROSA FrankROUX Laurent
    • G01N21/95H01L21/66
    • G01N21/9501G01N21/55G01N2021/215
    • L'invention concerne une méthode de caractérisation optique comprenant une étape d'évaluation du dopage d'un substrat (SUB) au moyen d'un faisceau réfléchi Issu d'une source lumineuse, cette méthode étant mise en oeuvre avec un appareil comportant : - cette source lumineuse (LAS) pour produire un faisceau Incident (I) selon un axe d'Incidence, - un premier détecteur (DET1 DET1 ) pour mesurer la puissance de ce faisceau réfléchi (R) selon un axe de réflexion, - les axes d'incidence et de réflexion se croisant en un point de mesure et formant un angle de mesure (2Θ) non nul, - un polariseur (POL) disposé sur le trajet du faisceau Incident (I); De plus, la source lumineuse (LAS) est monochromatique. L'invention vise également un implanteur Ionique équipé de cet appareil.
    • 本发明涉及一种光学表征方法,其包括借助于来自光源的反射光束来评估衬底(SUB)的掺杂的步骤,该方法使用以下装置进行: - 该光源(LAS ),用于沿着入射轴产生入射光束(I); - 用于沿着反射轴测量该反射光束(R)的功率的第一检测器(DET1),入射轴线和测量点处的反射轴线,并且产生非零测量角度(2T); 以及 - 放置在入射光束(I)的路径中的偏振器(POL)。 此外,光源(LAS)是单色的。 本发明还涉及配备有该装置的离子注入机。