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1. 发明申请

WO2008135586A3 UNIQUE SECURITY DEVICE FOR THE IDENTIFICATION OR AUTHENTICATION OF VALUABLE GOODS, FABRICATION PROCESS AND METHOD FOR SECURING VALUABLE GOODS USING SUCH A UNIQUE SECURITY DEVICE 审中-公开
公开(公告)号：WO2008135586A3
公开(公告)日：2008-11-13
申请号：PCT/EP2008/055606
申请日：2008-05-07
申请人： CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA Recherche et Développement , BLONDIAUX, Nicolas , HASLER, David , PUGIN, Raphaël , FRANZI, Edoardo
发明人： BLONDIAUX, Nicolas , HASLER, David , PUGIN, Raphaël , FRANZI, Edoardo
IPC分类号： B42D15/10 , G06K9/00
摘要： A security device for the identification or authentication of valuable goods is described, comprising a thin material layer (22, 26) presenting a stochastic pattern comprising micro/submicrostructures, where the latter are arranged in blobs (2) each of which presents a complexity factor (formula (I)), where L is the perimeter of the blob and A its area, and wherein blobs having a Cx value greater than or equal to 2 cover at least 5%, preferably at least 15%,of the device surface. According to a preferred embodiment, the material layer may include a film comprising at least a first and a second polymers arranged respectively within a first and a second phases defining the micro/submicrostructures. Preferred processes of fabrication are also disclosed, as well as a method for securing a valuable good based on such a security device.

2. 发明申请

WO2012007561A2 MEASUREMENT SYSTEM OF A LIGHT SOURCE IN SPACE 审中-公开
标题翻译：空间光源的测量系统
公开(公告)号：WO2012007561A2
公开(公告)日：2012-01-19
申请号：PCT/EP2011/062104
申请日：2011-07-14
申请人： CSEM CENTRE SUISSE D'ELECTRONIQUE ET DE MICROTECHNIQUE SA - RECHERCHE ET DÉVELOPPEMENT , MASA, Peter , FRANZI, Edoardo , HASLER, David , GRENET, Eric
发明人： MASA, Peter , FRANZI, Edoardo , HASLER, David , GRENET, Eric
IPC分类号： G01D5/34
CPC分类号： G01B11/14 , G01C3/085 , G01D5/34 , G01D5/38 , G01S1/70 , G01S3/781 , G01S3/7835
摘要： The present invention discloses a system that measures the position of a light source in space using an imager and transparent surface with a pattern on top. The pattern consists of a repetitive pattern and a distinctive element. The system achieves sub-micron precision. It also handles the measurement of several light sources simultaneously, and the measurement of the position of a retroreflector instead of the light.
摘要翻译：本发明公开了一种使用成像器和顶部具有图案的透明表面来测量空间中光源的位置的系统。该模式由重复模式和独特元素组成。该系统达到亚微米精度。它还可同时处理多个光源的测量，以及测量反光镜的位置而不是光线。

3. 发明申请

WO2010130801A1 DISPOSITIF ET METHODE DE MESURE DE POSITION ANGULAIRE ABSOLUE 审中-公开
标题翻译：用于测量绝对角度位置的装置和方法
公开(公告)号：WO2010130801A1
公开(公告)日：2010-11-18
申请号：PCT/EP2010/056585
申请日：2010-05-12
申请人： CSEM CENTRE SUISSE D'ELECTRONIQUE ET DE MICROTECHNIQUE SA RECHERCHE ET DÉVELOPPEMENT , MASA, Peter , HEIM, Pascal , HASLER, David , FRANZI, Edoardo
发明人： MASA, Peter , HEIM, Pascal , HASLER, David , FRANZI, Edoardo
IPC分类号： G01D5/347
CPC分类号： G01D5/3473 , G01D5/34776
摘要： La présente invention concerne un capteur rotatif optique de mesure de position angulaire absolue destiné à être utilisé en combinaison avec des moteurs miniatures tournant à des vitesses de plusieurs centaines de milliers de tours/minute. La plupart des capteurs de position rotatifs actuels utilisent un disque fixé au rotor, sur lequel est marqué un code, ainsi qu'un capteur qui lit la valeur du code à un ou plusieurs endroits particuliers du disque. Contrairement à ces capteurs, le système proposé utilise la totalité du marquage du disque pour le calcul de la position absolue. Cette particularité confère à l'invention plusieurs avantages, dont certains sont cumulables : •dimension très faible du capteur, •possibilité d'atteindre des vitesses de rotation de l'ordre de 600'000 tours/min, •augmentation de la résolution par interpolation si le flou de mouvement est négligeable, c'est-à-dire à des vitesses de rotation réduites (max 20'000 tours/min), •compensation automatique du décentrage de l'axe, •calibration adaptative en fonction de la non-uniformité de l'éclairage et du fixed-pattern du capteur d'image.
摘要翻译：光学旋转传感器技术领域本发明涉及一种光学旋转传感器，用于测量与以几十万RPM的速度运行的微型电动机结合使用的绝对角度位置。大多数当前的旋转位置传感器使用附接到转子上的盘，其上标记有代码，以及传感器，其读取盘的一个或多个特定位置处的代码值。与所述传感器不同，本发明的系统使用盘的所有标记来计算绝对位置。所述具体特征赋予本发明的若干优点，其中许多是累积的：传感器的尺寸非常小; 实现转速约60万RPM的可能性; 如果运动模糊可忽略，即在低转速（最大20,000RPM）下，通过插值增加分辨率; 轴的偏心自动补偿; 基于照明的不均匀性和图像传感器的固定图案的自适应校准。

4. 发明申请

WO2015185100A1 CALIBRATION DEVICE 审中-公开
标题翻译：校准装置
公开(公告)号：WO2015185100A1
公开(公告)日：2015-12-10
申请号：PCT/EP2014/061395
申请日：2014-06-02
申请人： DIAMED GMBH , CSEM CENTRE SUISSE D'ELECTRONIQUE ET DE MICROTECHNIQUE SA - RECHERCHE ET DÉVELOPPEMENT
发明人： MEIER, Germano , PUGIN, Raphaël , HASLER, David , SCOLAN, Emmanuel
IPC分类号： G01N21/27 , G01N35/00 , G01N35/04 , G01N1/28 , G01N33/80
CPC分类号： G01N21/278 , A61B5/0059 , A61B2560/0223 , G01N35/00623 , G01N2001/2893 , G01N2035/0412 , G06T7/80 , H04N1/6033 , H04N17/002
摘要： A method for manufacturing a calibration device (7) for a diagnostic device (10), the diagnostic device (10) comprising a digital imaging device (2) arranged to record an image of at least one sample container (17) containing at least one biological sample (1). According to the invention, the method comprises the steps of: - digitally imaging said at least one sample container, thus obtaining a first image (3); - processing the first image (3), thus obtaining a second image (4); - printing a representation of the second image (4) onto a substrate (11) by means of a printing method, thus obtaining the calibration device (7), wherein said processing of the first image (3) comprises applying at least one transfer function (f) to the first image (3). The invention further relates to a corresponding calibration device (7), and a method of calibrating a diagnostic device (10) by means of the calibration device (7)
摘要翻译：一种用于制造用于诊断装置（10）的校准装置（7）的方法，所述诊断装置（10）包括数字成像装置（2），其被配置为记录至少一个样本容器（17）的图像，所述样本容器包含至少一个生物样品（1）。根据本发明，该方法包括以下步骤： - 对所述至少一个样本容器进行数字成像，从而获得第一图像（3）; - 处理所述第一图像（3），从而获得第二图像（4）; - 通过印刷方法将第二图像（4）的表示印刷到基底（11）上，从而获得校准装置（7），其中所述第一图像（3）的处理包括施加至少一个传递函数（f）到第一图像（3）。本发明还涉及相应的校准装置（7），以及通过校准装置（7）校准诊断装置（10）的方法，

5. 发明申请

WO2010112082A1 A ONE-DIMENSION POSITION ENCODER 审中-公开
标题翻译：一维位置编码器
公开(公告)号：WO2010112082A1
公开(公告)日：2010-10-07
申请号：PCT/EP2009/054021
申请日：2009-04-03
申请人： CSEM CENTRE SUISSE D'ELECTRONIQUE ET DE MICROTECHNIQUE SA RECHERCHE ET DEVELOPPEMENT , HASLER, David , MASA, Peter , HEIM, Pascal , FRANZI, Edoardo
发明人： HASLER, David , MASA, Peter , HEIM, Pascal , FRANZI, Edoardo
IPC分类号： G01D5/244 , G01D5/249 , G01D5/347 , H03M1/28
CPC分类号： G01D5/34746 , G01D5/24438 , G01D5/24452 , G01D5/24476 , G01D5/2449 , G01D5/2495 , G01D5/34792 , H03M1/0678 , H03M1/202 , H03M1/282
摘要： The present invention discloses a one-dimension position measurement system comprising: a first ruler, on which a first one-dimension binary code s i is applied, a camera for acquiring a picture of a portion of said code s i , said portion having a length of I bits, and some processing means. Each codeword of length I of the one-dimension code si is unique within the whole code s i . A codeword a i is read from said acquired picture of said portion of code s i , and the processing means are implemented for computing an absolute position p of said codeword a i of said code s i from: (I). An ad-hoc interpolation method is used to obtain a precision way below the distance between two bits of the codewords. The code s i may be applied on the ruler by using some geometric primitives, a geometric primitive for encoding a "1" being different from a geometric primitive for encoding a "0", both having the same horizontal projection. The horizontal projection is then used for fine interpolation, achieving nanometre-scale resolution.
摘要翻译：本发明公开了一种一维位置测量系统，包括：第一标尺，其上施加第一一维二进制码si，用于获取所述代码si的一部分的图片的照相机，所述部分具有我的位和一些处理手段。一维码si的长度为I的每个码字在整个码si内是唯一的。从代码si的所述部分的所述获取的图像中读取码字ai，并且实现处理装置，以从：（I）计算所述码si的所述码字ai的绝对位置p。使用自组织插值方法来获得低于码字的两位之间的距离的精确方式。代码si可以通过使用一些几何图元应用于标尺上，几何图元用于编码“1”与用于编码“0”的几何基元不同的几何图元，两者具有相同的水平投影。然后将水平投影用于精细插值，实现纳米级分辨率。

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