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    • 7. 发明申请
    • DISPOSITIF DE DÉTECTION BISPECTRALE ET DÉTECTEUR BISPECTRAL COMPORTANT UN TEL DISPOSITIF
    • 双向检测装置和双向检测器,包括这样的器件
    • WO2009013418A1
    • 2009-01-29
    • PCT/FR2008/051128
    • 2008-06-23
    • COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUEOUVRIER-BUFFET, Jean-Louis
    • OUVRIER-BUFFET, Jean-Louis
    • G01J5/20
    • G01J5/20G01J3/02G01J3/0208G01J3/0259G01J3/36G01J5/08G01J5/0806G01J5/0862
    • La présente invention concerne un dispositif de détection bispectrale (20; 80), notamment d'un rayonnement infrarouge et d'un rayonnement visible, comprenant : " un substrat monolithique (21); " une matrice de microponts bo Io métriques (23, 24) sensibles au rayonnement infrarouge, les microponts bolométriques (23, 24) étant suspendus au dessus d'une première face (45) du substrat par l'intermédiaire de bras de support et de connexion (31, 32); et " une matrice d'éléments photoélectriques (39, 40) formés dans le substrat (21) et sensibles au rayonnement visible, les microponts bolométriques (23, 24) et les éléments photoélectriques (39, 40) étant superposés, Selon l'invention, la portion de substrat (43) comprise entre la matrice d'éléments photoélectriques (39, 40) et une seconde face (44) du substrat, opposée à la première face (45) de celui-ci, est amincie de sorte que les éléments photoélectriques (39, 40) sont aptes à détecter un rayonnement visible incident sur la seconde face (44).
    • 本发明涉及一种特别是用于红外辐射和可见光辐射的双谱探测装置(20; 80),其包括:固态衬底(21); 通过轴承和连接臂(31,32)悬浮在衬底的第一面(45)上方的测温微桥(23,24);一个对红外辐射敏感的测温微桥矩阵(23,24); 以及形成在所述基板(21)中并对可见光辐射敏感的光电元件(39,40)的矩阵,所述测温微桥(23,24)和所述光电元件(39,40)重叠。 根据本发明,包括在光电元件(39,40)之间的基板(43)和与其第一面(45)相对的基板的第二面(44)的部分被制成更薄,使得光电元件 39,40)能够检测第二面(44)上的可见辐射的入射。