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    • 2. 发明申请
    • SENSOR ZUR STRAHLUNGSENERGIEBESTIMMUNG UND VERWENDUNG HIERFÜR
    • 传感器辐射能量确定及其用途
    • WO2003005128A1
    • 2003-01-16
    • PCT/EP2002/007252
    • 2002-07-02
    • CARL ZEISS SEMICONDUCTOR MANUFACTURING TECHNOLOGIES AGFIOLKA, Damian
    • FIOLKA, Damian
    • G03F7/20
    • G03F7/70558G01J1/48Y10T436/206664
    • Die Erfindung bezieht sich auf einen Sensor zur Bestimmung der Energie von Strahlung eines Typs, der zur Umwandlung von Sauerstoff in Ozon fähig ist, und auf eine Verwendung eines solchen Sensors. Erfindungsgemäss beinhaltet der Sensor eine von der Strahlung durchstrahlbare Messkammer (1) mit einem Gaseinlass (4) und einem Gasauslass (6), Mittel (8) zur Zuführung eines sauerstoffhaltigen Gases (9) in die Messkammer über den Gaseinlass und zur Gasabführung über den Gasauslass, ein Ozonsensorelement (10) zur Messung des Ozongehaltes des in Messkammer befindlichen oder des über den Gasauslass abgeführten Gases (9a) und Auswertemittel (12) zur Bestimmung der Strahlungsenergie aus dem gemessenen Ozongehalt. Der Sensor ist z.B. zur Strahlungsenergiebestimmung in einem mit der Strahlung arbeitenden optischen Abbildungssystem verwendbar. Verwendung z.B. in Mikrolithographie-Projektionsbelichtungssystemen.
    • 本发明涉及一种传感器,用于确定一种类型,它能够转化成氧气的臭氧的辐射的能量,以及在使用这样的传感器。 根据本发明,包括:所述传感器包括一个可穿透的由辐射测量室(1)具有进气口(4)和气体出口(6),装置(8),用于供给含氧气体(9)经由气体入口和所述气体排出通过气体出口测量室 ,用于通过从所述测得的臭氧浓度来确定辐射能量的气体出口(9a)和评估装置(12)测量所述包含在所述测量腔室或排放气体的臭氧浓度的臭氧传感器元件(10)。 该传感器例如 辐射能量的与放射线成像光学系统的操作的判定是有用的。 例如使用 在微光刻投射曝光系统。
    • 5. 发明申请
    • OPTICAL SYSTEM, IN PARTICULAR ILLUMINATION DEVICE OR PROJECTION OBJECTIVE OF A MICROLITHOGRAPHIC PROJECTION EXPOSURE APPARATUS
    • 光学系统,特别是照明设备或投影微波投影曝光装置的目标
    • WO2008119794A1
    • 2008-10-09
    • PCT/EP2008/053847
    • 2008-03-31
    • CARL ZEISS SMT AGTOTZECK, MichaelGRUNER, ToralfFIOLKA, Damian
    • TOTZECK, MichaelGRUNER, ToralfFIOLKA, Damian
    • G03F7/20
    • G03F7/70566
    • The invention relates to an optical system, in particular an illumination device or a projection objective of a microlithographic projection exposure apparatus, comprising a polarization compensator (100, 200, 300, 400, 800, 900), which has at least one polarization-modifying partial element (110-140, 210-240, 310-340, 410-440, 810-840, 910-940), and a manipulator (150, 250, 722, 851-854, 951a-954a, 951b-954b), by means of which the position of the at least one partial element can be altered, wherein, in the optical system, at least one operating mode (501-504) can be set in which the intensity, over a region which belongs to a plane perpendicular to the optical axis (OA) and which can be illuminated with light from said light source, does not exceed 20% of the maximum intensity in said plane, and wherein the manipulator (150, 250, 722, 851-854, 951a-954a, 951b-954b) is arranged in said region.
    • 本发明涉及光学系统,特别是微光刻投影曝光装置的照明装置或投影物镜,该光学装置或投影物镜包括极化补偿器(100,200,300,400,800,900),其具有至少一个偏振修正 部分元件(110-140,210-240,310-340,410-440,810-840,910-940)和操纵器(150,250,722,851-854,951a-954a,951b-954b) ,借助于此可以改变至少一个部分元件的位置,其中在光学系统中,可以设置至少一个操作模式(501-504),其中强度在属于 垂直于光轴(OA)的并且可以用来自所述光源的光照射的平面不超过所述平面中最大强度的20%,并且其中所述操纵器(150,250,722,851-854,951a -954a,951b-954b)布置在所述区域中。
    • 8. 发明申请
    • BELEUCHTUNGSOPTIK MIT EINEM BEWEGLICHEN FILTERELEMENT
    • 与移动过滤元件照明光学
    • WO2012038112A1
    • 2012-03-29
    • PCT/EP2011/061631
    • 2011-07-08
    • CARL ZEISS SMT GMBHLAYH, MichaelFIOLKA, DamianHARTJES, Joachim
    • LAYH, MichaelFIOLKA, DamianHARTJES, Joachim
    • G03F7/20
    • F21V9/10F21V9/40G03F7/70083G03F7/70158G03F7/70191G03F7/70833G03F7/70891
    • Die Erfindung betrifft eine Beleuchtungsoptik, zur Ausleuchtung eines Objektfeldes mit Strahlung einer ersten Wellenlänge. Dabei umfasst die Beleuchtungsoptik ein Filterelement zur Unterdrückung von Strahlung mit einer zweiten Wellenlänge. Das Filterelement mindestens eine obskurierend wirkende Komponente, so dass sich während des Betriebs der Beleuchtungsoptik aufgrund der obskurierend wirkenden Komponente mindestens einen Bereich (469, 471) reduzierter Intensität von Strahlung mit der ersten Wellenlänge auf einem in Lichtrichtung nach dem Filterelement angeordneten ersten optischen Element (407) der Beleuchtungsoptik ergeben. Hierbei kann das Filterelement eine Mehrzahl von Positionen einnehmen, die zu unterschiedlichen Bereichen (469, 471) reduzierter Intensität fuhren, wobei es zu jedem Punkt auf einer optischen Nutzfläche (441) des ersten optischen Elements (407) mindestens eine Position gibt, so dass der Punkt nicht in einem Bereich (469, 471) reduzierter Intensität liegt.
    • 本发明涉及的照明光学部件用于与第一波长的辐射照明物场。 照明光学系统包括:用于在第二波长抑制辐射的过滤元件。 该过滤器元件的至少一个obskurierend作用的组分,以使至少一个减少的辐射(的强度的照明光学部件的操作过程中,由于具有在过滤器元件的第一光学元件的布置在光方向的下游侧的第一波长的obskurierend作用的组分部分(469,471)407 )照明光学产率。 在这里,过滤器元件可以假设的减小的强度引线多个在不同的区域的位置的(469,471),其中,存在于在所述第一光学元件(407)的至少一个位置的光的区域(441)的任何位置,从而使 的区域(469,471)的减小的强度是不指向。
    • 10. 发明申请
    • OPTICAL ASSEMBLY
    • 光学装置
    • WO2010108612A1
    • 2010-09-30
    • PCT/EP2010/001604
    • 2010-03-13
    • CARL ZEISS SMT AGFIOLKA, DamianCLAUSS, Wilfried
    • FIOLKA, DamianCLAUSS, Wilfried
    • G02B5/08G03F7/20
    • G03F7/70891G02B17/0892G02B26/0816
    • An optical assembly (29) has at least one mirror (24) with a mirror body (26). The latter is carried by a support body (30), which has a first support body portion (31) and a second support body portion (32). An at least thermally separating region (33) is arranged between the two support body portions (31, 32). At least one surface portion (38, 41) of at least one of the support body portions (31, 32) or of a body thermally coupled thereto is modified in such a way that a thermal emission coefficient εm of the modi- fied surface portion (38, 41) differs from a thermal emission coefficient εu of the unmodified surface portion by at least 10 %. The result is an optical assembly, in which an improved thermal stability is achieved by the prede¬ termining of the thermal emission coefficients.
    • 光学组件(29)具有至少一个具有镜体(26)的反射镜(24)。 后者由具有第一支撑体部分(31)和第二支撑体部分(32)的支撑体(30)承载。 至少热分离区域(33)布置在两个支撑体部分(31,32)之间。 支撑主体部分(31,32)中的至少一个或与其热耦合的主体的至少一个表面部分(38,41)被修改为使得修改的表面部分的热发射系数em (38,41)与未改性表面部分的热发射系数eu不同至少10%。 结果是光学组件,其中通过预先确定热发射系数来实现改进的热稳定性。