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    • 3. 发明申请
    • 信号品質測定装置、スペクトラム測定回路、プログラム
    • 信号质量测量设备,光谱测量电路和程序
    • WO2008081713A1
    • 2008-07-10
    • PCT/JP2007/074329
    • 2007-12-18
    • 日本電気株式会社野瀬 浩一水野 正之
    • 野瀬 浩一水野 正之
    • G01R19/00G01R23/16
    • H04B17/318G01R23/16H04B17/15
    •  本発明の信号品質測定装置において、スペクトラム測定回路(101)は、位相変調量の設定が切り替えられる度に、クロック信号の位相を当該位相変調量だけずらした位相変調信号を出力するN(Nは2以上の整数)相クロック発生回路(304)と、送信器から出力された被測定信号とN相クロック発生回路(304)から出力された位相変調信号との積をとるミキサ回路(303)と、ミキサ回路(303)の出力信号の平均電圧値を出力する平均値出力回路(305)と、N相クロック発生回路(304)の位相変調量ごとに、平均値出力回路(305)から出力される平均電圧値を格納するメモリ(307)と、メモリ(307)に格納された、N相クロック発生回路(304)の位相変調量ごとの平均電圧値を用いて、被測定信号の信号強度を演算する演算器(308)と、を有する。
    • 在信号质量测量装置中,频谱测量电路(101)包括:N(N是不小于2的整数)相位时钟产生电路(304),其输出时钟信号相位偏移的相位调制信号 每当切换量设定时,根据相位调制量; 混频器电路(303),其获得从发射机输出的乘以与从N相时钟发生电路(304)输出的相位调制信号相乘的乘积的乘积; 平均值输出电路(305),输出混频电路(303)的输出信号的平均电压值; 存储器(307),其存储从平均值输出电路(305)输出的平均电压值,用于N相时钟产生电路(304)的每个相位调制量; 以及计算器(308),其通过使用存储在存储器(307)中的N相时钟生成电路(304)的每个相位调制量的平均电压值来计算要被测量的信号的信号强度 )。
    • 4. 发明申请
    • クロック生成回路、及びクロック生成方法
    • 时钟发生电路和时钟发生方法
    • WO2006030905A1
    • 2006-03-23
    • PCT/JP2005/017166
    • 2005-09-16
    • 日本電気株式会社野瀬 浩一水野 正之柴山 充文
    • 野瀬 浩一水野 正之柴山 充文
    • G06F1/06H03K5/00
    • H03K5/00006G06F1/06H03K5/13H03K5/1565H03K2005/00052H03L7/07H03L7/0814
    •  位相差1/(f×m)、周波数fのm相のクロックがクロック変換回路1に入力されると、位相差1/(f×n)、周波数fのn相のクロックに変換される。単相クロック生成回路2には、位相差に相当する時間が1/(f×n)、周波数fのn相のクロックが入力され、単相クロック生成回路2は各n相クロックの立ち上り又立ち下りに同期して単相クロックを生成する。クロック変換回路1に入力されるm相のクロックの周波数はfであるので、希望する単相クロックの周波数が決定すれば、単相クロックの周波数=(f×n)よりnを求めることができる。このnをクロック変換回路1に設定することにより、周波数fのm相クロックから周波数fのn相クロックを得て、希望の周波数の単相クロックを得ることができる。    
    • 时钟转换电路(1)接收并将具有1 /(f×m)相位差的频率f的m相时钟转换为相位差为1 /(f×m)的频率f的n相时钟 N)。 单相时钟发生电路(2)接收具有1 /(f×n)的相位差当量时间的频率f的n相时钟,以产生与相位差等效时间的上升沿或下降沿同步的单相时钟 n相时钟。 由于输入到时钟转换电路(1)的m相时钟的频率为“f”,所以如果确定了单相时钟的期望频率,则可以从以下等式获得“n”:频率 单相时钟等于(f×n)。 该值“n”被设置到时钟转换电路(1),从而从频率f的m相时钟获得频率f的n相时钟,以提供期望频率的单相时钟。
    • 6. 发明申请
    • 信号測定装置
    • 信号测量装置
    • WO2007037338A1
    • 2007-04-05
    • PCT/JP2006/319348
    • 2006-09-28
    • 日本電気株式会社野瀬 浩一水野 正之
    • 野瀬 浩一水野 正之
    • G01R29/02H03M1/08
    • G01R19/2509
    •  補間信号発生回路(101)は、連続する二つの離散信号(SIG)の補間信号(SIG 1 ~SIG N )を生成する。N個の測定回路(501)は、補間信号を測定する。補間信号が測定対象となるので、離散信号に対してもN倍のオーバーサンプリング測定が可能になる。オーバーサンプリング測定により、離散信号の信号成分の周波数スペクトルは維持され、量子化誤差などによる雑音成分の周波数スペクトルのみが高周波帯域まで増加し、単位周波数当たりの雑音成分が低減される。このため、低域透過フィルタ(502)を用いて測定回路の測定結果から高周波成分を除去することにより、オーバーサンプリングをしない場合に比べ、測定結果の信号雑音比を改善することができる。
    • 内插信号生成电路(101)生成连续两个离散信号(SIG)的内插信号(SIG< SUB>到SIG< N>)。 N个测量电路(501)测量插值信号。 由于内插信号是测量对象,所以离散信号也可以进行过采样测量乘以N.通过过采样测量,维持离散信号的信号分量的频谱,并且只有噪声的频谱 归因于量化误差的分量增加到高频带,从而降低每单位频率的噪声分量。 为此,通过使用低通滤波器(502)从测量电路的测量结果去除高频分量,与不进行过采样的情况相比,可以提高测量结果的信号噪声比。
    • 7. 发明申请
    • 信号測定装置
    • 信号测量装置
    • WO2007037314A1
    • 2007-04-05
    • PCT/JP2006/319278
    • 2006-09-28
    • 日本電気株式会社野瀬 浩一水野 正之
    • 野瀬 浩一水野 正之
    • G01R31/319H01L21/822H01L27/04
    • G01R31/31708
    •  小規模測定回路(111~1qm)が、m個ずつq列に分かれて配設されている。各列の小規模測定回路(111~11m,121~12m,1q1~1qm)はそれぞれ直列接続され、更に各列は並列接続されている。小規模測定回路(111~1qm)は、測定対象となる被測定信号Aと、基準信号Bとをそれぞれ入力している。直列接続された小規模測定回路(111~11m…)にパラメータの値がそれぞれ異なる基準信号Bを与えることにより、測定範囲又は測定分解能を高めることができる。また、各列にパラメータが同一の基準信号Bを与えることにより、トランジスタサイズに依存する雑音成分を低減することができる。本発明によれば、測定範囲や分解能、雑音低減など、必要とされる測定性能に応じて小規模測定回路を複数用いることによって、測定回路の面積を最小限に抑えつつ、所望の性能を実現できるという効果がある。
    • 小尺寸测量电路(111至1qm)以m行和q列排列。 在各排中,小型测量电路(111〜11m,121〜12m,1q1〜1qm)分别串联连接,并列彼此并联。 每个小尺寸测量电路(111至1qm)输入被测量信号A作为测量对象和参考信号B.通过给小尺寸测量电路提供具有不同参数值的参考信号B (111〜11m)串联连接,可以提高测量范围或测量分辨率。 此外,通过给出具有相同参数的参考信号B,可以根据晶体管尺寸减小噪声分量。 通过根据测量范围的提高,分辨率和噪声降低等必要的测量性能来使用多个小型测量电路,可以在使测量电路的面积最小化的同时实现期望的性能。
    • 10. 发明申请
    • 位相差測定装置及び位相比較回路の調整方法
    • 相差测量装置和相位比较电路调整方法
    • WO2007037340A1
    • 2007-04-05
    • PCT/JP2006/319355
    • 2006-09-28
    • 日本電気株式会社野瀬 浩一水野 正之
    • 野瀬 浩一水野 正之
    • G01R25/00G01R29/02H03K5/13
    • G01R25/00G01R25/04H03K5/133H03K5/15013
    • A phase difference measuring device for reducing the measurement time includes: a plurality of phase difference measuring circuits (104, 105, 106) arranged in one row; and phase difference conversion circuits (101, 102, 103) connected between the adjacent phase difference measuring circuits. The phase difference measuring circuits input a first and a second signal and give a first and a second delay amount to the first and the second signal, respectively, a plurality of times for accumulation. The phases of the first and the second signal to which a delay amount is given are compared each time to judge which is leading. The phase difference conversion circuits input the first and the second signal inputted to the phase difference measuring circuit of the former stage and give a first delay total amount (Tr1) as a total of the first delay amounts and a second delay total amount (Ts1) as a total of the second delay amounts given in the phase difference measuring circuits of the former stage to the first and the second signal, respectively for output of the first and the second signal to the phase difference measuring circuit of the latter stage.
    • 用于减少测量时间的相位差测量装置包括:布置成一排的多个相位差测量电路(104,105,106); 以及连接在相邻的相位差测量电路之间的相位差转换电路(101,102,103)。 相位差测量电路分别输入第一和第二信号,分别给出第一和第二信号的第一和第二延迟量多次用于累积。 比较每次给出延迟量的第一和第二信号的相位,以判断哪个是前导的。 相位差转换电路输入输入到前一级的相位差测量电路的第一和第二信号,并将第一延迟总量(Tr1)作为第一延迟量和第二延迟总量(Ts1)的总和, 作为前一级的相位差测量电路中分配给第一和第二信号的第二延迟量的总和,分别用于将第一和第二信号输出到后级的相位差测量电路。