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1. 发明申请

WO2009084424A1 半導体テスト装置、半導体装置および試験方法审中-公开
标题翻译：半导体测试器件，半导体器件和测试方法
公开(公告)号：WO2009084424A1
公开(公告)日：2009-07-09
申请号：PCT/JP2008/072834
申请日：2008-12-16
申请人：日本電気株式会社 , NECエレクトロニクス株式会社 , 野口宏一朗 , 亀田義男 , 野瀬浩一 , 水野正之 , 尾野年信
发明人：野口宏一朗 , 亀田義男 , 野瀬浩一 , 水野正之 , 尾野年信
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/31908
摘要：　高速な遅延テストを実現することが可能な半導体テスト装置、半導体装置および試験方法を提供する。　半導体テスト装置１ａ～１ｃは、第１入力端子ＳＩと、第２入力端子Ｄと、第１モードと第２モードのいずれかを示すモード信号を受け付けるモード端子ＳＥと、クロック信号を受け付けるクロック端子ＣＫと、出力端子Ｑと、を備え、モード信号が第１モードを示す場合に第１入力端子ＳＩを選択し、モード信号が第２モードを示す場合に第２入力端子Ｄを選択し、モード信号に基づいて選択された入力端子が受け付けている情報をクロック信号に同期して保持して出力端子Ｑから出力するフリップフロップ１１と、設定値を保持し、当該設定値を第１入力端子ＳＩに提供する保持部１２と、を含む。
摘要翻译：提供能够实现高速延迟测试，半导体器件和测试方法的半导体测试装置。每个半导体测试装置（1a-1c）包括触发器（11），其包括第一输入端（SI），第二输入端（D），模式端子（SE），用于接受模式信号，模式信号指示第一模式或第二模式，用于接受时钟信号的时钟端子（CK）和输出端子（Q）。当模式信号指示第一模式时，触发器（11）选择第一输入端（SI）和模式信号指示第二输入端（D），并且当模式信号指示第二模式时，保持并输出信息，由与时钟信号同步的输出端子（Q）由基于模式信号选择的输入端子接受。进一步包括用于保持设定值并且为第一输入端子（SI）提供设定值的保持单元（12）。

2. 发明申请

WO2007037212A1 受光回路およびディジタルシステム审中-公开
标题翻译：光接收电路和数字系统
公开(公告)号：WO2007037212A1
公开(公告)日：2007-04-05
申请号：PCT/JP2006/319006
申请日：2006-09-26
申请人：日本電気株式会社 , 水野正之 , 大橋啓之 , 野瀬浩一 , 西研一
发明人：水野正之 , 大橋啓之 , 野瀬浩一 , 西研一
IPC分类号： H04B10/04 , H03K17/687 , H03K19/0944 , H04B10/06 , H04B10/14 , H04B10/26 , H04B10/28
CPC分类号： H04B10/69 , H03K17/785
摘要：　受光回路（114）に、光伝送路（101）から出力される１系統の光信号を電気信号に変換し且つ該電気信号の電位を光信号の検出ごとに反転させる光入力回路（113）と、光入力回路により変換された電気信号を増幅して出力するバッファ回路（110）とを備える。かかる構成によれば、受光回路に１系統の光信号を入力すればよいことから、システムの回路構成が複雑になることを回避できる。　
摘要翻译：光接收电路（114）设置有光输入电路（113），该光输入电路将从光传输路径（101）输出的一个系统的光信号转换成电信号，并且每次光学信号转换电信号的电位信号被检测，以及缓冲电路（110），放大由光输入电路转换的电信号，并输出放大的信号。因此，由于仅需要将一个系统的光信号输入到光接收电路，所以可以防止系统的电路结构复杂化。

3. 发明申请

WO2009084352A1 温度測定装置及び方法审中-公开
标题翻译：温度测量装置及方法
公开(公告)号：WO2009084352A1
公开(公告)日：2009-07-09
申请号：PCT/JP2008/071549
申请日：2008-11-27
申请人：日本電気株式会社 , 實吉永典 , 野瀬浩一 , 梶田幹浩 , 水野正之
发明人：實吉永典 , 野瀬浩一 , 梶田幹浩 , 水野正之
IPC分类号： G01K7/00 , G01K7/01
CPC分类号： G01K7/01 , G01K2219/00
摘要：　電流読み出し手段は、温度の変化に応じて出力電流が変化する電流源の出力電流を検出し、該出力電流に比例する値を出力する。電流源の出力電流に比例する電流読み出し手段の出力値に対応する電流源の温度を実測し、電流読み出し手段の出力値及び該出力値に対応する電流源の温度の実測値から、出力値を温度の情報に変換するための媒介変数を決定する。そして、決定した媒介変数を用いて電流読み出し手段の出力値を温度の情報に変換する。
摘要翻译：电流读取装置检测随着温度变化而变化的电流源的输出电流，并输出与输出电流成比例的值。测量与电流读取装置的输出值对应的电流源的温度，其与电流源的输出电流成比例，并且根据电流的输出值确定将输出值转换为温度信息的参数读数手段和对应于输出值的电流源的温度测量值。当前读取装置的输出值被转换成具有确定参数的温度信息。

4. 发明申请

WO2008081713A1 信号品質測定装置、スペクトラム測定回路、プログラム审中-公开
标题翻译：信号质量测量设备，光谱测量电路和程序
公开(公告)号：WO2008081713A1
公开(公告)日：2008-07-10
申请号：PCT/JP2007/074329
申请日：2007-12-18
申请人：日本電気株式会社 , 野瀬浩一 , 水野正之
发明人：野瀬浩一 , 水野正之
IPC分类号： G01R19/00 , G01R23/16
CPC分类号： H04B17/318 , G01R23/16 , H04B17/15
摘要：　本発明の信号品質測定装置において、スペクトラム測定回路（１０１）は、位相変調量の設定が切り替えられる度に、クロック信号の位相を当該位相変調量だけずらした位相変調信号を出力するＮ（Ｎは２以上の整数）相クロック発生回路（３０４）と、送信器から出力された被測定信号とＮ相クロック発生回路（３０４）から出力された位相変調信号との積をとるミキサ回路（３０３）と、ミキサ回路（３０３）の出力信号の平均電圧値を出力する平均値出力回路（３０５）と、Ｎ相クロック発生回路（３０４）の位相変調量ごとに、平均値出力回路（３０５）から出力される平均電圧値を格納するメモリ（３０７）と、メモリ（３０７）に格納された、Ｎ相クロック発生回路（３０４）の位相変調量ごとの平均電圧値を用いて、被測定信号の信号強度を演算する演算器（３０８）と、を有する。
摘要翻译：在信号质量测量装置中，频谱测量电路（101）包括：N（N是不小于2的整数）相位时钟产生电路（304），其输出时钟信号相位偏移的相位调制信号每当切换量设定时，根据相位调制量; 混频器电路（303），其获得从发射机输出的乘以与从N相时钟发生电路（304）输出的相位调制信号相乘的乘积的乘积; 平均值输出电路（305），输出混频电路（303）的输出信号的平均电压值; 存储器（307），其存储从平均值输出电路（305）输出的平均电压值，用于N相时钟产生电路（304）的每个相位调制量; 以及计算器（308），其通过使用存储在存储器（307）中的N相时钟生成电路（304）的每个相位调制量的平均电压值来计算要被测量的信号的信号强度）。

5. 发明申请

WO2006030905A1 クロック生成回路、及びクロック生成方法审中-公开
标题翻译：时钟发生电路和时钟发生方法
公开(公告)号：WO2006030905A1
公开(公告)日：2006-03-23
申请号：PCT/JP2005/017166
申请日：2005-09-16
申请人：日本電気株式会社 , 野瀬浩一 , 水野正之 , 柴山充文
发明人：野瀬浩一 , 水野正之 , 柴山充文
IPC分类号： G06F1/06 , H03K5/00
CPC分类号： H03K5/00006 , G06F1/06 , H03K5/13 , H03K5/1565 , H03K2005/00052 , H03L7/07 , H03L7/0814
摘要：　位相差１／（ｆ×ｍ）、周波数ｆのｍ相のクロックがクロック変換回路１に入力されると、位相差１／（ｆ×ｎ）、周波数ｆのｎ相のクロックに変換される。単相クロック生成回路２には、位相差に相当する時間が１／（ｆ×ｎ）、周波数ｆのｎ相のクロックが入力され、単相クロック生成回路２は各ｎ相クロックの立ち上り又立ち下りに同期して単相クロックを生成する。クロック変換回路１に入力されるｍ相のクロックの周波数はｆであるので、希望する単相クロックの周波数が決定すれば、単相クロックの周波数＝（ｆ×ｎ）よりｎを求めることができる。このｎをクロック変換回路１に設定することにより、周波数ｆのｍ相クロックから周波数ｆのｎ相クロックを得て、希望の周波数の単相クロックを得ることができる。
摘要翻译：时钟转换电路（1）接收并将具有1 /（f×m）相位差的频率f的m相时钟转换为相位差为1 /（f×m）的频率f的n相时钟 N）。单相时钟发生电路（2）接收具有1 /（f×n）的相位差当量时间的频率f的n相时钟，以产生与相位差等效时间的上升沿或下降沿同步的单相时钟 n相时钟。由于输入到时钟转换电路（1）的m相时钟的频率为“f”，所以如果确定了单相时钟的期望频率，则可以从以下等式获得“n”：频率单相时钟等于（f×n）。该值“n”被设置到时钟转换电路（1），从而从频率f的m相时钟获得频率f的n相时钟，以提供期望频率的单相时钟。

6. 发明申请

WO2007086500A1 入力回路及び該入力回路を備える半導体集積回路审中-公开
标题翻译：输入电路，具有这样的输入电路的半导体集成电路
公开(公告)号：WO2007086500A1
公开(公告)日：2007-08-02
申请号：PCT/JP2007/051252
申请日：2007-01-26
申请人：日本電気株式会社 , 野瀬浩一 , 水野正之
发明人：野瀬浩一 , 水野正之
IPC分类号： G06F13/38 , H03K5/14 , H03K19/0175
CPC分类号： H03K5/135 , G11C5/066 , G11C7/1078 , G11C7/1087 , G11C7/1093 , H03K2005/00071 , H03K2005/00084 , H03M9/00
摘要：　複数の被制御回路に対して制御信号を供給するための制御信号入力回路は、複数ビット信号のそれぞれに対応して設けられ、トリガ信号が第１のレベルにあるときには入力データをそのまま出力し、第２のレベルにあるときは、既に出力した出力データを保持するＮ個の制御信号保存・出力回路と、Ｓ個の制御信号保存・出力回路に対するトリガ信号を第１のレベルに設定し、残りの制御信号保存・出力回路に対するトリガ信号を第２のレベルに設定する被制御回路選択回路と、を有する。
摘要翻译：提供控制信号输入电路，用于向要控制的多个电路提供控制信号。控制信号输入电路设置有N个控制信号存储/输出电路，它们与多个位信号中的每一个对应地布置，当触发信号处于第一电平时，输出输入的数据，以及何时触发信号处于第二电平，存储已输出的输出数据。控制信号输入电路还设置有用于选择要控制的电路的电路，其将用于第一电平的控制信号存储/输出电路的S个数量的触发信号设置为用于其余控制的触发信号信号存储/输出电路在第二级。

7. 发明申请

WO2007037338A1 信号測定装置审中-公开
标题翻译：信号测量装置
公开(公告)号：WO2007037338A1
公开(公告)日：2007-04-05
申请号：PCT/JP2006/319348
申请日：2006-09-28
申请人：日本電気株式会社 , 野瀬浩一 , 水野正之
发明人：野瀬浩一 , 水野正之
IPC分类号： G01R29/02 , H03M1/08
CPC分类号： G01R19/2509
摘要：　補間信号発生回路（１０１）は、連続する二つの離散信号（ＳＩＧ）の補間信号（ＳＩＧ 1 ～ＳＩＧ N ）を生成する。Ｎ個の測定回路（５０１）は、補間信号を測定する。補間信号が測定対象となるので、離散信号に対してもＮ倍のオーバーサンプリング測定が可能になる。オーバーサンプリング測定により、離散信号の信号成分の周波数スペクトルは維持され、量子化誤差などによる雑音成分の周波数スペクトルのみが高周波帯域まで増加し、単位周波数当たりの雑音成分が低減される。このため、低域透過フィルタ（５０２）を用いて測定回路の測定結果から高周波成分を除去することにより、オーバーサンプリングをしない場合に比べ、測定結果の信号雑音比を改善することができる。
摘要翻译：内插信号生成电路（101）生成连续两个离散信号（SIG）的内插信号（SIG＆lt; SUB＆gt;到SIG＆lt; N＆gt;）。 N个测量电路（501）测量插值信号。由于内插信号是测量对象，所以离散信号也可以进行过采样测量乘以N.通过过采样测量，维持离散信号的信号分量的频谱，并且只有噪声的频谱归因于量化误差的分量增加到高频带，从而降低每单位频率的噪声分量。为此，通过使用低通滤波器（502）从测量电路的测量结果去除高频分量，与不进行过采样的情况相比，可以提高测量结果的信号噪声比。

8. 发明申请

WO2007037314A1 信号測定装置审中-公开
标题翻译：信号测量装置
公开(公告)号：WO2007037314A1
公开(公告)日：2007-04-05
申请号：PCT/JP2006/319278
申请日：2006-09-28
申请人：日本電気株式会社 , 野瀬浩一 , 水野正之
发明人：野瀬浩一 , 水野正之
IPC分类号： G01R31/319 , H01L21/822 , H01L27/04
CPC分类号： G01R31/31708
摘要：　小規模測定回路（１１１～１ｑｍ）が、ｍ個ずつｑ列に分かれて配設されている。各列の小規模測定回路（１１１～１１ｍ，１２１～１２ｍ，１ｑ１～１ｑｍ）はそれぞれ直列接続され、更に各列は並列接続されている。小規模測定回路（１１１～１ｑｍ）は、測定対象となる被測定信号Ａと、基準信号Ｂとをそれぞれ入力している。直列接続された小規模測定回路（１１１～１１ｍ…）にパラメータの値がそれぞれ異なる基準信号Ｂを与えることにより、測定範囲又は測定分解能を高めることができる。また、各列にパラメータが同一の基準信号Ｂを与えることにより、トランジスタサイズに依存する雑音成分を低減することができる。本発明によれば、測定範囲や分解能、雑音低減など、必要とされる測定性能に応じて小規模測定回路を複数用いることによって、測定回路の面積を最小限に抑えつつ、所望の性能を実現できるという効果がある。
摘要翻译：小尺寸测量电路（111至1qm）以m行和q列排列。在各排中，小型测量电路（111〜11m，121〜12m，1q1〜1qm）分别串联连接，并列彼此并联。每个小尺寸测量电路（111至1qm）输入被测量信号A作为测量对象和参考信号B.通过给小尺寸测量电路提供具有不同参数值的参考信号B （111〜11m）串联连接，可以提高测量范围或测量分辨率。此外，通过给出具有相同参数的参考信号B，可以根据晶体管尺寸减小噪声分量。通过根据测量范围的提高，分辨率和噪声降低等必要的测量性能来使用多个小型测量电路，可以在使测量电路的面积最小化的同时实现期望的性能。

9. 发明申请

WO2009066765A1 信号遅延装置审中-公开
标题翻译：信号延迟装置
公开(公告)号：WO2009066765A1
公开(公告)日：2009-05-28
申请号：PCT/JP2008/071231
申请日：2008-11-21
申请人：日本電気株式会社 , 野瀬浩一 , 水野正之
发明人：野瀬浩一 , 水野正之
IPC分类号： H03K5/135 , G06F1/06 , H03K3/03 , H03K5/05
CPC分类号： H03K3/0315 , H03K5/133 , H03K5/135
摘要：　所望のパルス幅を有するパルス信号を生成する。直列接続される複数の遅延回路を含むリングオシレータ回路と、複数の遅延回路の出力のいずれかにそれぞれ接続された、立ち上がり信号生成部および立ち下がり信号生成部と、立ち上がり信号生成部の出力パルスの立ち上がりあるいは立ち下がりのタイミングで立ち上がりとし、立ち下がり信号生成部の出力パルスの立ち上がりあるいは立ち下がりのタイミングで立ち下がりとする出力信号を生成するクロックエッジ合成回路と、を備える。
摘要翻译：以产生具有所需脉冲宽度的脉冲信号。包括包括多个串联延迟电路的环形振荡器电路; 上升和下降信号产生部件，其每个连接到所述多个延迟电路的输出中的相应一个; 以及时钟边沿组合电路，用于产生在上升信号发生部分的输出脉冲上升或下降的定时上升的输出信号，并且在下降信号产生部分的输出脉冲上升或下降的定时下降。

10. 发明申请

WO2008149981A1 変調装置及びパルス波生成装置审中-公开
标题翻译：调制装置和脉冲波生成装置
公开(公告)号：WO2008149981A1
公开(公告)日：2008-12-11
申请号：PCT/JP2008/060463
申请日：2008-06-06
申请人：日本電気株式会社 , 野瀬浩一 , 石崎晴也 , 水野正之
发明人：野瀬浩一 , 石崎晴也 , 水野正之
IPC分类号： H04L27/12
CPC分类号： H04L27/20 , H03K5/13 , H03K5/156 , H03K2005/00052 , H04L27/12
摘要：　周波数が同一であり、位相差が等しい複数のキャリア信号から、所定の制御信号にしたがって２つのキャリア信号を選択して出力する信号選択回路と、制御信号にしたがって複数のキャリア信号の位相差よりも小さい単位で位相を調整する、信号選択回路で選択されたキャリア信号に基づいて、キャリア信号の周波数または位相をベースバンド信号に応じて変調した信号である搬送波信号を生成する位相補間器とを有する。
摘要翻译：调制装置包括信号选择电路和相位内插器。信号选择电路根据预定的控制信号从具有相同频率和相同相位差的多个载波信号中选择两个载波信号并输出信号。相位内插器根据控制信号调整比载波信号的相位差小的单元。根据由信号选择电路选择的载波信号，相位内插器根据基带信号调制载波信号的频率或相位来产生载波信号。

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