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1. 发明申请

WO2006082067A1 VERFAHREN UND ANORDNUNG ZUR KONFOKALEN, CHROMATISCHEN, INTERFEROMETRISCHEN, SPEKTROSKOPISCHEN ABTASTUNG FÜR OPTISCHE MEHRLAGEN-DATENSPEICHER 审中-公开
标题翻译：方法和系统共聚焦，套色，干涉测量，光谱扫描用于光学层以上数据存储
公开(公告)号：WO2006082067A1
公开(公告)日：2006-08-10
申请号：PCT/EP2006/000948
申请日：2006-02-03
申请人： UNIVERSITÄT STUTTGART , KÖRNER, Klaus , BERGER, Reinhard , DROSTE, Ulrich , KOHLER, Christian , OSTEN, Wolfgang , PRUSS, Christof , RUPRECHT, Aiko , WIESENDANGER, Tobias
发明人： KÖRNER, Klaus , BERGER, Reinhard , DROSTE, Ulrich , KOHLER, Christian , OSTEN, Wolfgang , PRUSS, Christof , RUPRECHT, Aiko , WIESENDANGER, Tobias
IPC分类号： G11B7/00 , G11B7/24 , G11B7/125 , G11B7/13 , G11B7/135 , G11B7/14 , G01B9/02 , G02B21/00
CPC分类号： G11B7/1384 , G01B9/02036 , G01B9/02042 , G01B9/02044 , G01B9/02057 , G01B9/02091 , G01B2210/50 , G01B2290/15 , G02B3/0087 , G02B27/0025 , G11B7/1275 , G11B7/13 , G11B7/1381 , G11B7/14 , G11B7/24038 , G11B2007/0013
摘要： Bei einem interferometrischen, konfokalen Verfahren und einer interferometrischen, konfokalen Anordnung für optische Datenspeicher, insbesondere Terabyte-Volumenspeicher, erfolgt eine Kopplung der spektralen Zweistrahl-Merferometrie mit breitbandiger Quelle elektromagnetischer Strahlung mit der chromatisch-konfokalen Technik, die eine Längsaufspaltung von Foki im Speichervolumen ermöglicht, die beugungsbegrenzt sind. Dieses neue Verfahren wird hier als chromatisch-konfokale Spektral-Interferometrie (CC-SI) bezeichnet. Dem Interferometer mit konfokaler Diskriminierung im Strahlengang ist hierbei ein Spektrometer nachgeordnet. Zur chromatischen Längsaufspaltung ist im interferometrischen Strahlengang eine diffraktiv-optische Zonenlinse (DOZE) mit Nutzung der ersten Beugungsordnung eingesetzt. Das Interferometer kann als fasergekoppeltes Interferometer mit Retroreflektor im fasergekoppelten Referenzarm und mit wellenlängenabhängiger Gangunterschiedsänderung mittels Dispersion oder Diffraktion ausgebildet sein. Der Gangunterschied im Interferometer ist so eingestellt, dass aus detektierten Interferogrammen mittels Spektralanalyse gut detektierbare Wavelets gebildet werden können. Dabei gibt es im optischen-transparenten Speichervolumen eine räumliche Anordnung von örtlich wechselnden Bereichen erhöhter und verringerter Reflexion im mikroskopischen Maßstab. Mittels numerischer Auswertung werden digitale Daten aus den Wavelets bestimmt, im einfachsten Fall ein Bit pro Wavelet. So werden Daten aus unterschiedlichen Tiefen des Speichermediums simultan gelesen. Dies ermöglicht eine sehr hohe Datentransferrate wie sie z. B. für Datenbanken oder bei der Datensicherung benötigt wird.
摘要翻译：在干涉，共聚焦方法和干涉，共聚焦组件，用于光学数据存储，尤其是TB的体积内存，则谱双光束Merferometrie的与彩色共技术，其能够病灶的纵向劈裂在该储存容积的电磁辐射的宽带光源的耦合，是衍射极限。这种新方法（CC-SI）这里所说的彩色共光谱干涉。在光路中谱仪共聚焦歧视的干涉是这里下属。对于色纵向劈裂的衍射光学透镜区（打盹）被插入在所述干涉光路中使用第一衍射级的。该干涉仪可以被形成为在参考臂光纤耦合，并与通过分散或衍射的手段依赖于波长的相位差变化与后向反射器的光纤耦合干涉仪。在干涉仪中的路径差被设置为使得从检测到的干涉容易检测的小波可以通过光谱分析来形成。有在光学透明存储容积的增加局部改变区域的空间排列，和在微观尺度上减小反射。通过从子波的数字数据的数值计算被确定，在最简单的情况下，每小波一个比特。这允许从所述存储介质的不同深度的数据被同时读出。这允许非常高的数据传输率等。当需要对数据库或数据保护。

2. 发明申请

WO2006042696A1 INTERFEROMETRISCHES VERFAHREN UND ANORDNUNG 审中-公开
标题翻译：干涉测量方法和系统
公开(公告)号：WO2006042696A1
公开(公告)日：2006-04-27
申请号：PCT/EP2005/011042
申请日：2005-10-13
申请人： UNIVERSITÄT STUTTGART , KÖRNER, Klaus , BERGER, Reinhard , DROSTE, Ulrich , KERWIEN, Norbert , KOHLER, Christian , OSTEN, Wolfgang , PAPASTATHOPOULOS, Evangelos , PRUSS, Christof , RUPRECHT, Aiko , WIESENDANGER, Tobias
发明人： KÖRNER, Klaus , BERGER, Reinhard , DROSTE, Ulrich , KERWIEN, Norbert , KOHLER, Christian , OSTEN, Wolfgang , PAPASTATHOPOULOS, Evangelos , PRUSS, Christof , RUPRECHT, Aiko , WIESENDANGER, Tobias
IPC分类号： G01B9/02 , G01N21/47 , A61B3/12 , G02B21/00
CPC分类号： G01N21/4795 , A61B5/0066 , A61B5/0068 , A61B5/0075 , A61B5/0084 , A61B5/4547 , A61B5/7257 , G01B9/02004 , G01B9/02036 , G01B9/02042 , G01B9/02044 , G01B9/02091 , G01B2210/50 , G02B21/0056 , G02B21/0064
摘要： Die Erfindung betrifft die konfokale Spektral-Interometrie zur Erfassung des Abstandes und der Form, sowie zur Optischen Kohärenz-Tomografie (OCT) und/oder Kohärenz-Mikroskopie (OCM) mit einer Multiwellenlängen-Quelle oder einer durchstimmbaren Quelle und mit Abbildung mittels Fokussier-Systems auf einen Empfänger, wobei chromatische Tiefenaufspaltung z.B. durch eine diffraktiv-optische Zonenlinse im Fokussier-System erfolgt und eine Spektralanalyse mittels dispersivem Spektrometer durchgeführt wird oder die interferierende elektromagnetische Strahlung bei der Wellenlängendurchstimmung detektiert wird und aus dem Spektrum (z.B. mit FFT) über die Kenntnis der Tiefenaufspaltung im chromatisch-konfokalen System und des Brechungsindexes diez-Position der Objektdetails bestimmt wird.
摘要翻译：本发明涉及一种共焦光谱Interometrie以检测由聚焦系统的装置的距离和形状，以及用于光学相干断层扫描（OCT）和/或相干性显微镜（OCM）与多波长源或可调谐源和成像在接收机上，所述的彩色深度分裂如由衍射光学区中的透镜聚焦系统进行的，并且通过谱仪来进行频谱分析或波长调谐过程中检测所述干扰的电磁辐射，并从彩色共焦系统上的深度分割的知识的频谱（例如，FFT）和的对象的详细信息折射率迭位置被确定。

3. 发明申请

WO2004109225A1 SCHALTBARES PUNKTLICHTQUELLEN-ARRAY UND DESSEN VERWENDUNG IN DER INTERFEROMETRIE 审中-公开
标题翻译：开关点光源阵列和用法干涉
公开(公告)号：WO2004109225A1
公开(公告)日：2004-12-16
申请号：PCT/DE2004/001114
申请日：2004-06-01
申请人： UNIVERSITÄT STUTTGART , LIESENER, Jan , PRUSS, Christof
发明人： LIESENER, Jan , PRUSS, Christof
IPC分类号： G01B9/02
CPC分类号： G01B9/02085 , G01B9/02039 , G01J3/10 , G01J2003/1286 , G02B26/0808 , G02F1/133526
摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft ein schaltbares Punktlichtquellen-Array oder SLM sowie dessen Verwendung zur interferometrischen Vermessung von Prüflingsoberflächen insbesondere mit asphärischen Oberflächen. Das Punktlichtquellen-Array besteht aus einem Flüssigkristalldisplay oder LCD (2), einem hinter dem LCD (2) angeordneten Mikrolinsen-Array (3), durch das der Eingangsstrahl (1) nach Durchgang durch das LCD (2) in einzelne Teilstrahlen aufgespaltet wird, und einem Lochblenden-Array (4). Das Lochblenden-Array (4) bewirkt, dass nur eine durch Beugung an einem in das LCD (2) eingeschriebenen Beugungsmuster entstehende erste oder höhere Beugungsordnung (5) auf Blendenöffnungen des Lochblenden-Arrays (4) trifft. Anstatt des LCDs kann auch ein Kippspiegelarray oder DMD verwendet werden. Durch Einbau des Punktlichtquellen-Arrays in ein Interferometer lassen sich sehr genau bekannte Wellenfronten unterschiedlicher Ausbreitungsrichtung als Referenzwellen erzeugen, die sich unabhängig voneinander schalten und in ihrer Phase schieben lassen.
摘要翻译：本发明涉及一种可切换的点光源阵列或SLM及其Prüflingsoberflächen的特别是与非球面表面的干涉测量使用。点光源阵列包括一个液晶显示器或LCD的（2）中，由LCD（2）的后面布置微透镜阵列（3），通过它穿过LCD（2）被分成单独的子束之后的输入光束（1），和针孔光阑阵列（4）。使针孔光阑阵列（4），只有在LCD在一个登记由衍射（2）衍射图案得到的孔径阵列（4）的孔衍射（5）入射的第一或更高阶的。相反，液晶显示器也有Kippspiegelarray或DMD的都可以使用。通过将点光源阵列中的干涉仪可以是非常精确地已知的波阵面不同的传播方向产生参考波，彼此独立的开关，并且可以在它的相位滑动。

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