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    • 1. 发明申请
    • METHOD FOR STRESS-ADJUSTED OPERATION OF A PROJECTION EXPOSURE SYSTEM AND CORRESPONDING PROJECTION EXPOSURE SYSTEM
    • 投影曝光系统的应力调整操作方法及相应的投影曝光系统
    • WO2011104389A3
    • 2011-09-01
    • PCT/EP2011/052953
    • 2011-02-28
    • CARL ZEISS SMT GMBHKNEER, BernhardDEGUENTHER, MarkusGRUNER, Toralf
    • KNEER, BernhardDEGUENTHER, MarkusGRUNER, Toralf
    • G03F7/20
    • The present invention relates to a projection exposure system and a method for operating a projection exposure system for microlithography with an illumination system which has at least one variably adjustable pupil-defining element (4), wherein the illumination stress of at least one optical element of the projection exposure system is determined automatically in the case of an adjustment of the at least one variably adjustable pupil-defining element and, from the automatically determined illumination stress, the maximum radiant power of the light source is set or determined and/or in which an illumination system is provided with which different illumination settings can be made, wherein the usage of the projection exposure system is recorded and, from the history of the usage, at least one state parameter of at least one optical element of the projection exposure system is determined.
    • 本发明涉及一种投影曝光系统和一种操作具有照明系统的用于微光刻的投影曝光系统的方法,该照明系统具有至少一个可变地调节的光瞳限定元件(4),其中照明 投影曝光系统的至少一个光学元件的应力在调节至少一个可变地调节的光瞳限定元件的情况下自动地确定,并且根据自动确定的照明应力,光源的最大辐射功率是 设置或确定和/或其中提供照明系统,利用该照明系统可以进行不同的照明设置,其中记录投影曝光系统的使用,并且从使用历史记录中获得至少一个状态参数 确定投影曝光系统的光学元件。
    • 4. 发明申请
    • ABBILDUNGSSYSTEM FÜR EINE MIKROLITHOGRAPHISCHE PROJEKTIONSBELICHTUNGSANLAGE
    • PICTURE SYSTEM FOR A微光刻投射曝光设备
    • WO2005081068A2
    • 2005-09-01
    • PCT/EP2005/000277
    • 2005-01-13
    • CARL ZEISS SMT AGGRUNER, ToralfEPPLE, AlexanderKNEER, BernhardWABRA, NorbertBEDER, SusanneDORSEL, Andreas
    • GRUNER, ToralfEPPLE, AlexanderKNEER, BernhardWABRA, NorbertBEDER, SusanneDORSEL, Andreas
    • G03F7/20
    • G03F7/70225G03F7/70241G03F7/70341G03F7/70958G03F7/70966
    • Abbildungssystem einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage, mit einem Projektionsobjektiv (200, 300, 500, 600) zur Abbildung einer in einer Objektebene positionierbaren Maske auf eine in einer Bildebene positionierbare lichtempfindliche Schicht; und einer Flüssigkeitszufuhr (205) zum Füllen eines Zwischenraums zwischen der Bildebene und einem bildebenenseitig letzten optischen Element (201, 309, 506) des Projektionsobjektivs mit Immersionsflüssigkeit (202, 310, 507, 601); wobei das bildebenenseitig letzte optische Element des Projektionsobjektivs in Schwerkraftrichtung nachfolgend zur Bildebene angeordnet ist; und wobei das Projektionsobjektiv derart ausgelegt ist, dass im Immersionsbetrieb die Immersionsflüssigkeit in zur Bildebene abgewandter Richtung wenigstens bereichsweise konvex gekrümmt ist. Es wird auch vorgesehen, dass das bildebenenseitig letzte optische Element (201, 309, 506) des Projektionsobjektivs unter der Bildebene derart angeordnet ist, dass die Immersionsflüssigkeit (202, 310, 507, 601) zumindest teilweise in einem im wesentlichen wannenförmigen Bereich auf dem bildebenenseitig letzten optischen Element angeordnet wird. Auch kann ein Rotator zum Drehen eines die lichtempfindliche Schicht (401) aufweisenden Substrats zwischen einer Transportorientierung, in der die lichtempfindliche Schicht auf einer entgegengesetzt zur Schwerkraftrichtung liegenden Substratoberfläche angeordnet ist, und einer Belichtungsorientierung, in welcher die lichtempfindliche Schicht (401) auf einer in Schwerkraftrichtung liegenden Substratoberfläche angeordnet ist, vorgesehen sein.
    • 具有用于在光敏感层的图像平面上的定位在物平面掩模成像可定位的投影透镜(200,300,500,600)的微光刻投射曝光设备的成像系统; 和用于填充所述投射物镜的像平面和图像平面侧最后的光学元件(201,309,506)之间的间隙与浸没液体(202,310,507,601)的液体供给(205); 其中所述投射物镜的像面侧最后光学元件被布置在图像平面下方的重力方向; 并且其中,所述投射物镜被设计成使得在浸液操作中,浸没液体在背离图像面方向至少部分地凸形弯曲远离。 还可以预期的是,投影透镜的像面侧最后的光学元件(201,309,506)设置在图像平面下方,使得浸没液体(202,310,507,601)至少部分地基于所述像面侧的大致槽形区域部分地 最后的光学元件被布置。 用于旋转具有输送方向之间的衬底的感光层(401)旋转器罐,被布置在位于一个相对的衬底表面的重力方向上的感光层,和一个曝光取向,其中在重力的方向上的感光层(401) 布置,可以提供下面的基底表面。
    • 5. 发明申请
    • IMAGING SYSTEM FOR A MICROLITHOGRAPHICAL PROJECTION LIGHT SYSTEM
    • 微米级投影曝光设备的图解系统
    • WO2005081068A3
    • 2005-11-10
    • PCT/EP2005000277
    • 2005-01-13
    • ZEISS CARL SMT AGGRUNER TORALFEPPLE ALEXANDERKNEER BERNHARDWABRA NORBERTBEDER SUSANNEDORSEL ANDREAS
    • GRUNER TORALFEPPLE ALEXANDERKNEER BERNHARDWABRA NORBERTBEDER SUSANNEDORSEL ANDREAS
    • G03F7/20
    • G03F7/70225G03F7/70241G03F7/70341G03F7/70958G03F7/70966
    • The invention relates to an imaging system of a microlithographical projection light system, comprising a projection lens (200, 300, 500, 600) which is used to reproduce a mask which can be positioned on a lens plane on a light-sensitive layer which can be positioned on an image plane; and a fluid inlet (205) which is used to fill an intermediate chamber between the image plane and a final optical element (201, 309, 506) of the projection lens, with immersion liquid (202, 310, 507, 601), on the image plane. The final optical element of the projection lens on the image plane is arranged, in the direction of gravity, after the image plane and the projection lens is embodied in such a manner that the immersion fluid, in the immersion state, comprises a convex curve, in the direction oriented away from the image plane, at least in one area. According to the invention, the final optical element (201, 309, 506) of the projection lens on the image plane is arranged below the image plane in such a manner that the immersion fluid (202, 310, 507, 601) is at least partially arranged in an essentially dish-shaped area on the final optical element on the image plane. Said system can also comprises a rotator which is used to rotate a substrate comprising the light-sensitive layer (401) between a transport position, wherein the light-sensitive layer is arranged on a substrate surface disposed in the counter direction to the direction of gravity, and a position of exposure, wherein the light-sensitive layer (401) is arranged on a substrate surface disposed in the direction of gravity.
    • 具有用于在光敏感层的图像平面上的定位在物平面掩模成像可定位的投影透镜(200,300,500,600)的微光刻投射曝光设备的成像系统; 和用于填充所述投射物镜的像平面和图像平面侧最后的光学元件(201,309,506)之间的间隙与浸没液体(202,310,507,601)的液体供给(205); 其中投影透镜的图像平面侧最后一个光学元件沿像平面在重力方向上布置; 并且其中所述投影透镜被设计成使得在浸没模式中,所述浸没液体在远离所述像平面的方向上至少部分地凸出地弯曲。 还可以预期的是,投影透镜的像面侧最后的光学元件(201,309,506)设置在图像平面下方,使得浸没液体(202,310,507,601)至少部分地基于所述像面侧的大致槽形区域部分地 最后一个光学元件被安排。 用于旋转具有输送方向之间的衬底的感光层(401)旋转器罐,被布置在位于一个相对的衬底表面的重力方向上的感光层,和一个曝光取向,其中在重力的方向上的感光层(401) 可以设置平躺的基板表面。