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91. 发明申请

WO2015126004A1 가이드 롤러 평행도 측정장치 审中-公开
标题翻译：用于测量导向滚轮并联对准的装置
公开(公告)号：WO2015126004A1
公开(公告)日：2015-08-27
申请号：PCT/KR2014/003812
申请日：2014-04-29
申请人： 웅진에너지 주식회사
发明人： 김용덕 , 한영식 , 이영준 , 이승주 , 정재훈 , 최효일 , 정승구
IPC分类号： G01B5/207 , G01B5/28
CPC分类号： G01B5/25 , B23D57/0053 , B23D59/001 , B28D5/045
摘要： 본 발명은 가이드 롤러의 평행도를 측정하기 위한 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 장착플레이트에 접촉되어 직선이동되는 측정수단을 통해 간편하게 가이드 롤러의 경사도, 직진도 및 평행도를 모두 측정할 수 있는 가이드 롤러 평행도 측정장치에 관한 것이다.
摘要翻译：本发明涉及一种用于测量引导辊的平行对准的装置，更具体地，涉及一种用于测量导向辊的平行对准的装置，能够方便地测量倾斜度，平直度和平行对准度的导辊使用测量装置，该测量装置在与安装板接触的同时被线性移动。

92. 发明申请

WO2014158290A8 OPTICAL BEAM POSITIONING UNIT FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE 审中-公开
标题翻译：原子力显微镜的光束定位单元
公开(公告)号：WO2014158290A8
公开(公告)日：2015-04-30
申请号：PCT/US2014000069
申请日：2014-03-31
申请人： LABUDA ALEKSANDER , CLEVELAND JASON , WALTERS DERON , PROKSCH ROGER
发明人： LABUDA ALEKSANDER , CLEVELAND JASON , WALTERS DERON , PROKSCH ROGER
IPC分类号： G01B5/28
CPC分类号： G01B11/30 , G01Q10/045 , G01Q20/02
摘要： This invention relates to an optical light beam positioning system that enables the combination of two or more light beams of different wavelengths to be focused onto a probe or sample of a scientific instrument, such as an atomic force microscope, for a number of specific uses typical to AFMs, like measuring the deflection or oscillation of the probe and illuminating an object for optical imaging, and less traditional ones like photothermal excitation of the probe, photothermal activated changes in the sample, photothermal cleaning of the probe and photochemical, photovoltaic, photothermal and other light beam induced changes in the sample. The focused light beams may be independently positioned relative to each other.
摘要翻译：本发明涉及一种光束定位系统，其能够将两个或更多个不同波长的光束的组合聚焦在诸如原子力显微镜的科学仪器的探针或样品上，用于典型的特定用途对AFM进行测量，例如测量探头的偏转或振荡并照亮光学成像对象，较少传统的像探针的光热激发，样品中的光热激活变化，探针的光热清洗和光化学，光伏，光热和其他光束诱发样品的变化。聚焦光束可以相对于彼此独立地定位。

93. 发明申请

WO2015036299A1 RAUHEITS-MESSINSTRUMENT ZUM EINSATZ IN EINER WERKZEUGMASCHINE UND VERFAHREN ZUR RAUHEITSMESSUNG IN EINER WERKZEUGMASCHINE 审中-公开
标题翻译：粗糙度仪用在机械工具和手段粗糙度在机床
公开(公告)号：WO2015036299A1
公开(公告)日：2015-03-19
申请号：PCT/EP2014/068717
申请日：2014-09-03
申请人： BLUM-NOVOTEST GMBH
发明人： BUCHER, Heribert , REISER, Wolfgang , MOERSCH, Norbert
IPC分类号： G01B11/30 , G01B5/28
CPC分类号： G01B11/303 , G01B5/28
摘要： Multidirektionaler Rauheitsmesseinsatz zum Bestimmen einer für die Rauheit einer Oberfläche charakteristischen Messgröße, mit einem Tragkörper, an dem zum Aufnehmen eines Taststifts eine Taststiftaufnahme angeordnet ist, einem Analogsensor, der Bewegungen des Tragkörpers in für die Rauheit einer Oberfläche eines Werkstücks charakteristische Mess- Signale umsetzt, einem mit dem Tragkörper zu koppelnden Taststift, der einen stangenförmigen Schaft und einen an dem Schaft angebrachten Tastkopf umfasst, wobei der Tastkopf zumindest ein Abschnitt eines zumindest zu einem Abschnitt des stangenförmigen Schaft im Wesentlichen rotationssymmetrischen und im Wesentlichen scheibenförmigen Prüfkörpers ist, oder wobei der Tastkopf zumindest ein Abschnitt eines im Wesentlichen rotationssymmetrischen und im Wesentlichen scheibenförmigen Prüfkörpers ist, der an einem distalen Ende zumindest eines Abschnitts des stangenförmigen Schafts angeordnet ist.
摘要翻译：多向Rauheitsmesseinsatz用于确定所测量的变量的表面的粗糙度的特性，具有支撑体，触针保持器被布置在用于容纳触针，模拟传感器，所述支撑体的在工件特性测量的表面的粗糙度的运动的信号转换一个与支撑体成联接笔，它包括一个杆形柄和安装在轴上的探针，其中所述探针是至少的一部分中的至少基本上旋转对称的棒状的轴的至少一部分，和大致圆盘状的试验片，或所述探针头的至少一个是一个基本上旋转对称的和大致圆盘状的试验片，其设置在所述棒状的轴的至少一部分的远端部分。

94. 发明申请

WO2014158290A1 OPTICAL BEAM POSITIONING UNIT FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE 审中-公开
标题翻译：原子力显微镜的光束定位单元
公开(公告)号：WO2014158290A1
公开(公告)日：2014-10-02
申请号：PCT/US2014/000069
申请日：2014-03-31
申请人： LABUDA, Aleksander , CLEVELAND, Jason , WALTERS, Deron , PROKSCH, Roger
发明人： LABUDA, Aleksander , CLEVELAND, Jason , WALTERS, Deron , PROKSCH, Roger
IPC分类号： G01B5/28
CPC分类号： G01B11/30 , G01Q10/045 , G01Q20/02
摘要： This invention relates to an optical light beam positioning system that enables the combination of two or more light beams of different wavelengths to be focused onto a probe or sample of a scientific instrument, such as an atomic force microscope, for a number of specific uses typical to AFMs, like measuring the deflection or oscillation of the probe and illuminating an object for optical imaging, and less traditional ones like photothermal excitation of the probe, photothermal activated changes in the sample, photothermal cleaning of the probe and photochemical, photovoltaic, photothermal and other light beam induced changes in the sample. The focused light beams may be independently positioned relative to each other.
摘要翻译：本发明涉及一种光束定位系统，其能够将两个或更多个不同波长的光束的组合聚焦在诸如原子力显微镜的科学仪器的探针或样品上，用于典型的特定用途对AFM进行测量，例如测量探头的偏转或振荡并照亮光学成像对象，较少传统的像探针的光热激发，样品中的光热激活变化，探针的光热清洗和光化学，光伏，光热和其他光束诱发样品的变化。聚焦光束可以相对于彼此独立地定位。

95. 发明申请

WO2014122107A1 DISPOSITIF DE MESURE DE L'ETAT DE SURFACE D'UNE SURFACE 审中-公开
标题翻译：用于测量表面粗糙度的装置
公开(公告)号：WO2014122107A1
公开(公告)日：2014-08-14
申请号：PCT/EP2014/052097
申请日：2014-02-04
申请人： COMMISSARIAT À L'ÉNERGIE ATOMIQUE ET AUX ÉNERGIES ALTERNATIVES
发明人： GIRARD, Claude
IPC分类号： G01B11/30 , G01B21/30 , G01B5/28 , G01N19/08 , G01N21/47 , G01N21/88 , G01B7/34
CPC分类号： G01B7/34 , G01B5/28 , G01B11/303 , G01B21/30 , G01N21/954
摘要： L'invention concerne un dispositif (100) de mesure de l'état de surface de la surface interne (210) d'un élément creux (200) présentant une section interne sensiblement constante. Le dispositif (100) comporte une sonde (111) destinée à être en contact avec la surface interne (210) de l'élément creux (200), un moyen de contrainte de la sonde (110) sur la surface (200), un moyen de mesure du déplacement de la sonde (111), et un premier moyen de déplacement relatif (140) de la sonde (110), adapté pour déplacer la sonde (111) relativement à la surface interne (210) selon une trajectoire suivant uniquement la ligne directrice (201). Le dispositif comporte en outre un deuxième moyen de déplacement relatif adapté pour déplacer la sonde (111) entre au moins deux positions le long de la section interne, le moyen de contraintes étant adapté pour contraindre la sonde (111) sur la surface interne (210) quelle que soit la position de la sonde (111) le long de la section interne. L'invention concerne également un système de mesure comportant un tel dispositif (100).
摘要翻译：本发明涉及一种用于测量中空元件（200）的内表面（210）的表面粗糙度的装置（100），其具有基本上恒定的内横截面。装置（100）包括：用于与中空元件（200）的内表面（210）接触的探针（111）; 用于使探针（110）在表面（200）上变形的装置; 用于测量探头（111）的运动的装置; 以及用于相对移动所述探针（110）的第一装置（140），所述探针（110）适于仅沿着所述引导线（201）沿着路径相对于所述内表面（210）移动所述探针（111）。该装置还包括第二相对运动装置，适于在沿着内部横截面的至少两个位置之间移动探针（111）。应变装置适合于使内表面（210）上的探针（111）变窄，而不管探头（111）沿着内横截面的位置如何。本发明还涉及包括这种装置（100）的测量系统。

96. 发明申请

WO2013148782A1 MOBILE DEVICE CONFIGURED TO PERFORM TASKS RELATED TO A POWER TRANSMISSION SYSTEM 审中-公开
标题翻译：移动设备被配置为执行与电力传输系统相关的任务
公开(公告)号：WO2013148782A1
公开(公告)日：2013-10-03
申请号：PCT/US2013/034022
申请日：2013-03-27
申请人： ELWHA LLC
发明人： HYDE, Roderick A. , WOOD, JR., Lowell, L.
IPC分类号： G01B5/28
CPC分类号： G06K9/00664 , G01B11/14 , H02G1/02
摘要： Described embodiments include a system and an apparatus. A described mobile robotic device includes a mobile chassis configured to travel on a transmission line of a power transmission system. The mobile robotic device includes an inspection module physically associated with the mobile chassis and configured to automatically inspect a structure associated with the power transmission system. The mobile robotic device includes a risk-assessment module physically associated with the mobile chassis and configured to assess a potential risk to the power transmission system in response to inspection data provided by the inspection module. The mobile robotic device includes a communication module physically associated with the mobile chassis and configured to output data indicative of the assessed potential risk.
摘要翻译：所描述的实施例包括系统和装置。所描述的移动机器人设备包括被配置为在电力传输系统的传输线上行进的移动机箱。移动机器人设备包括物理上与移动机箱相关联并被配置为自动检查与电力传输系统相关联的结构的检查模块。移动机器人设备包括物理上与移动机箱相关联的风险评估模块，并且被配置为响应于由检查模块提供的检查数据来评估对电力传输系统的潜在风险。移动机器人设备包括物理上与移动机箱相关联并被配置为输出指示所评估的潜在风险的数据的通信模块。

97. 发明申请

WO2012080572A3 METHOD AND APPARATUS FOR GRINDING A CYLINDRICAL WORKPIECE 审中-公开
标题翻译：研磨圆筒工件的方法和装置
公开(公告)号：WO2012080572A3
公开(公告)日：2012-10-26
申请号：PCT/FI2011051107
申请日：2011-12-15
申请人： VAAHTO OY , HAIKIO JANNE , VAEAENAENEN PEKKA , PULLINEN JUKKA
发明人： HAIKIO JANNE , VAEAENAENEN PEKKA , PULLINEN JUKKA
IPC分类号： B24B5/04 , B24B5/37 , B24B21/00 , B24B49/00 , D21G1/02 , F16C13/00 , G01B5/28
CPC分类号： D21G1/0246 , B24B5/37 , D21F3/08 , D21G9/00
摘要： Method for grinding the outer surface of an essentially cylindrical workpiece (1), such as a roll, with a displaceable grinding device, which is installed beside the workpiece, and which grinding head (2) of the grinding device is moved back and forth in essentially the direction of the axis of rotation of the workpiece (1), as well as towards the workpiece (1) and away from it in essentially the radial direction of the workpiece, and in which method a reference line (8) is arranged beside the cylindrical workpiece (1), and in which method the measuring system (7) measures the position of the carriage of the grinding device in relation to the workpiece (1) and to the reference line (8). In the method the geometry of the workpiece (1) is measured, on the basis of which measurement result a grinding control curve (25) of the grinding control program is set for the surface (1") to be ground of the workpiece (1), according to which curve during the grinding the grinding head (2) of the grinding device is moved faster in the direction (Z direction) that is essentially parallel with the axis of rotation (1') of the workpiece (1) and/or the grinding means of the grinding head (2) is rotated more slowly and/or the workpiece (1) is rotated faster at the point of the surface sections (21 ) protruding less from the line (20) of the target surface of the workpiece (1 ) and the grinding head (2) is moved more slowly in the direction (Z direction) that is essentially parallel with the axis of rotation of the workpiece and/or the grinding means of the grinding head (2) is rotated faster and/or the workpiece (1) is rotated more slowly at the point of the surface sections (22) protruding more from the line (20) of the target surface. The invention also relates to a displaceable grinding apparatus.
摘要翻译：用于在工件旁边安装有可移动磨削装置的基本上圆柱形的工件（1）（例如辊）的外表面的研磨方法，并且研磨装置的研磨头（2）来回移动基本上是工件（1）的旋转轴线的方向，以及朝向工件（1）并且在工件的基本径向方向上远离工件（1）的方向，并且在该方法中，将参考线（8）布置在旁边圆柱形工件（1），测量系统（7）以这种方式测量研磨装置的托架相对于工件（1）和参考线（8）的位置。在该方法中，测量工件（1）的几何形状，基于该测量结果，对于要对工件（1）进行研磨的表面（1“）设置磨削控制程序的磨削控制曲线（25）），根据研磨装置的研磨头（2）的研磨过程中的曲线在基本上与工件（1）的旋转轴线（1'）平行的方向（Z方向）上移动和/ 或者磨削头（2）的磨削装置旋转得更慢，和/或工件（1）在表面部分（21）的较小位置处更快地旋转，该表面部分（21）的点距离工件（1）和磨头（2）在与工件的旋转轴线基本平行的方向（Z方向）上移动得更慢，和/或磨削头（2）的磨削装置旋转得更快和/或工件（1）在表面部分（22）突出的点处旋转得更慢更多地来自目标表面的线（20）。本发明还涉及一种可移动研磨装置。

98. 发明申请

WO2012120100A1 DISPOSITIF DE MESURE DE L'ETAT DE SURFACE D'UNE SURFACE 审中-公开
标题翻译：用于测量表面的表面状态的装置
公开(公告)号：WO2012120100A1
公开(公告)日：2012-09-13
申请号：PCT/EP2012/054051
申请日：2012-03-08
申请人： COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES , GIRARD, Claude
发明人： GIRARD, Claude
IPC分类号： G01B5/28 , F17C13/02 , G21C17/017
CPC分类号： G01B11/30 , G01B5/28 , G21C17/017
摘要： Dispositif (100) de mesure de l'état de surface d'une surface (200), ladite surface comprenant au moins une portion (210) présentant une courbure (211) de surface. Le dispositif (100) comporte une sonde (110) destinée à être en contact avec ladite portion (210) de surface, des moyens de contrainte destinés à contraindre la sonde (110) sur la surface (200) avec une contrainte sensiblement constante, des moyens de mesure du déplacement de la sonde agencés pour mesurer le déplacement de la sonde le long d'un axe sensiblement perpendiculaire à la surface (200), et des moyens de déplacement relatif (500) de la sonde. Les moyens de déplacement relatif (500) de la sonde sont adaptés pour déplacer la sonde relativement à la surface (200) uniquement selon une trajectoire suivant la courbure (211) de surface.
摘要翻译：本发明涉及一种用于测量表面（200）的表面状态的装置（100），所述表面包括具有表面曲率（211）的至少一部分（210）。装置（100）具有旨在与所述表面部分（210）接触的探针（110），用于以基本上恒定的应力来对表面（200）施加应力的应力装置，用于测量所述探针的移动被设计成测量所述探针沿着大致垂直于所述表面（200）的轴线的移动，以及用于所述探针的相对运动的装置（500）。用于探针的相对运动的装置（500）被设计成仅沿着表面曲率（211）的路径移动探针相对于表面（200）。

99. 发明申请

WO2012071560A1 MECHANICAL TESTING INSTRUMENTS INCLUDING ONBOARD DATA 审中-公开
标题翻译：机械测试仪器，包括板载数据
公开(公告)号：WO2012071560A1
公开(公告)日：2012-05-31
申请号：PCT/US2011/062129
申请日：2011-11-23
申请人： HYSITRON, INC. , YOUNG, Christopher, David , CARLSON, Daniel, Paul , KERANEN, Lucas, Paul , SCHIRER, Jeffrey, P.
发明人： YOUNG, Christopher, David , CARLSON, Daniel, Paul , KERANEN, Lucas, Paul , SCHIRER, Jeffrey, P.
IPC分类号： G01B5/28
CPC分类号： G01D18/008 , B82Y35/00 , G01B5/28 , G01B21/042 , G01N1/42 , G01N2203/0206 , G01N2203/021 , G01Q30/04 , G01Q40/00 , G01Q60/366
摘要： A method of calibrating a mechanical instrument assembly includes reading a memory device coupled with a mechanical testing instrument, the mechanical testing instrument having one or more mechanical characteristics with values unique to the mechanical testing instrument, and reading includes reading of one or more calibration values based on the one or more mechanical characteristic values. The method further includes calibrating the mechanical instrument assembly according to the one or more calibration values. The mechanical testing instrument is coupled with the mechanical instrument assembly.
摘要翻译：校准机械仪器组件的方法包括读取与机械测试仪器耦合的存储器件，所述机械测试仪器具有具有机械测试仪器独有的值的一个或多个机械特性，并且读数包括读取一个或多个校准值关于一个或多个机械特性值。该方法还包括根据一个或多个校准值校准机械仪器组件。机械测试仪器与机械仪器组件相结合。

100. 发明申请

WO2011146503A1 CONTROL SYSTEM AND METHOD USING AN ULTRASONIC AREA ARRAY 审中-公开
标题翻译：使用超声波区域的控制系统和方法
公开(公告)号：WO2011146503A1
公开(公告)日：2011-11-24
申请号：PCT/US2011/036834
申请日：2011-05-17
申请人： ULTRA-SCAN CORPORATION , SCHNEIDER, John, K. , KITCHENS, Jack, C.
发明人： SCHNEIDER, John, K. , KITCHENS, Jack, C.
IPC分类号： G01B5/28
CPC分类号： G01N29/34 , G06F3/03547 , G06F19/00 , G06F21/32 , G06F2203/0338
摘要： A computer control system and method is disclosed. The system includes a processor and an ultrasonic area-array sensor configured to receive a ridged surface, such as one or more digits of a hand. The processor acquires a first information set from the sensor, the first information set representing at least a portion of the ridged surface, acquires a second information set from the sensor, the second information set representing at least a portion of the ridged surface, compares the first information set with the second information set to identify a common feature of the ridged surface that is present in both the first information and second information sets, determines a first position of the common feature using the first information set, determines a second position of the common feature using the second information set, and calculates a control measurement by comparing the first and second positions.
摘要翻译：公开了一种计算机控制系统和方法。该系统包括处理器和超声波区域阵列传感器，其被配置为接收脊状表面，例如手的一位或多位数字。处理器从传感器获取第一信息集，表示脊状表面的至少一部分的第一信息集从传感器获取第二信息集，表示脊状表面的至少一部分的第二信息集，将利用第二信息集合设置的第一信息，以识别存在于第一信息和第二信息集中的脊状表面的共同特征，使用第一信息集确定公共特征的第一位置，确定第二位置共同特征，并且通过比较第一和第二位置来计算控制测量。

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