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    • 7. 发明申请
    • PROCEDE D'INSPECTION OPTIQUE D'UN OBJET
    • 光学检查对象的方法
    • WO2018024957A1
    • 2018-02-08
    • PCT/FR2017/051923
    • 2017-07-12
    • VIT
    • ROUX, Romain
    • G01N21/88G01B11/24G01N21/956
    • G01N21/95684G01B11/22G01B11/25G01N21/8851G01N2021/8893
    • L'invention concerne un Procédé d'assistance à l'inspection optique d'un objet (46) comprenant les étapes suivantes : détermination d'une première image tridimensionnelle de l'objet; détermination d'une première image bidimensionnelle en couleur ou en niveaux de gris de l'objet; détermination d'au moins une première fenêtre (Fl) sur la première image bidimensionnelle entourant un défaut potentiel (44, 48) de l'objet à partir de la première image tridimensionnelle et/ou de la première image bidimensionnelle; détermination d'une deuxième image bidimensionnelle correspondant à la première image bidimensionnelle en dehors de la première fenêtre et correspondant à une première carte de profondeur de l'objet dans la première fenêtre; et détermination d'une deuxième image tridimensionnelle (I3D') correspondant à la première image tridimensionnelle sur laquelle est appliquée la deuxième image bidimensionnelle.
    • 本发明涉及一种方法 援助à 对象(46)的光学检查包括以下步骤:确定所述对象的第一三维图像; 确定物体的颜色或灰度的第一二维图像; 至少确定围绕所述对象的潜在故障(44,48)的所述第一二维图像上的第一窗口(F1) 从第一三维图像和/或第一二维图像中选择第一三维图像; 确定对应于第二个二维图像 所述第一二维图像在所述第一窗口之外并且对应于所述第一二维图像 在第一窗口中的对象的第一深度图; 和确定彼此对应的第二三维图像(I3D'); 在其上应用第二个二维图像的第一个三维图像。

    • 8. 发明申请
    • 亀裂検出システム及び亀裂検出方法
    • 破碎检测系统和破裂检测方法
    • WO2015056790A1
    • 2015-04-23
    • PCT/JP2014/077718
    • 2014-10-17
    • 国立大学法人佐賀大学国立大学法人長崎大学
    • 伊藤 幸広志岐 和久松田 浩出水 亨
    • G01B11/16G01B11/30G01N25/72
    • G01N21/956G01L5/00G01N21/8851G01N25/72G01N2021/8893H05B6/02H05B6/36
    •  検出対象物の検出対象部位を加熱すると共に、検出対象部位の被膜面の加熱前後における撮像画像を画像解析して、検出対象部位の被膜面を損なうことなく得られる検出対象部位のひずみ分布から、亀裂を検出できる亀裂検出システムである。検出対象物50の検出対象部位51を撮像手段10で撮像した後、加熱手段20で加熱し、この加熱による検出対象部位の変化は、検出対象部位と共に動く外側の被膜を通じて表面にも現れるため、再度検出対象部位を被膜ごと撮像し、加熱前後の撮像画像を画像解析手段30で解析して、検出対象部位のひずみ分布を取得し、亀裂部分とそれ以外の部分とのひずみ状態の差異から亀裂を検出可能とする。これにより、被膜ごと検出対象部位を撮像すれば問題なく解析を進めて亀裂を検出でき、被膜を除去する必要が無く、検出作業の作業効率を向上させられる。
    • 一种裂纹检测系统,其能够加热检测对象的检测对象区域,分析在检测对象区域的被覆表面加热之前和之后拍摄的图像,以及从所获得的检测对象区域的应变分布检测裂纹, 检测对象区域的表面。 检测对象(50)的检测对象区域(51)的图像由摄像单元(10)取出,之后,利用加热单元(20)对检测对象区域(51)进行加热, 由加热引起的检测对象区域也出现在与检测对象区域一起移动的外部涂层的表面上。 因此,对于每个涂层重新检测目标区域的图像,通过图像分析装置(30)分析加热之前和之后拍摄的图像,获取检测对象区域的应变分布,并且可以从 裂纹部分和非裂纹部分之间的应变状态差。 通过该结构,能够不间断地进行分析,能够通过拍摄各涂膜的检测对象区域的图像来检测破裂,不需要去除涂膜,提高检测的工作效率。
    • 9. 发明申请
    • 外観検査装置及び外観検査方法
    • 视觉检测设备和视觉检测方法
    • WO2013128705A1
    • 2013-09-06
    • PCT/JP2012/077246
    • 2012-10-22
    • WIT株式会社内海 正人
    • 内海 正人
    • G01N21/956G01B11/00G01B11/24H05K3/34H05K13/08
    • G01B11/00G01B11/25G01N21/8851G01N21/95684G01N2021/8893G01N2021/95646H05K13/08
    •  プリント配線板に反りが生じた場合にも、検査ポイントを不良箇所に合わせて表示する。電子部品が実装された配線基板(5)を支持する支持部(6)と、検査対象となる電子部品を斜め上方から撮像する第1の撮像装置(7)と、配線基板(5)の法線方向に拡散し、対象電子部品について設定された要検査部位を通過する扇状光を上方から照射する照射装置(8)と、第1の撮像装置(7)が撮像した映像を表示するモニタ4とを備え、照射装置(8)の扇状光と、第1の撮像装置(7)の光軸α1とは90°をなし、モニタ4には、第1の撮像装置(7)の映像において、照射装置(8)の扇状光と直交する上下方向のラインLが表示され、扇状光とラインLとの交点Pを電子部品の実装状態を検査する検査ポイントとする。
    • 该目视检查装置即使在印刷电路板中产生翘曲,也显示与故障区域对应的检查点。 该装置设有:支撑单元(6),其支撑安装有电子部件的布线板(5); 第一图像拾取装置(7),从对角上方拾取要检查的电子部件的图像; 照射装置(8),其从沿着布线基板(5)的法线方向扩散的扇形光的上方散射,并且穿过需要检查的区域,所述区域被设定为 到要检查的电子元件; 以及显示器(4),其显示借助于第一图像拾取装置(7)拾取的图像。 在从照射装置(8)辐射的扇形光与第一摄像装置(7)的光轴(α1)之间形成90°的角度,监视器(4)以 第一图像拾取装置(7),与从照射装置(8)辐射的扇形光正交的垂直方向上的线(L)和扇形光与线的交点(P) L)被设定为要检查电子部件的安装状态的检查点。