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    • 1. 发明授权
    • Design-for-test-aware hierarchical design planning
    • 设计为测试感知层次设计规划
    • US07937677B2
    • 2011-05-03
    • US12123209
    • 2008-05-19
    • Hung-Chun ChienBen MathewPadmashree TakkarsBang LiuChang-Wei TaiXiao-Ming XiongGary K. Yeap
    • Hung-Chun ChienBen MathewPadmashree TakkarsBang LiuChang-Wei TaiXiao-Ming XiongGary K. Yeap
    • G06F17/50
    • G06F17/505G06F2217/14
    • Full-chip scan data can be advantageously used during design planning to minimize top-level scan wires and scan feedthroughs. The scan cells can be reordered using a modified cost function to promote connecting all scan cells in one plan group before crossing to a scan cell in another plan group. The modified cost function can take into account penalty parameters. The penalty parameters can include at least one of: membership in a plan group or a top-level physical hierarchy, size of a plan group, FLOATING/ORDERED scan element in scan data, location of endpoints of an ORDERED list, location of endpoints of a macro, and membership in a plan group containing a STOP point. Scan data, at the block-level and at the top-level, can be automatically updated to reflect the plan groups and optimized scan chains.
    • 在设计规划期间可以有利地使用全片扫描数据,以最小化顶层扫描线和扫描馈通。 扫描单元可以使用修改的成本函数重新排序,以促进连接一个计划组中的所有扫描单元,然后再与另一个计划组中的扫描单元交叉。 修改的成本函数可以考虑惩罚参数。 惩罚参数可以包括以下中的至少一个:计划组或顶层物理层次结构中的成员身份,计划组的大小,扫描数据中的FLOATING / ORDERED扫描元素,ORDERED列表的端点的位置, 宏,以及包含STOP点的计划组中的成员资格。 可以自动更新块级和顶级的扫描数据,以反映计划组和优化的扫描链。