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热词
    • 2. 发明授权
    • Semiconductor memory device and method of testing a sense amplifier of the same
    • 半导体存储器件及其测试方法
    • US08369167B2
    • 2013-02-05
    • US12984217
    • 2011-01-04
    • Tomohiro Sawada
    • Tomohiro Sawada
    • G11C29/02
    • G11C29/12G11C2029/1204
    • A semiconductor device includes the following elements. A sense amplifier amplifies signal on a bit line. A column switch is between the bit line and a local input-output line. A sub-amplifier amplifies signal on the local input-output line. A write switch is between the local input-output line and a main input-output line. A write amplifier amplifies write data and supplies the amplified write data to the main input-output line when data write operation is performed. A test circuit activates the sense amplifier while the test circuit deactivating the sub-amplifier and the write amplifier when a data read operation is performed in test mode. The test circuit places the column switch and the write switch in conductive state.
    • 半导体器件包括以下元件。 读出放大器放大位线上的信号。 列开关位于位线和本地输入 - 输出线之间。 子放大器放大本地输入输出线上的信号。 写入开关位于本地输入 - 输出线和主输入 - 输出线之间。 当执行数据写入操作时,写入放大器放大写入数据并将放大的写入数据提供给主输入 - 输出线。 当在测试模式下执行数据读取操作时,测试电路激活读出放大器,同时测试电路停用子放大器和写放大器。 测试电路将列开关和写开关置于导通状态。
    • 3. 发明申请
    • SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF TESTING THE SAME
    • 半导体存储器件及其测试方法
    • US20110164464A1
    • 2011-07-07
    • US12984217
    • 2011-01-04
    • Tomohiro SAWADA
    • Tomohiro SAWADA
    • G11C29/04
    • G11C29/12G11C2029/1204
    • A semiconductor device includes the following elements. A sense amplifier amplifies signal on a bit line. A column switch is between the bit line and a local input-output line. A sub-amplifier amplifies signal on the local input-output line. A write switch is between the local input-output line and a main input-output line. A write amplifier amplifies write data and supplies the amplified write data to the main input-output line when data write operation is performed. A test circuit activates the sense amplifier while the test circuit deactivating the sub-amplifier and the write amplifier when a data read operation is performed in test mode. The test circuit places the column switch and the write switch in conductive state.
    • 半导体器件包括以下元件。 读出放大器放大位线上的信号。 列开关位于位线和本地输入 - 输出线之间。 子放大器放大本地输入输出线上的信号。 写入开关位于本地输入 - 输出线和主输入 - 输出线之间。 当执行数据写入操作时,写入放大器放大写入数据并将放大的写入数据提供给主输入 - 输出线。 当在测试模式下执行数据读取操作时,测试电路激活读出放大器,同时测试电路停用子放大器和写放大器。 测试电路将列开关和写开关置于导通状态。