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    • 5. 发明授权
    • Circuit for testing an integrated circuit
    • 用于测试集成电路的电路
    • US06781398B2
    • 2004-08-24
    • US10208252
    • 2002-07-30
    • Frank AdlerHartmut Berger
    • Frank AdlerHartmut Berger
    • G01R3126
    • G11C29/56G11C2029/5606
    • A test circuit for testing an integrated circuit, includes a test signal input for receiving a test signal from the integrated circuit and a reference signal input for receiving a reference signal. A comparator is in communication with the test signal input and with the reference signal input. The comparator is configured to provide, at a comparator output, an error signal if a comparison between the reference signal and the test signal indicates an error. The error signal, if present, is stored in an error memory, in communication with the comparator output.
    • 用于测试集成电路的测试电路包括用于从集成电路接收测试信号的测试信号输入端和用于接收参考信号的参考信号输入。 比较器与测试信号输入和参考信号输入通信。 如果参考信号和测试信号之间的比较指示错误,则比较器被配置为在比较器输出端提供误差信号。 错误信号(如果存在)存储在与比较器输出通信的错误存储器中。