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1. 发明专利

TW201602620A 光偵測器审中-公开
简体标题：光侦测器
公开(公告)号：TW201602620A
公开(公告)日：2016-01-16
申请号：TW104111251
申请日：2015-04-08
申请人：東芝股份有限公司 , KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
发明人：斉藤信美 , SAITO, NOBUYOSHI , 舟木英之 , FUNAKI, HIDEYUKI , 木村俊介 , KIMURA, SHUNSUKE , 中野慎太郎 , NAKANO, SHINTARO , 河田剛 , KAWATA, GO , 長谷川 , HASEGAWA, REI
IPC分类号： G01T1/208 , G01T1/24
CPC分类号： H04N5/378 , G01T1/208 , G01T1/248 , H01L27/14607 , H01L27/14636 , H01L31/107
摘要：根據一實施例，光偵側器包括複數個光電傳感器、複數個電阻器、及複數個重置區段。該等光電傳感器的每一個被建構來輸出源自將所接收之光轉換成電荷的偵測信號。該等電阻器的每一個係與在該電阻器之一端部的對應光電傳感器之輸出端串連地連接。該等重置區段的每一個係與對應電阻器平行地連接，且被建構來回應於該偵測信號將該對應光電傳感器的輸出端帶至重置位準。
简体摘要：根据一实施例，光侦侧器包括复数个光电传感器、复数个电阻器、及复数个重置区段。该等光电传感器的每一个被建构来输出源自将所接收之光转换成电荷的侦测信号。该等电阻器的每一个系与在该电阻器之一端部的对应光电传感器之输出端串连地连接。该等重置区段的每一个系与对应电阻器平行地连接，且被建构来回应于该侦测信号将该对应光电传感器的输出端带至重置位准。

2. 发明专利

TWI533013B 具延遲等化之經分割矽光電倍增器有权
简体标题：具延迟等化之经分割硅光电倍增器
公开(公告)号：TWI533013B
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：TW102145668
申请日：2013-12-11
申请人：豪威科技股份有限公司 , OMNIVISION TECHNOLOGIES, INC.
发明人：韋伯斯特艾瑞克A G , WEBSTER, ERIC A. G.
IPC分类号： G01T1/208 , G01J1/44
CPC分类号： H01L27/14634 , H01L27/144

3. 发明专利

TW201506435A 具延遲等化之經分割矽光電倍增器审中-公开
简体标题：具延迟等化之经分割硅光电倍增器
公开(公告)号：TW201506435A
公开(公告)日：2015-02-16
申请号：TW102145668
申请日：2013-12-11
申请人：豪威科技股份有限公司 , OMNIVISION TECHNOLOGIES, INC.
发明人：韋伯斯特艾瑞克A G , WEBSTER, ERIC A. G.
IPC分类号： G01T1/208 , G01J1/44
CPC分类号： H01L27/14634 , H01L27/144
摘要：一種光子偵測裝置包括一第一晶圓，其具有經分割為配置於該第一晶圓中之複數個光子偵測區塊的一光子偵測單元陣列。亦包括一第二晶圓，其具有配置於其上之複數個區塊讀出電路。一互連晶圓安置於該第一晶圓與該第二晶圓之間。該互連晶圓包括具有實質上相等長度之複數個導體。該複數個導體中之每一者耦接於該第一晶圓中的該複數個光子偵測區塊中之一對應者與該複數個區塊讀出電路中之一對應者之間，使得該複數個光子偵測區塊中之每一者與該複數個區塊讀出電路中之每一者之間的信號傳播延遲實質上相等。
简体摘要：一种光子侦测设备包括一第一晶圆，其具有经分割为配置于该第一晶圆中之复数个光子侦测区块的一光子侦测单元数组。亦包括一第二晶圆，其具有配置于其上之复数个区块读出电路。一互连晶圆安置于该第一晶圆与该第二晶圆之间。该互连晶圆包括具有实质上相等长度之复数个导体。该复数个导体中之每一者耦接于该第一晶圆中的该复数个光子侦测区块中之一对应者与该复数个区块读出电路中之一对应者之间，使得该复数个光子侦测区块中之每一者与该复数个区块读出电路中之每一者之间的信号传播延迟实质上相等。

4. 发明专利

TWI670508B 用於降低檢測系統中由輻射誘導的假計數之系統及方法有权
简体标题：用于降低检测系统中由辐射诱导的假计数之系统及方法
公开(公告)号：TWI670508B
公开(公告)日：2019-09-01
申请号：TW105114960
申请日：2016-05-13
申请人：美商克萊譚克公司 , KLA-TENCOR CORPORATION
发明人：江錫滿 , JIANG, XIMAN , 羅曼諾夫斯基阿那托利 , ROMANOVSKY, ANATOLY , 渥特斯克里斯堤安 , WOLTERS, CHRISTIAN , 比耶雅克史帝芬 , BIELLAK, STEPHEN
IPC分类号： G01T1/208 , G01T1/24

5. 发明专利

TW201706624A 用於降低檢測系統中由輻射誘導的假計數之系統及方法审中-公开
简体标题：用于降低检测系统中由辐射诱导的假计数之系统及方法
公开(公告)号：TW201706624A
公开(公告)日：2017-02-16
申请号：TW105114960
申请日：2016-05-13
申请人：克萊譚克公司 , KLA-TENCOR CORPORATION
发明人：江錫滿 , JIANG, XIMAN , 羅曼諾夫斯基阿那托利 , ROMANOVSKY, ANATOLY , 渥特斯克里斯堤安 , WOLTERS, CHRISTIAN , 比耶雅克史帝芬 , BIELLAK, STEPHEN
IPC分类号： G01T1/208 , G01T1/24
CPC分类号： G01T1/24 , G01N21/9501
摘要：本發明提供一種具有由輻射誘導的假計數緩解之檢測系統，其包含：一照明源，其經組態以照明一樣本；一偵測器總成，其包括經組態以偵測來自該樣本之照明之一照明感測器及經組態以偵測粒子輻射之一或多個輻射感測器；及控制電路，其通信地耦合至該偵測器。該控制電路經組態以執行以下步驟：基於從該等輻射感測器接收之一或多個輻射信號判定一輻射偵測事件集合；基於從該照明感測器接收之照明信號判定一成像事件集合；比較該輻射偵測事件集合與該成像事件集合以產生一重合事件集合，其中該重合事件集合包括同時成像事件及輻射偵測事件；及從該成像事件集合排除該重合事件集合以產生一經識別缺陷位點集合。
简体摘要：本发明提供一种具有由辐射诱导的假计数缓解之检测系统，其包含：一照明源，其经组态以照明一样本；一侦测器总成，其包括经组态以侦测来自该样本之照明之一照明传感器及经组态以侦测粒子辐射之一或多个辐射传感器；及控制电路，其通信地耦合至该侦测器。该控制电路经组态以运行以下步骤：基于从该等辐射传感器接收之一或多个辐射信号判定一辐射侦测事件集合；基于从该照明传感器接收之照明信号判定一成像事件集合；比较该辐射侦测事件集合与该成像事件集合以产生一重合事件集合，其中该重合事件集合包括同时成像事件及辐射侦测事件；及从该成像事件集合排除该重合事件集合以产生一经识别缺陷位点集合。

6. 发明专利

TWI599790B 加馬光子偵測成像裝置與方法有权
简体标题：加马光子侦测成像设备与方法
公开(公告)号：TWI599790B
公开(公告)日：2017-09-21
申请号：TW105120636
申请日：2016-06-29
申请人：長庚醫療財團法人林口長庚紀念醫院 , CHANG GUNG MEMORIAL HOSPITAL, LINKOU
发明人：詹美齡 , JAN, MEEI-LING , 洪志宏 , HONG, JI-HONG
IPC分类号： G01T1/202 , G01T1/208

7. 发明专利

TWI595256B 放射線檢測器有权
简体标题：放射线检测器
公开(公告)号：TWI595256B
公开(公告)日：2017-08-11
申请号：TW104133607
申请日：2015-10-14
申请人：島津製作所股份有限公司 , SHIMADZU CORPORATION
发明人：古宮哲夫 , FURUMIYA, TETSUO
IPC分类号： G01T1/20 , G01T1/208
CPC分类号： G01T1/2018 , G01T1/20 , G01T1/24

8. 发明专利

TW201800776A 加馬光子偵測成像裝置與方法审中-公开
简体标题：加马光子侦测成像设备与方法
公开(公告)号：TW201800776A
公开(公告)日：2018-01-01
申请号：TW105120636
申请日：2016-06-29
申请人：長庚醫療財團法人林口長庚紀念醫院 , CHANG GUNG MEMORIAL HOSPITAL, LINKOU
发明人：詹美齡 , JAN, MEEI-LING , 洪志宏 , HONG, JI-HONG
IPC分类号： G01T1/202 , G01T1/208
摘要：本發明提供一種加馬光子偵檢裝置，包括有複數個偵測探頭以及與該複數個成像探頭電訊連接的訊號處理電路，每一個偵測探頭具有複數層閃爍晶體偵檢器。利用該複數個偵測探頭偵測一目標物所產生的加馬光子，然後取得關於至少一第一時間段中每一個偵測探頭所產生之電訊號，並分別對每一個偵測探頭所具有的複數個鄰閃爍晶體偵檢器所產生的電訊號進行第一時訊符合演算，以得到對應複數個偵測探頭的複數個第一時訊相關數據。最後，取得關於至少一第二時間段中該每一個偵測探頭的第一層閃爍晶體偵檢器所產生的電訊號，並對進行一第二時訊符合演算，以得到複數對第二時訊相關數據。利用該第一和第二時訊相關數據進行活度分佈重建，以作為目標物內之反應位置與射程深度驗證的依據。
简体摘要：本发明提供一种加马光子侦检设备，包括有复数个侦测探头以及与该复数个成像探头电讯连接的信号处理电路，每一个侦测探头具有复数层闪烁晶体侦检器。利用该复数个侦测探头侦测一目标物所产生的加马光子，然后取得关于至少一第一时间段中每一个侦测探头所产生之电信号，并分别对每一个侦测探头所具有的复数个邻闪烁晶体侦检器所产生的电信号进行第一时讯符合演算，以得到对应复数个侦测探头的复数个第一时讯相关数据。最后，取得关于至少一第二时间段中该每一个侦测探头的第一层闪烁晶体侦检器所产生的电信号，并对进行一第二时讯符合演算，以得到复数对第二时讯相关数据。利用该第一和第二时讯相关数据进行活度分布重建，以作为目标物内之反应位置与射程深度验证的依据。

9. 发明专利

TW201616153A 放射線檢測器审中-公开
简体标题：放射线检测器
公开(公告)号：TW201616153A
公开(公告)日：2016-05-01
申请号：TW104133607
申请日：2015-10-14
申请人：島津製作所股份有限公司 , SHIMADZU CORPORATION
发明人：古宮哲夫 , FURUMIYA, TETSUO
IPC分类号： G01T1/20 , G01T1/208
CPC分类号： G01T1/2018 , G01T1/20 , G01T1/24
摘要：本發明提供一種放射線檢測器，是以藉由反射材來將閃爍體陣列劃分成每個區域的方式構成。在由反射材劃分而成的每個區域內具備第1加算器41，該第1加算器41在由該反射材劃分而成的區域內，將經放大器30分別放大的多個訊號相加。進而，在由反射材劃分而成的每個區域內具備第1觸發訊號生成電路42，該第1觸發訊號生成電路42生成經第1加算器41相加的訊號的觸發訊號。藉此，可與由反射材劃分而成的區域量相應地減少將訊號相加時的各放大器30的固有雜訊的重疊，從而可提高SN比而降低雜訊自身。
简体摘要：本发明提供一种放射线检测器，是以借由反射材来将闪烁体数组划分成每个区域的方式构成。在由反射材划分而成的每个区域内具备第1加算器41，该第1加算器41在由该反射材划分而成的区域内，将经放大器30分别放大的多个信号相加。进而，在由反射材划分而成的每个区域内具备第1触发信号生成电路42，该第1触发信号生成电路42生成经第1加算器41相加的信号的触发信号。借此，可与由反射材划分而成的区域量相应地减少将信号相加时的各放大器30的固有噪声的重叠，从而可提高SN比而降低噪声自身。

10. 发明专利

TWI507710B 放射線檢測器模組有权
简体标题：放射线检测器模块
公开(公告)号：TWI507710B
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：TW100104319
申请日：2011-02-09
申请人：濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：十倉史行 , TOKURA, FUMIYUKI , 杉谷光俊 , SUGIYA, MITSUTOSHI , 鈴木滋 , SUZUKI, SHIGERU , 富部隆志 , TONBE, TAKASHI
IPC分类号： G01T1/20 , G01T1/208
CPC分类号： G01T1/2018 , H01L27/14634 , H01L27/14661 , H01L27/14663

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