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1. 发明专利

TWI699547B 放射線影像變換面板、放射線影像變換面板之製造方法、放射線影像感測器及放射線影像感測器之製造方法有权
简体标题：放射线影像变换皮肤、放射线影像变换皮肤之制造方法、放射线影像传感器及放射线影像传感器之制造方法
公开(公告)号：TWI699547B
公开(公告)日：2020-07-21
申请号：TW105129606
申请日：2016-09-12
申请人：日商濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K. K.
发明人：白川和広 , SHIRAKAWA, KAZUHIRO , 黨章紀 , TOU, AKINORI
IPC分类号： G01T1/20 , G21K4/00

2. 发明专利

TWI674428B 放射線檢測器及其製造方法有权
简体标题：放射线检测器及其制造方法
公开(公告)号：TWI674428B
公开(公告)日：2019-10-11
申请号：TW105104763
申请日：2016-02-18
申请人：日商濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K. K.
发明人：吉田成浩 , YOSHIDA, NARIHIRO , 榑林章仁 , KUREBAYASHI, SYOUJI , 吉田聖崇 , YOSHIDA, KIYOTAKA
IPC分类号： G01T1/20

3. 发明专利

TWI666464B 中子束檢測系統及中子束檢測系統的設定方法有权
简体标题：中子束检测系统及中子束检测系统的设置方法
公开(公告)号：TWI666464B
公开(公告)日：2019-07-21
申请号：TW107104964
申请日：2018-02-12
申请人：日商住友重機械工業股份有限公司 , SUMITOMO HEAVY INDUSTRIES, LTD.
发明人：赤堀清崇 , AKABORI, KIYOTAKA
IPC分类号： G01T1/20 , G01T3/00

4. 发明专利

TWI638180B 成像器件及電子裝置有权
简体标题：成像器件及电子设备
公开(公告)号：TWI638180B
公开(公告)日：2018-10-11
申请号：TW102143595
申请日：2013-11-28
申请人：索尼半導體解決方案公司 , SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION
发明人：西原利幸 , NISHIHARA, TOSHIYUKI , 角博文 , SUMI, HIROFUMI
IPC分类号： G01T1/20 , G21K4/00 , A61B6/00

5. 发明专利

TW201833585A 適用於脈沖輻射源的具有閃爍體的輻射檢測器审中-公开
简体标题：适用于脉冲辐射源的具有闪烁体的辐射检测器
公开(公告)号：TW201833585A
公开(公告)日：2018-09-16
申请号：TW106135742
申请日：2017-10-18
申请人：中國大陸商深圳幀觀德芯科技有限公司 , SHENZHEN XPECTVISION TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：曹培炎 , CAO, PEIYAN , 劉雨潤 , LIU, YURUN
IPC分类号： G01T1/20
摘要：本文公開輻射檢測器。其包括：被配置為基於對來自脈沖輻射源的第一輻射的接受而發射第二輻射的閃爍體，多個圖元，以及控制器；其中每個圖元被配置為檢測第二輻射；其中所述脈沖輻射源被配置為在多個ON周期期間發射所述第一輻射，並且被配置為在多個OFF周期期間不發射所述第一輻射；其中所述控制器被配置為確定所述脈沖輻射源是處於所述ON周期中的一個或處於所述OFF周期中的一個；其中所述控制器被配置為：基於對所述輻射源是處於所述ON周期中的一個或處於所述OFF周期中的一個，來確定使所述圖元整合信號或不整合信號。
简体摘要：本文公开辐射检测器。其包括：被配置为基于对来自脉冲辐射源的第一辐射的接受而发射第二辐射的闪烁体，多个图元，以及控制器；其中每个图元被配置为检测第二辐射；其中所述脉冲辐射源被配置为在多个ON周期期间发射所述第一辐射，并且被配置为在多个OFF周期期间不发射所述第一辐射；其中所述控制器被配置为确定所述脉冲辐射源是处于所述ON周期中的一个或处于所述OFF周期中的一个；其中所述控制器被配置为：基于对所述辐射源是处于所述ON周期中的一个或处于所述OFF周期中的一个，来确定使所述图元集成信号或不集成信号。

6. 实用新型

TWM566814U 影像感測器結構改良有权
简体标题：影像传感器结构改良
公开(公告)号：TWM566814U
公开(公告)日：2018-09-11
申请号：TW107202403
申请日：2018-02-14
申请人：國家中山科學研究院 , NATIONAL CHUNG-SHAN INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
发明人：張景星 , CHANG, CHING HSING , 林郁博 , LIN, YU BO , 陳宗麟 , CHEN, ZONG LIN , 黃科志 , HUANG, KER JER
IPC分类号： G01T1/20

7. 发明专利

TW201809722A 計數方法以及放射線檢測裝置审中-公开
简体标题：计数方法以及放射线检测设备
公开(公告)号：TW201809722A
公开(公告)日：2018-03-16
申请号：TW106124514
申请日：2017-07-21
申请人：德山股份有限公司 , TOKUYAMA CORPORATION
发明人：油谷真人 , ABURATANI, MAKOTO , 福田健太郎 , FUKUDA, KENTARO
IPC分类号： G01T1/20 , G01T1/24 , G01T3/06 , A61N5/10
CPC分类号： A61N5/10 , G01T1/17 , G01T1/20 , G01T1/202 , G01T3/06
摘要：本發明之課題，係提供一種計數方法，其係在從計數率低的狀況起至高的狀況為止之寬闊的範圍，精確度良好地計數放射線等。本發明之解決手段，係一種計數方法，其係設定波高識別臨限值並計數大於該波高識別臨限值之信號頻率的方法，在計數的目的成分係在波高分布光譜顯示尖峰時，係將針對前述尖峰進行高斯函數擬合而求得之平均波高值設為μ，標準偏差設為σ時，將選自(μ-0.4σ)~(μ+0.6σ)的範圍之任意值設為前述波高識別臨限值之計數方法，與一種放射線檢測裝置，其係藉由該計數方法而進行信號處理。藉由本發明的計數方法以及放射線檢測裝置時，能夠減小堆積對計數值所造成的誤差，而能夠從放射線劑量率低的狀況起至高的狀況為止之寬闊的範圍，精確度良好地計數放射線等。
简体摘要：本发明之课题，系提供一种计数方法，其系在从计数率低的状况起至高的状况为止之宽阔的范围，精确度良好地计数放射线等。本发明之解决手段，系一种计数方法，其系设置波高识别临限值并计数大于该波高识别临限值之信号频率的方法，在计数的目的成分系在波高分布光谱显示尖峰时，系将针对前述尖峰进行高斯函数拟合而求得之平均波高值设为μ，标准偏差设为σ时，将选自(μ-0.4σ)~(μ+0.6σ)的范围之任意值设为前述波高识别临限值之计数方法，与一种放射线检测设备，其系借由该计数方法而进行信号处理。借由本发明的计数方法以及放射线检测设备时，能够减小堆积对计数值所造成的误差，而能够从放射线剂量率低的状况起至高的状况为止之宽阔的范围，精确度良好地计数放射线等。

8. 发明专利

TW201805652A 放射線檢測器审中-公开
简体标题：放射线检测器
公开(公告)号：TW201805652A
公开(公告)日：2018-02-16
申请号：TW106114423
申请日：2017-05-02
申请人：東芝電子管設備股份有限公司 , TOSHIBA ELECTRON TUBES & DEVICES CO., LTD.
发明人：榛葉勇一 , SHIMBA, YUICHI
IPC分类号： G01T1/20 , G01T7/00
CPC分类号： G01T1/20 , G01T7/00
摘要：本發明之實施形態之放射線檢測器具備：陣列基板，其具有複數個光電轉換元件；閃爍器，其設置於上述複數個光電轉換元件上，並將入射之放射線轉換為螢光；電路基板，其設置於上述陣列基板之設置有上述閃爍器之側之相反側；可撓性印刷基板，其將設置於上述陣列基板之複數條配線、與設置於上述電路基板之複數條配線電性連接；及半導體元件，其於自上述放射線之入射方向觀察時，以位於上述閃爍器之下方之方式設置於上述可撓性印刷基板。
简体摘要：本发明之实施形态之放射线检测器具备：数组基板，其具有复数个光电转换组件；闪烁器，其设置于上述复数个光电转换组件上，并将入射之放射线转换为萤光；电路基板，其设置于上述数组基板之设置有上述闪烁器之侧之相反侧；可挠性印刷基板，其将设置于上述数组基板之复数条配线、与设置于上述电路基板之复数条配线电性连接；及半导体组件，其于自上述放射线之入射方向观察时，以位于上述闪烁器之下方之方式设置于上述可挠性印刷基板。

9. 发明专利

TW201743121A 閃爍器面板及其製造方法、以及放射線檢測裝置审中-公开
简体标题：闪烁器皮肤及其制造方法、以及放射线检测设备
公开(公告)号：TW201743121A
公开(公告)日：2017-12-16
申请号：TW106113203
申请日：2017-04-20
申请人：東麗股份有限公司 , TORAY INDUSTRIES, INC.
发明人：藤岡伸康 , FUJIOKA, NOBUYASU , 森永智博 , MORINAGA, TOMOHIRO
IPC分类号： G02F1/13357 , G03F7/20 , G01T1/20
CPC分类号： G21K4/00
摘要：本發明提供一種閃爍器面板，其係具有隔牆構造之閃爍器面板，其中能夠與對向的受光基板的光電轉換元件高精密度地校準、貼合。本發明為一種閃爍器面板，其係在被形成於片狀基材的格子狀隔牆所區隔的槽中，填充接受放射線而發光的螢光體而製成畫素構造之閃爍器面板，其特徵為：面板外周部的非顯示區域的一部分的表面和背面皆具有前述格子狀隔牆露出的部分，該露出部具有透光性。
简体摘要：本发明提供一种闪烁器皮肤，其系具有隔墙构造之闪烁器皮肤，其中能够与对向的受光基板的光电转换组件高精密度地校准、贴合。本发明为一种闪烁器皮肤，其系在被形成于片状基材的格子状隔墙所区隔的槽中，填充接受放射线而发光的萤光体而制成像素构造之闪烁器皮肤，其特征为：皮肤外周部的非显示区域的一部分的表面和背面皆具有前述格子状隔墙露出的部分，该露出部具有透光性。

10. 发明专利

TWI607229B 閃爍器板及放射線檢測器與放射線檢測器的製造方法有权
简体标题：闪烁器板及放射线检测器与放射线检测器的制造方法
公开(公告)号：TWI607229B
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：TW102115903
申请日：2013-05-03
申请人：濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：上西秀典 , JONISHI, HIDENORI , 式田宗功 , SHIKIDA, MUNENORI , 楠山泰 , KUSUYAMA, YUTAKA
IPC分类号： G01T1/20
CPC分类号： G01T1/2006 , G01T1/2018 , G01T1/202 , G21K4/00 , G21K2004/10 , G21K2004/12 , Y10T428/239

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