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    • 3. 发明专利
    • 電漿處理裝置及電漿處理方法
    • 等离子处理设备及等离子处理方法
    • TW200810613A
    • 2008-02-16
    • TW096104878
    • 2007-02-09
    • 東京威力科創股份有限公司 TOKYO ELECTRON LIMITED
    • 田才忠 TIAN, CAI ZHONG野澤俊久 NOZAWA, TOSHIHISA
    • H05H
    • H01J37/32192H01J37/32211
    • 本發明之電漿處理裝置,其特徵為具備:處理容器,開設有天井部,內部可抽成真空;載置台,設於上述處理容器內,用於載置被處理體;天板,氣密安裝於上述天井部之開口,由可透過微波之介電體構成;氣體導入手段,用於對上述處理容器內導入必要之氣體;平面天線構件,設於上述天板之中央部上面,為將特定傳導模態之微波導入上述處理容器內而形成有微波放射用縫隙;附加縫隙之導波管,設於上述天板之周邊部上面,為將和上述平面天線構件所導入微波不同傳導模態之微波導入上述處理容器內而形成有微波放射用縫隙;及微波供給手段,用於將微波供給至上述平面天線構件與微波附加縫隙之導波管。
    • 本发明之等离子处理设备,其特征为具备:处理容器,开设有天井部,内部可抽成真空;载置台,设于上述处理容器内,用于载置被处理体;天板,气密安装于上述天井部之开口,由可透过微波之介电体构成;气体导入手段,用于对上述处理容器内导入必要之气体;平面天线构件,设于上述天板之中央部上面,为将特定传导模态之微波导入上述处理容器内而形成有微波放射用缝隙;附加缝隙之导波管,设于上述天板之周边部上面,为将和上述平面天线构件所导入微波不同传导模态之微波导入上述处理容器内而形成有微波放射用缝隙;及微波供给手段,用于将微波供给至上述平面天线构件与微波附加缝隙之导波管。