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1. 发明专利

TW201702551A 高準確度即時鑑別光電玻璃基板的裝置及其方法审中-公开
简体标题：高准确度实时鉴别光电玻璃基板的设备及其方法
公开(公告)号：TW201702551A
公开(公告)日：2017-01-16
申请号：TW104121499
申请日：2015-07-02
申请人：郭達仁 , KUO, TA JEN
发明人：郭達仁 , KUO, TA JEN , 蔡榮華 , TSAI, RUNG HUA
IPC分类号： G01B11/06
CPC分类号： G06T7/0004 , G06T7/0006 , G06T7/70 , G06T2207/30121 , G06T2207/30148
摘要：本發明提供一種高準確度即時鑑別光電玻璃基板的裝置，包括：一雷射裝置，係發出雷射光；一玻璃基板，係具有第一表面以及第二表面，該玻璃基板接收該雷射光並產生第一雷射光束點以及第二雷射光束點；以及一感光耦合元件攝影機檢測設備；其中，該第一雷射光束點具有一第一點面積，該第二雷射光束點具有一第二點面積，當該第一點面積移動一玻璃距離數並與該第二點面積相對後，該感光耦合元件攝影機檢測設備藉由一解析度值及該玻璃距離數以獲得該玻璃基板的一厚度值；再者本發明亦提供一種高準確度即時鑑別光電玻璃基板的方法。
简体摘要：本发明提供一种高准确度实时鉴别光电玻璃基板的设备，包括：一激光设备，系发出激光光；一玻璃基板，系具有第一表面以及第二表面，该玻璃基板接收该激光光并产生第一激光光束点以及第二激光光束点；以及一感光耦合组件摄影机检测设备；其中，该第一激光光束点具有一第一点面积，该第二激光光束点具有一第二点面积，当该第一点面积移动一玻璃距离数并与该第二点面积相对后，该感光耦合组件摄影机检测设备借由一分辨率值及该玻璃距离数以获得该玻璃基板的一厚度值；再者本发明亦提供一种高准确度实时鉴别光电玻璃基板的方法。

2. 发明专利

TWI563273B 用於辨識具有週期性特徵之一電子電路中之一缺陷之裝置及方法與其電腦可讀取記錄媒體有权
简体标题：用于辨识具有周期性特征之一电子电路中之一缺陷之设备及方法与其电脑可读取记录媒体
公开(公告)号：TWI563273B
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：TW101117985
申请日：2012-05-21
申请人：烽騰科技有限公司 , PHOTON DYNAMICS, INC.
发明人：莫奇契夫尼柯雷 , MOKICHEV, NICKOLAY
IPC分类号： G01R31/308 , G06K9/78 , G01N21/88
CPC分类号： G06T7/001 , G01N21/95 , G01N2021/9513 , G06T2207/30121

3. 发明专利

TWI550448B 導電片、觸控面板、顯示裝置以及記錄媒體有权
简体标题：导电片、触摸皮肤、显示设备以及记录媒体
公开(公告)号：TWI550448B
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：TW101136704
申请日：2012-10-04
申请人：富士軟片股份有限公司 , FUJIFILM CORPORATION
发明人：岩見一央 , IWAMI, KAZUCHIKA
IPC分类号： G06F3/041
CPC分类号： G02F1/13338 , G06F3/044 , G06F3/045 , G06F2203/04112 , G06T7/0004 , G06T2207/30121 , G06T2207/30141 , H05K1/0296 , H05K3/12

4. 发明专利

TW201109645A 基板檢查方法，基板檢查裝置及記憶媒體审中-公开
简体标题：基板检查方法，基板检查设备及记忆媒体
公开(公告)号：TW201109645A
公开(公告)日：2011-03-16
申请号：TW098140990
申请日：2009-12-01
申请人：東京威力科創股份有限公司
发明人：岩永修兒 , 久野和哉
IPC分类号： G01N , H01L , G06K
CPC分类号： G06T7/001 , G06T7/33 , G06T2207/30121 , G06T2207/30148
摘要：本發明是在於提供一種可高精度進行基板的檢查之基板檢查方法。藉由攝影機來攝取包含3次元的世界座標系的座標為已知的基準點之樣板,取得依據攝像元件的像素群來特定之畫像座標系上的前述基準點的座標。而且,將該基準點的座標變換成被設定於攝影機的攝影機座標系的座標,藉由運算來求取世界座標系與攝影機座標系的變換參數。然後,利用該變換參數來將攝取被檢查基板而取得的像素座標系上的畫像資料變換成世界座標系上的畫像資料,進行檢查。此世界座標系的被檢查基板的畫像,因為攝像手段的位置及姿勢所造成的變形會被抑制,所以可提高被檢查基板的檢查精度。
简体摘要：本发明是在于提供一种可高精度进行基板的检查之基板检查方法。借由摄影机来摄取包含3次元的世界座标系的座标为已知的基准点之样板,取得依据摄像组件的像素群来特定之画像座标系上的前述基准点的座标。而且,将该基准点的座标变换成被设置于摄影机的摄影机座标系的座标,借由运算来求取世界座标系与摄影机座标系的变换参数。然后,利用该变换参数来将摄取被检查基板而取得的像素座标系上的画像数据变换成世界座标系上的画像数据,进行检查。此世界座标系的被检查基板的画像,因为摄像手段的位置及姿势所造成的变形会被抑制,所以可提高被检查基板的检查精度。

5. 发明专利

TW200732655A 週期性結構之檢查方法及系統 METHOD AND SYSTEM FOR THE INSPECTION OF A PERIODIC STRUCTURE 审中-公开
简体标题：周期性结构之检查方法及系统 METHOD AND SYSTEM FOR THE INSPECTION OF A PERIODIC STRUCTURE
公开(公告)号：TW200732655A
公开(公告)日：2007-09-01
申请号：TW095148724
申请日：2006-12-25
申请人：伊斯拉視像系統公司 ISRA VISION AG.
发明人：艾尼斯厄蘇 ENIS ERS , 沃夫倫勞克斯 WOLFRAM LAUX
IPC分类号： G01N , G06K
CPC分类号： G01N21/95607 , G01N2021/9513 , G06K9/525 , G06T7/0002 , G06T7/0004 , G06T7/001 , G06T2207/30121
摘要：一種週期性結構(1)之檢查方法及系統,其使用一個具有像素結構(2)之光學攝影裝置,其所攝取之影像(6)與一無缺陷的週期性結構(1)參考影像(4)相比較。為了簡單及可靠地找出缺陷,本發明在參考影像(4)之至少一個位置(X,Y)處,找出參考影像中週期性結構(1)相對於光學攝影裝置之像素結構(2)的相位(相X、相Y)。所攝取之影像(6)被分成數個檢查區(7),對每一檢查區(7)檢測出週期性結構(1)對光學攝影裝置之像素結構(2)的相位(相X、相Y),選出一個相位(相X、相Y)與檢查區(7)相對應的參考影像區(8),而使檢查區(7)和參考影像(4)相比較。
简体摘要：一种周期性结构(1)之检查方法及系统,其使用一个具有像素结构(2)之光学摄影设备,其所摄取之影像(6)与一无缺陷的周期性结构(1)参考影像(4)相比较。为了简单及可靠地找出缺陷,本发明在参考影像(4)之至少一个位置(X,Y)处,找出参考影像中周期性结构(1)相对于光学摄影设备之像素结构(2)的相位(相X、相Y)。所摄取之影像(6)被分成数个检查区(7),对每一检查区(7)检测出周期性结构(1)对光学摄影设备之像素结构(2)的相位(相X、相Y),选出一个相位(相X、相Y)与检查区(7)相对应的参考影像区(8),而使检查区(7)和参考影像(4)相比较。

6. 发明专利

TWI557689B 焦點識別系統及方法有权
简体标题：焦点识别系统及方法
公开(公告)号：TWI557689B
公开(公告)日：2016-11-11
申请号：TW102115136
申请日：2013-04-26
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：張旨光 , CHANG, CHIH KUANG , 陳佳佳 , CHEN, JIA-JIA , 袁忠奎 , YUAN, ZHONG-KUI , 蔣理 , JIANG, LI , 李東海 , LI, DONG-HAI , 薛曉光 , XUE, XIAO-GUANG
IPC分类号： G06T7/00 , H04N5/232
CPC分类号： H04N5/23212 , G06T7/0002 , G06T2207/10016 , G06T2207/30121

7. 发明专利

TW201439525A 用於ＯＬＥＤ堆疊膜之品質評價的系統、裝置及方法审中-公开
简体标题：用于ＯＬＥＤ堆栈膜之品质评价的系统、设备及方法
公开(公告)号：TW201439525A
公开(公告)日：2014-10-16
申请号：TW103105246
申请日：2014-02-18
申请人：凱特伊夫公司 , KATEEVA, INC.
发明人：寇可克里斯多福 , COCCA, CHRISTOPHER
IPC分类号： G01N21/95 , H01L27/32 , H01L21/66
CPC分类号： H01L51/56 , G06T7/0004 , G06T7/0008 , G06T7/001 , G06T2207/10024 , G06T2207/20072 , G06T2207/30121 , H01L51/0004 , H01L51/0031
摘要：本揭示提出用於評估有機發光二極體(“OLED“)裝置之沉積薄膜疊層之品質的技術。一影像被拍攝及過濾以辨識出一待分析之沉積疊層。代表此疊層的影像資料可以選擇性地被轉換成亮度(灰階)資料。一梯度函數接著被套用以強調該沉積疊層中的不連續。不連續接著被與一或多個門檻值進行比較，並被用以確認沉積疊層之品質，接著並施用選擇性的矯治措施。揭示技術可以現場套用，以在實施後續製造步驟之前，迅速地辨識諸如脫層之潛在瑕疵。在選擇性實施例之中，可以根據判定瑕疵是否存在而採取矯治措施。
简体摘要：本揭示提出用于评估有机发光二极管(“OLED“)设备之沉积薄膜叠层之品质的技术。一影像被拍摄及过滤以辨识出一待分析之沉积叠层。代表此叠层的影像数据可以选择性地被转换成亮度(灰阶)数据。一梯度函数接着被套用以强调该沉积叠层中的不连续。不连续接着被与一或多个门槛值进行比较，并被用以确认沉积叠层之品质，接着并施用选择性的矫治措施。揭示技术可以现场套用，以在实施后续制造步骤之前，迅速地辨识诸如脱层之潜在瑕疵。在选择性实施例之中，可以根据判定瑕疵是否存在而采取矫治措施。

8. 发明专利

TW201324259A 使用者介面顯示裝置审中-公开
简体标题：用户界面显示设备
公开(公告)号：TW201324259A
公开(公告)日：2013-06-16
申请号：TW101130802
申请日：2012-08-24
申请人：日東電工股份有限公司 , NITTO DENKO CORPORATION
发明人：十二紀行 , JUNI, NORIYUKI
IPC分类号： G06F3/033 , G06K9/78
CPC分类号： G06F3/0304 , G06F3/017 , G06F3/0425 , G06K9/00355 , G06T7/136 , G06T7/194 , G06T7/292 , G06T2207/30121
摘要：本發明係將具有成像功能之透鏡等光學面板與以操作者為基準之假想水平面平行地配置以使其光軸與該假想水平面垂直相交，並將具有顯示功能之平板顯示器以顯示面對假想水平面傾斜預定角度之狀態，使其顯示面朝上而偏置配置於光學面板之下方。又，朝指尖投射光之光源與拍攝該指尖所引起之光之反射的光學拍攝機構(照相機)成對配設於成像於光學面板之上方之空間像的下方或上方。藉此，可提供於投影於空間之空間像的周圍無諸如形成為操作之障礙的構造物而可以自然之形式進行與使用操作者之指尖之空間像的互動之使用者介面顯示裝置。
简体摘要：本发明系将具有成像功能之透镜等光学皮肤与以操作者为基准之假想水平面平行地配置以使其光轴与该假想水平面垂直相交，并将具有显示功能之平板显示器以显示面对假想水平面倾斜预定角度之状态，使其显示面朝上而偏置配置于光学皮肤之下方。又，朝指尖投射光之光源与拍摄该指尖所引起之光之反射的光学拍摄机构(照相机)成对配设于成像于光学皮肤之上方之空间像的下方或上方。借此，可提供于投影于空间之空间像的周围无诸如形成为操作之障碍的构造物而可以自然之形式进行与使用操作者之指尖之空间像的交互之用户界面显示设备。

9. 发明专利

TW200834059A 缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法 DEFECT INSPECTION APPARATUS AND METHOD THEREFOR 审中-公开
简体标题：缺陷检查设备及缺陷检查方法 DEFECT INSPECTION APPARATUS AND METHOD THEREFOR
公开(公告)号：TW200834059A
公开(公告)日：2008-08-16
申请号：TW096146522
申请日：2007-12-06
申请人：奧林巴斯股份有限公司 OLYMPUS CORPORATION
发明人：堀內一仁 HORIUCHI, KAZUHITO
IPC分类号： G01N , H01L
CPC分类号： G06T7/0006 , G01N21/9501 , G01N21/95607 , G01N2021/8825 , G01N2021/9513 , G06T7/001 , G06T2207/30121 , G06T2207/30148 , G09G3/006
摘要：攝影部(3)對被檢查對象物進行攝影,產生攝影資訊。影像取得部(4)根據攝影資訊,產生被檢查對象物之影像。缺陷擷取部(5)使用所產生之影像,擷取被檢查對象物上之缺陷。缺陷檢查部(6)對所擷取之缺陷進行檢查,產生每一檢查條件之檢查結果。基板檢查結果產生部(10)根據有關缺陷之資訊,對每一檢查條件之檢查結果加權後,再將每一檢查條件之檢查結果統合。藉此,可提供一種容易進行基板的良劣判定,且可提昇製程整體之產量之缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法。
简体摘要：摄影部(3)对被检查对象物进行摄影,产生摄影信息。影像取得部(4)根据摄影信息,产生被检查对象物之影像。缺陷截取部(5)使用所产生之影像,截取被检查对象物上之缺陷。缺陷检查部(6)对所截取之缺陷进行检查,产生每一检查条件之检查结果。基板检查结果产生部(10)根据有关缺陷之信息,对每一检查条件之检查结果加权后,再将每一检查条件之检查结果统合。借此,可提供一种容易进行基板的良劣判定,且可提升制程整体之产量之缺陷检查设备及缺陷检查方法。

10. 发明专利

TW200632639A 自動缺陷修復系統 AUTOMATIC DEFECT REPAIR SYSTEM 审中-公开
简体标题：自动缺陷修复系统 AUTOMATIC DEFECT REPAIR SYSTEM
公开(公告)号：TW200632639A
公开(公告)日：2006-09-16
申请号：TW095102280
申请日：2006-01-20
申请人：光子動力股份有限公司 PHOTON DYNAMICS, INC.
发明人：蓋拉爾達哈利 GALLARDA, HARRY , 巴爾尼斯史帝文 BARNES, STEVEN , 史林尼維森雷克旭曼 SRINIVASAN, LAKSHMAN , 王偉恩 WANG, WAYNE
IPC分类号： G06F , G01R
CPC分类号： G02F1/1309 , G02F1/136259 , G02F2001/136263 , G06K9/628 , G06T7/001 , G06T2207/10024 , G06T2207/30121 , G09G3/006 , G09G2330/08
摘要：一種用於平面顯示器(FPD)基材的修復系統，其執行若干操作，例如自動影像捕捉及處理、自動缺陷分類、自動修復分類、及修復巨集(指令)產生軟體。缺陷分類、修復分類及修復巨集產生係基於一開放架構並可以經由多層分類器的使用，以滿足任意數量的使用例，因此，各種面板設計可以在單一修復工具中加以修復。多層組之分類器，例如缺陷分類器、修復分類器以客製化的能力，完成有效作出決定修復程序。在缺陷與相關工具之支援資料庫的前後關係中，多層分類器可選擇性地延伸，以支援統計性學習(線上及批次)與互動學習。結合操作員於判斷缺陷或修復需求時所學到之經驗，分類器與程式規則可以隨著時間自動或半自動改良。
简体摘要：一种用于平面显示器(FPD)基材的修复系统，其运行若干操作，例如自动影像捕捉及处理、自动缺陷分类、自动修复分类、及修复宏(指令)产生软件。缺陷分类、修复分类及修复宏产生系基于一开放架构并可以经由多层分类器的使用，以满足任意数量的使用例，因此，各种皮肤设计可以在单一修复工具中加以修复。多层组之分类器，例如缺陷分类器、修复分类器以客制化的能力，完成有效作出决定修复进程。在缺陷与相关工具之支持数据库的前后关系中，多层分类器可选择性地延伸，以支持统计性学习(在线及批次)与交互学习。结合操作员于判断缺陷或修复需求时所学到之经验，分类器与进程守则可以随着时间自动或半自动改良。

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