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    • 5. 发明专利
    • 用於決定電路之預定物理性質之變化的設備及方法
    • 用于决定电路之预定物理性质之变化的设备及方法
    • TW201321778A
    • 2013-06-01
    • TW101136561
    • 2012-10-03
    • ARM股份有限公司ARM LIMITED
    • 列波羅契艾維思湯瑪仕LAPLANCHE, YVES THOMAS
    • G01R31/28
    • G01R29/023G01R19/0038G01R23/15G01R25/08G01R29/027G01R31/2881G01R31/30
    • 本發明提供一種用於決定電路之預定物理性質之變化的設備及方法。設備包含用於產生輸出脈衝之經監視電路系統,該經監視電路系統經配置以使得每一輸出脈衝具有脈衝寬度,該脈衝寬度指示預定物理性質之當前值。計數器電路系統隨後經配置以接收由經監視電路系統產生的輸出脈衝與振盪時序參考訊號兩者。計數器電路系統參考振盪時序參考訊號,產生每一輸出脈衝之相關聯計數值,該相關聯計數值指示彼輸出脈衝之脈衝寬度。比較電路系統隨後比較至少兩個輸出脈衝之相關聯計數值,以產生用以決定預定物理性質之變化的比較結果。此佈置提供用於在資料處理電路使用期間即時地監視感興趣的物理性質之變化的十分靈活的機制。
    • 本发明提供一种用于决定电路之预定物理性质之变化的设备及方法。设备包含用于产生输出脉冲之经监视电路系统,该经监视电路系统经配置以使得每一输出脉冲具有脉冲宽度,该脉冲宽度指示预定物理性质之当前值。计数器电路系统随后经配置以接收由经监视电路系统产生的输出脉冲与振荡时序参考信号两者。计数器电路系统参考振荡时序参考信号,产生每一输出脉冲之相关联计数值,该相关联计数值指示彼输出脉冲之脉冲宽度。比较电路系统随后比较至少两个输出脉冲之相关联计数值,以产生用以决定预定物理性质之变化的比较结果。此布置提供用于在数据处理电路使用期间实时地监视感兴趣的物理性质之变化的十分灵活的机制。
    • 6. 发明专利
    • 測試裝置以及測試方法 TEST DEVICE AND TEST METHOD
    • 测试设备以及测试方法 TEST DEVICE AND TEST METHOD
    • TW200907382A
    • 2009-02-16
    • TW097115061
    • 2008-04-24
    • 愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
    • 渡邊大輔 WATANABE, DAISUKE岡安俊幸 OKAYASU, TOSHIYUKI
    • G01R
    • G01R29/027G01R31/3004G01R31/31703G01R31/31932
    • 一種測試裝置,對被測試元件進行測試,該測試裝置包括:位準比較部,接收被測試元件輸出的被測試信號,將被測試信號的信號位準與預先設定的第1臨限値及第2臨限値進行比較,並輸出表示該比較結果的邏輯値;取得部,根據所供給的選通信號而取得位準比較部輸出的邏輯値;期待値比較電路,對取得部所取得的邏輯値與預先設定的期待値是否一致進行判定;以及臨限値控制部,當進行眼圖遮罩測試以判定被測試信號的眼圖開孔是否大於預先規定的眼圖遮罩時,將眼圖遮罩的電壓的上限値及下限値作為第1臨限値及第2臨限値而設定於位準比較部中。
    • 一种测试设备,对被测试组件进行测试,该测试设备包括:位准比较部,接收被测试组件输出的被测试信号,将被测试信号的信号位准与预先设置的第1临限値及第2临限値进行比较,并输出表示该比较结果的逻辑値;取得部,根据所供给的选通信号而取得位准比较部输出的逻辑値;期待値比较电路,对取得部所取得的逻辑値与预先设置的期待値是否一致进行判定;以及临限値控制部,当进行眼图遮罩测试以判定被测试信号的眼图开孔是否大于预先规定的眼图遮罩时,将眼图遮罩的电压的上限値及下限値作为第1临限値及第2临限値而设置于位准比较部中。