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1. 发明专利

TWI600224B 插座安裝構造及彈簧構件有权
简体标题：插座安装构造及弹簧构件
公开(公告)号：TWI600224B
公开(公告)日：2017-09-21
申请号：TW102107576
申请日：2013-03-04
申请人：日本發條股份有限公司 , NHK SPRING CO., LTD.
发明人：山田佳男 , YAMADA, YOSHIO , 廣中浩平 , HIRONAKA, KOHEI , 潘添信 , SUGIANT, YUSMAN , 羅慈平 , LOH, CHEE PING BENEDICT , 楊俊裕 , YEOW, CHOON JOO SAMUEL , 黃俊崴 , WONG, TECK HUI , 王曉軍 , WANG, XIAO JUN TERRY
IPC分类号： H01R13/514 , H01R33/76
CPC分类号： H01R12/51 , G01R1/0466 , G01R1/0483 , H01R13/24 , H01R13/46 , H01R33/76 , H05K7/1007 , Y10T403/602

2. 发明专利

TWI563753B 積體電路裝置插座有权
简体标题：集成电路设备插座
公开(公告)号：TWI563753B
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：TW101103587
申请日：2012-02-03
申请人： 3M新設資產公司 , 3M INNOVATIVE PROPERTIES COMPANY
发明人：川手良尚 , KAWATE, YOSHIHISA , 椿裕一 , TSUBAKI, YUICHI
IPC分类号： H01R33/76 , H01L23/32
CPC分类号： G01R1/06722 , G01R1/0483 , G01R1/07371 , G01R1/07378

3. 发明专利

TW201633636A 用於測試晶粒接觸器之成形導線探針互連审中-公开
简体标题：用于测试晶粒接触器之成形导线探针互连
公开(公告)号：TW201633636A
公开(公告)日：2016-09-16
申请号：TW104136998
申请日：2015-11-10
申请人：英特爾公司 , INTEL CORPORATION
发明人：帕柏休古德默漢拉傑 , PRABHUGOUD, MOHANRAJ , 吳榮錫 , OH, YOUNGSEOK , 瓦勒吉克約瑟夫F , WALCZYK, JOSEPH F. , 艾伯森陶德P , ALBERTSON, TODD P.
IPC分类号： H01R33/76 , G01R1/067
CPC分类号： G01R1/07357 , G01R1/0466 , G01R1/0483
摘要：本發明是以一成形導線探針互連來說明一測試晶粒接觸器。在一個舉例中，該接觸器包括複數個導線探針、一第一對準器、一第二對準器、及一絕緣層。該等導線探針係形成為有彈性的以抵抗縱向壓力。該第一對準器靠近該等導線探針之其中一端，並具有第一複數個孔洞，該等導線探針延伸通過該等第一複數個孔洞，該第一對準層用於將該等導線探針對準到一測試夾具之接觸墊。該第二對準器靠近該等導線探針之另一端並具有第二複數個孔洞，該等導線探針延伸通過該等第二複數個孔洞，該第二對準層用於將該等導線探針對準到一受測裝置之接觸墊。該絕緣層位於該等第一及第二對準器之間，該等導線探針延伸通過該絕緣層以於受到縱向壓力壓縮時保持該等導線探針。
简体摘要：本发明是以一成形导线探针互连来说明一测试晶粒接触器。在一个举例中，该接触器包括复数个导线探针、一第一对准器、一第二对准器、及一绝缘层。该等导线探针系形成为有弹性的以抵抗纵向压力。该第一对准器靠近该等导线探针之其中一端，并具有第一复数个孔洞，该等导线探针延伸通过该等第一复数个孔洞，该第一对准层用于将该等导线探针对准到一测试夹具之接触垫。该第二对准器靠近该等导线探针之另一端并具有第二复数个孔洞，该等导线探针延伸通过该等第二复数个孔洞，该第二对准层用于将该等导线探针对准到一受测设备之接触垫。该绝缘层位于该等第一及第二对准器之间，该等导线探针延伸通过该绝缘层以于受到纵向压力压缩时保持该等导线探针。

4. 发明专利

TW201630268A 電性零件用插座审中-公开
简体标题：电性零件用插座
公开(公告)号：TW201630268A
公开(公告)日：2016-08-16
申请号：TW104141295
申请日：2015-12-09
申请人：恩普樂股份有限公司 , ENPLAS CORPORATION
发明人：上山雄生 , UEYAMA, YUKI
IPC分类号： H01R13/52 , H01R33/76 , G01R31/26
CPC分类号： H01R12/7076 , G01R1/0483 , H01R12/91 , H01R13/6315 , H05K7/1023
摘要：提供一種電性零件用插座，即使在未收容電性零件的狀態下被按壓構件所按壓，仍難以發生接觸插銷之破損或異物附著。在電性零件用插座中，設置：被支持成上下自由移動的可動片；和被設在該可動片的上方並收容第1電性零件的浮動片；和從可動片的上面往上方突出的可動間隔物。在可動片係設置有：將接觸插銷的接觸構件予以貫通的第1貫通孔；和限制該接觸構件往上方之移動的限制部。在浮動片係設有：將接觸插銷之接觸構件予以貫通的第2貫通孔；和讓可動間隔物插入的第3貫通孔。藉由可動間隔物的下降，可動片會跟著下降，藉此，該可動片的限制部會使接觸插銷的接觸構件下降。
简体摘要：提供一种电性零件用插座，即使在未收容电性零件的状态下被按压构件所按压，仍难以发生接触插销之破损或异物附着。在电性零件用插座中，设置：被支持成上下自由移动的可动片；和被设在该可动片的上方并收容第1电性零件的浮动片；和从可动片的上面往上方突出的可动间隔物。在可动片系设置有：将接触插销的接触构件予以贯通的第1贯通孔；和限制该接触构件往上方之移动的限制部。在浮动片系设有：将接触插销之接触构件予以贯通的第2贯通孔；和让可动间隔物插入的第3贯通孔。借由可动间隔物的下降，可动片会跟着下降，借此，该可动片的限制部会使接触插销的接触构件下降。

5. 发明专利

TW201610450A 電子零件檢查裝置及電子零件搬送方法审中-公开
简体标题：电子零件检查设备及电子零件搬送方法
公开(公告)号：TW201610450A
公开(公告)日：2016-03-16
申请号：TW104124284
申请日：2011-05-11
申请人：精工愛普生股份有限公司 , SEIKO EPSON CORPORATION
发明人：鹽澤雅邦 , SHIOZAWA, MASAKUNI
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2891 , G01R1/0483
摘要：於電子零件檢查裝置中，設置有對由固持部固持前之電子零件之上表面電極進行攝像之第1攝像裝置、對設置於檢查用頭部之接觸端子設置攝像之第2攝像裝置、對由固持部所固持之電子零件之下表面電極進行攝像之第3攝像裝置、及對檢查用插座進行攝像之第4攝像裝置。又，於上述電子零件檢查裝置中設置有控制裝置，其係藉由使檢查用頭部之位置調整部調整固持部之位置，而根據由第1及第2攝像裝置所攝像之圖像對固持部固持電子零件時之固持姿勢，以及根據由第3及第4攝像裝置所攝像之圖像對固持電子零件之固持部相對於檢查用插座之固持姿勢分別進行控制。
简体摘要：于电子零件检查设备中，设置有对由固持部固持前之电子零件之上表面电极进行摄像之第1摄像设备、对设置于检查用头部之接触端子设置摄像之第2摄像设备、对由固持部所固持之电子零件之下表面电极进行摄像之第3摄像设备、及对检查用插座进行摄像之第4摄像设备。又，于上述电子零件检查设备中设置有控制设备，其系借由使检查用头部之位置调整部调整固持部之位置，而根据由第1及第2摄像设备所摄像之图像对固持部固持电子零件时之固持姿势，以及根据由第3及第4摄像设备所摄像之图像对固持电子零件之固持部相对于检查用插座之固持姿势分别进行控制。

6. 发明专利

TW201535881A 插座安裝構造及彈簧構件审中-公开
简体标题：插座安装构造及弹簧构件
公开(公告)号：TW201535881A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：TW103140404
申请日：2014-11-21
申请人：日本發條股份有限公司 , NHK SPRING CO., LTD.
发明人：山田佳男 , YAMADA, YOSHIO , 谷幸央 , TANI, YOSHIHISA , 広中浩平 , HIRONAKA, KOHEI , 仁平崇 , NIDAIRA, TAKASHI , 米田知広 , YONEDA, TOMOHIRO
IPC分类号： H01R13/639 , H01R33/76 , G01R31/26
CPC分类号： H01R13/2471 , G01R1/0466 , G01R1/0483 , G01R1/06722 , H01R12/714 , H01R2201/20
摘要：本發明之插座安裝構造是具備：從基板的主面延伸出去，且分別插通在設於保持構件的插通孔的複數個支撐構件；以及在將載置於基板上的保持構件朝基板側彈壓的狀態下，安裝在複數個支撐構件的板狀的彈簧構件(板簧5)，在彈簧構件(板簧5)形成有第1貫穿孔(貫穿孔52a至52d)，其係朝板厚方向貫穿，可供支撐構件插通，並且具有固定部，其係形成複數個第1貫穿孔(貫穿孔52a至52d)中的至少一個第1貫穿孔之側壁的一部分，以保持並固定支撐構件。
简体摘要：本发明之插座安装构造是具备：从基板的主面延伸出去，且分别插通在设于保持构件的插通孔的复数个支撑构件；以及在将载置于基板上的保持构件朝基板侧弹压的状态下，安装在复数个支撑构件的板状的弹簧构件(板簧5)，在弹簧构件(板簧5)形成有第1贯穿孔(贯穿孔52a至52d)，其系朝板厚方向贯穿，可供支撑构件插通，并且具有固定部，其系形成复数个第1贯穿孔(贯穿孔52a至52d)中的至少一个第1贯穿孔之侧壁的一部分，以保持并固定支撑构件。

7. 发明专利

TWI482980B 測試用載具有权
简体标题：测试用载具
公开(公告)号：TWI482980B
公开(公告)日：2015-05-01
申请号：TW102117999
申请日：2013-05-22
申请人：阿德潘鐵斯特股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：中村陽登 , NAKAMURA, KIYOTO
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R1/0441 , G01R1/0483 , G01R31/26

8. 发明专利

TWI470232B 具有高密度傳導部的測試插座及其製造方法有权
简体标题：具有高密度传导部的测试插座及其制造方法
公开(公告)号：TWI470232B
公开(公告)日：2015-01-21
申请号：TW102112178
申请日：2013-04-03
申请人： ISC股份有限公司 , ISC CO., LTD.
发明人：李載學 , LEE, JAE HAK
IPC分类号： G01R1/04 , G01R3/00
CPC分类号： G01R1/0441 , G01R1/0466 , G01R1/0483 , G01R1/07314 , G01R3/00 , H01R12/714 , H01R12/73 , H01R13/2414 , H01R43/002

9. 发明专利

TWI426274B 探針有权
简体标题：探针
公开(公告)号：TWI426274B
公开(公告)日：2014-02-11
申请号：TW099132433
申请日：2010-09-24
申请人：李諾工業股份有限公司 , LEENO INDUSTRIAL INC.
发明人：李彩允 , LEE, CHAE-YOON
IPC分类号： G01R1/067
CPC分类号： G01R1/067 , G01R1/0483 , G01R1/06722

10. 发明专利

TW201332228A 具有阻擋構件的測試插座审中-公开
简体标题：具有阻挡构件的测试插座
公开(公告)号：TW201332228A
公开(公告)日：2013-08-01
申请号：TW101144089
申请日：2012-11-23
申请人：李載學 , LEE, JAE HAK
发明人：李載學 , LEE, JAE HAK
IPC分类号： H01R13/46 , G01R31/28
CPC分类号： G01R1/0466 , G01R1/0483 , H01R12/716 , H01R13/2414 , H01R2201/20
摘要：一種具有止擋部的測試插座包括：厚度方向具有導電性的導電部，導電部包括對應所述物件裝置的各所述端部的位置所形成的導通部；環設於導電部且支撐導電部的支撐部；以及形成於且凸出自支撐部的上表面的止擋部。
简体摘要：一种具有止挡部的测试插座包括：厚度方向具有导电性的导电部，导电部包括对应所述对象设备的各所述端部的位置所形成的导通部；环设于导电部且支撑导电部的支撑部；以及形成于且凸出自支撑部的上表面的止挡部。

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