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2. 发明专利

TW201633636A 用於測試晶粒接觸器之成形導線探針互連审中-公开
简体标题：用于测试晶粒接触器之成形导线探针互连
公开(公告)号：TW201633636A
公开(公告)日：2016-09-16
申请号：TW104136998
申请日：2015-11-10
申请人：英特爾公司 , INTEL CORPORATION
发明人：帕柏休古德默漢拉傑 , PRABHUGOUD, MOHANRAJ , 吳榮錫 , OH, YOUNGSEOK , 瓦勒吉克約瑟夫F , WALCZYK, JOSEPH F. , 艾伯森陶德P , ALBERTSON, TODD P.
IPC分类号： H01R33/76 , G01R1/067
CPC分类号： G01R1/07357 , G01R1/0466 , G01R1/0483
摘要：本發明是以一成形導線探針互連來說明一測試晶粒接觸器。在一個舉例中，該接觸器包括複數個導線探針、一第一對準器、一第二對準器、及一絕緣層。該等導線探針係形成為有彈性的以抵抗縱向壓力。該第一對準器靠近該等導線探針之其中一端，並具有第一複數個孔洞，該等導線探針延伸通過該等第一複數個孔洞，該第一對準層用於將該等導線探針對準到一測試夾具之接觸墊。該第二對準器靠近該等導線探針之另一端並具有第二複數個孔洞，該等導線探針延伸通過該等第二複數個孔洞，該第二對準層用於將該等導線探針對準到一受測裝置之接觸墊。該絕緣層位於該等第一及第二對準器之間，該等導線探針延伸通過該絕緣層以於受到縱向壓力壓縮時保持該等導線探針。
简体摘要：本发明是以一成形导线探针互连来说明一测试晶粒接触器。在一个举例中，该接触器包括复数个导线探针、一第一对准器、一第二对准器、及一绝缘层。该等导线探针系形成为有弹性的以抵抗纵向压力。该第一对准器靠近该等导线探针之其中一端，并具有第一复数个孔洞，该等导线探针延伸通过该等第一复数个孔洞，该第一对准层用于将该等导线探针对准到一测试夹具之接触垫。该第二对准器靠近该等导线探针之另一端并具有第二复数个孔洞，该等导线探针延伸通过该等第二复数个孔洞，该第二对准层用于将该等导线探针对准到一受测设备之接触垫。该绝缘层位于该等第一及第二对准器之间，该等导线探针延伸通过该绝缘层以于受到纵向压力压缩时保持该等导线探针。

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