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    • 2. 发明专利
    • 控制測微組件的被封閉空穴的密閉性之方法及實施該方法之測微組件 METHOD FOR CONTROLLING THE HERMETICITY OF CLOSED CAVITY OF A MICROMETRIC COMPONENT AND MICROMETRIC COMPONENT FOR IMPLEMENTING THE SAME
    • 控制测微组件的被封闭空穴的密闭性之方法及实施该方法之测微组件 METHOD FOR CONTROLLING THE HERMETICITY OF CLOSED CAVITY OF A MICROMETRIC COMPONENT AND MICROMETRIC COMPONENT FOR IMPLEMENTING THE SAME
    • TWI359264B
    • 2012-03-01
    • TW093135281
    • 2004-11-17
    • 瑟拉公司
    • 法蘭西斯 古薩茲珍 保羅 蘭迪
    • G01MB81B
    • G01M3/40B81C99/0045G01M3/047G01M3/38
    • 本發明揭示一種檢查至少一測微組件(1)之被封閉空穴(14)的密閉性之方法,該測微組件包含在一部份基板(2)上或基板中所製成之結構(5,6,10)、及固定在該基板之一區域上以便保護該結構之蓋子(3),及一指示器元件(4,15),其光學或電性質於存在有一反應流體中改變。該指示器元件可為一用於光學檢查之銅層(4)或一用於電檢查之白金電阻器(15)。該測微組件(1)係放入一容器(15)中,然後密閉地密封該容器。該容器係在壓力之下充滿反應流體,該反應流體用於該光學檢查為氧氣及用於該電檢查為氫氣。該容器中之組件係遭受一大於10巴反應流體之壓力達一已決定之時期,且遭受一熱(T>攝氏100度)或光學(λ
    • 本发明揭示一种检查至少一测微组件(1)之被封闭空穴(14)的密闭性之方法,该测微组件包含在一部份基板(2)上或基板中所制成之结构(5,6,10)、及固定在该基板之一区域上以便保护该结构之盖子(3),及一指示器组件(4,15),其光学或电性质于存在有一反应流体中改变。该指示器组件可为一用于光学检查之铜层(4)或一用于电检查之白金电阻器(15)。该测微组件(1)系放入一容器(15)中,然后密闭地密封该容器。该容器系在压力之下充满反应流体,该反应流体用于该光学检查为氧气及用于该电检查为氢气。该容器中之组件系遭受一大于10巴反应流体之压力达一已决定之时期,且遭受一热(T>摄氏100度)或光学(λ<500奈米)之活性化。经过此时期,该指示器组件(4,15)之一光学或电检查允许决定该空穴(14)之密闭性。
    • 4. 发明专利
    • 光纖水感知系統與方法
    • 光纤水感知系统与方法
    • TW201326782A
    • 2013-07-01
    • TW100149403
    • 2011-12-29
    • 中華電信股份有限公司CHUNGHWA TELECOM CO., LTD.
    • 王志益王子文吳嘉憲蔡福源
    • G01M3/04G01N21/17
    • G02B6/00G01M3/047G01N21/552G01N2021/1793G01N2201/0886
    • 一種光纖水感知系統與方法。組成包括有:(1)水感測器,此水感測器是利用偵測光迴路反射損失原理所設計出來之光學元件;具可重覆使用之特性,用以感測有水或無水的狀態(2)監測設備,此監測設備為光時域反射器(OTDR)、光頻域反射頻譜儀(OFMCW)或者光源及光功率計,用以發送監測光源信號及接收水感測器回傳的光信號(3)信號處理控制單元,用以分析水感測器回傳的光信號,判斷監測點有無觸水狀況。本方法也可應用於光纜接續盒進水監測、電信設施淹水警示、低窪地區、橋梁河川水位監測與告警…等領域。
    • 一种光纤水感知系统与方法。组成包括有:(1)水传感器,此水传感器是利用侦测光回路反射损失原理所设计出来之光学组件;具可重复使用之特性,用以传感有水或无水的状态(2)监测设备,此监测设备为光时域反射器(OTDR)、光频域反射频谱仪(OFMCW)或者光源及光功率计,用以发送监测光源信号及接收水传感器回传的光信号(3)信号处理控制单元,用以分析水传感器回传的光信号,判断监测点有无触水状况。本方法也可应用于光缆接续盒进水监测、电信设施淹水警示、低洼地区、桥梁河川水位监测与告警…等领域。
    • 6. 发明专利
    • 控制測微組件的被封閉空穴的密閉性之方法及實施該方法之測微組件 METHOD FOR CONTROLLING THE HERMETICITY OF CLOSED CAVITY OF A MICROMETRIC COMPONENT AND MICROMETRIC COMPONENT FOR IMPLEMENTING THE SAME
    • 控制测微组件的被封闭空穴的密闭性之方法及实施该方法之测微组件 METHOD FOR CONTROLLING THE HERMETICITY OF CLOSED CAVITY OF A MICROMETRIC COMPONENT AND MICROMETRIC COMPONENT FOR IMPLEMENTING THE SAME
    • TW200519366A
    • 2005-06-16
    • TW093135281
    • 2004-11-17
    • 瑟拉公司 ASULAB S.A.
    • 法蘭西斯 古薩茲 GUEISSAZ, FRANCOIS珍 保羅 蘭迪 RANDIN, JEAN-PAUL
    • G01MB81B
    • G01M3/40B81C99/0045G01M3/047G01M3/38
    • 本發明揭示一種檢查至少一測微組件(1)之被封閉空穴(14)的密閉性之方法,該測微組件包含在一部份基板(2)上或基板中所製成之結構(5,6,10)、及固定在該基板之一區域上以便保護該結構之蓋子(3),及一指示器元件(4,15),其光學或電性質於存在有一反應流體中改變。該指示器元件可為一用於光學檢查之銅層(4)或一用於電檢查之白金電阻器(15)。該測微組件(1)係放入一容器(15)中,然後密閉地密封該容器。該容器係在壓力之下充滿反應流體,該反應流體用於該光學檢查為氧氣及用於該電檢查為氫氣。該容器中之組件係遭受一大於10巴反應流體之壓力達一已決定之時期,且遭受一熱(T>攝氏100度)或光學(λ<500奈米)之活性化。經過此時期,該指示器元件(4,15)之一光學或電檢查允許決定該空穴(14)之密閉性。
    • 本发明揭示一种检查至少一测微组件(1)之被封闭空穴(14)的密闭性之方法,该测微组件包含在一部份基板(2)上或基板中所制成之结构(5,6,10)、及固定在该基板之一区域上以便保护该结构之盖子(3),及一指示器组件(4,15),其光学或电性质于存在有一反应流体中改变。该指示器组件可为一用于光学检查之铜层(4)或一用于电检查之白金电阻器(15)。该测微组件(1)系放入一容器(15)中,然后密闭地密封该容器。该容器系在压力之下充满反应流体,该反应流体用于该光学检查为氧气及用于该电检查为氢气。该容器中之组件系遭受一大于10巴反应流体之压力达一已决定之时期,且遭受一热(T>摄氏100度)或光学(λ<500奈米)之活性化。经过此时期,该指示器组件(4,15)之一光学或电检查允许决定该空穴(14)之密闭性。