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    • 2. 发明专利
    • 薄片銅粉及導電性糊
    • 薄片铜粉及导电性煳
    • TWI324953B
    • 2010-05-21
    • TW097110358
    • 2005-04-25
    • 三井金屬鑛業股份有限公司
    • 坂上貴彥吉丸克彥中村芳信島村宏之
    • B22FH01B
    • B22F1/0014B22F1/0044B22F1/0055B22F1/0062B22F9/24B22F2001/0033H01B1/22H05K1/095
    • 本發明之目的係提供一種成為微粒、粒度分布變得銳利、結晶子變大、具有良好之耐氧化性之薄片銅粉。為了達成該目的,因此,採用包含P且結晶子直徑/DIA成為0.01以上之薄片銅粉等。為了製造該薄片銅粉,因此,採用具有:調製包含銅鹽及配位化合劑之水溶液之第1製程、在該水溶液添加氫氧化鹼而調製包含氧化銅之第1漿體之第2製程、在該第1漿體添加可以將氧化銅還原成為氧化亞銅之第1還原劑而調製包含氧化亞銅之第2漿體之第3製程、以及在該第2漿體添加可以將氧化亞銅還原成為銅之第2還原劑而得到薄片銅粉之第4製程並且在前述第1製程~第3製程之至少一個製程及/或第4製程而在第2漿體來添加磷酸及其鹽之薄片銅粉之製造方法。 【創作特點】 在此種實情,本發明人係全心地進行檢討,結果,知道:適合於含有P之薄片銅粉、特別是具有特定粉體形狀之薄片銅粉來作為目的之導電性糊用。此外,發現:在此種薄片銅粉之濕式製造法,在還原起始原料中之銅鹽所包含之銅(Ⅱ)離子來析出銅粉之複數個製程中之至少一個製程而添加特定之磷酸及其鹽時,不進行例如專利文獻1之壓縮變形處理,得到粒徑小、結晶子直徑大且耐氧化性良好之薄片銅粉,並且,該薄片銅粉係粒度分布容易變得銳利;以致於完成本發明。
      也就是說,本發明係提供一種以包含P來作為特徵之薄片銅粉。
      此外,本發明係提供一種在空氣環境之熱重量測定(TG)下,氧化開始溫度在230℃以上之薄片銅粉。
      此外,本發明提供一種薄片銅粉,其特徵在於:在表面形成有機表面處理層。
      此外,提供一種薄片銅粉,其特徵在於:相對於前述薄片銅粉,前述有機表面處理層之被覆率為0.05重量%~2重量%。
      此外,提供一種導電性糊,其特徵在於:包含本發明之薄片銅粉和樹脂。
      本發明之薄片銅粉係並無經過壓縮變形操作,因此,不容易氧化或者是發生歪斜,在使用於導電性糊之狀態下,具有良好之脫媒時之耐氧化性、在糊中之分散性及導電性糊之填充性,能夠對於由銅厚膜所形成之電極或電路等,更加進行微細化。此外,本發明之導電性糊係具有良好之脫媒時之耐氧化性及填充性,能夠對於由銅厚膜所形成之電極或電路等,更加進行微細化,並且,可以讓得到之銅厚膜,具有良好之耐熱收縮性。
    • 本发明之目的系提供一种成为微粒、粒度分布变得锐利、结晶子变大、具有良好之耐氧化性之薄片铜粉。为了达成该目的,因此,采用包含P且结晶子直径/DIA成为0.01以上之薄片铜粉等。为了制造该薄片铜粉,因此,采用具有:调制包含铜盐及配位化合剂之水溶液之第1制程、在该水溶液添加氢氧化碱而调制包含氧化铜之第1浆体之第2制程、在该第1浆体添加可以将氧化铜还原成为氧化亚铜之第1还原剂而调制包含氧化亚铜之第2浆体之第3制程、以及在该第2浆体添加可以将氧化亚铜还原成为铜之第2还原剂而得到薄片铜粉之第4制程并且在前述第1制程~第3制程之至少一个制程及/或第4制程而在第2浆体来添加磷酸及其盐之薄片铜粉之制造方法。 【创作特点】 在此种实情,本发明人系全心地进行检讨,结果,知道:适合于含有P之薄片铜粉、特别是具有特定粉体形状之薄片铜粉来作为目的之导电性煳用。此外,发现:在此种薄片铜粉之湿式制造法,在还原起始原料中之铜盐所包含之铜(Ⅱ)离子来析出铜粉之复数个制程中之至少一个制程而添加特定之磷酸及其盐时,不进行例如专利文献1之压缩变形处理,得到粒径小、结晶子直径大且耐氧化性良好之薄片铜粉,并且,该薄片铜粉系粒度分布容易变得锐利;以致于完成本发明。 也就是说,本发明系提供一种以包含P来作为特征之薄片铜粉。 此外,本发明系提供一种在空气环境之热重量测定(TG)下,氧化开始温度在230℃以上之薄片铜粉。 此外,本发明提供一种薄片铜粉,其特征在于:在表面形成有机表面处理层。 此外,提供一种薄片铜粉,其特征在于:相对于前述薄片铜粉,前述有机表面处理层之被覆率为0.05重量%~2重量%。 此外,提供一种导电性煳,其特征在于:包含本发明之薄片铜粉和树脂。 本发明之薄片铜粉系并无经过压缩变形操作,因此,不容易氧化或者是发生歪斜,在使用于导电性煳之状态下,具有良好之脱媒时之耐氧化性、在煳中之分散性及导电性煳之填充性,能够对于由铜厚膜所形成之电极或电路等,更加进行微细化。此外,本发明之导电性煳系具有良好之脱媒时之耐氧化性及填充性,能够对于由铜厚膜所形成之电极或电路等,更加进行微细化,并且,可以让得到之铜厚膜,具有良好之耐热收缩性。
    • 3. 发明专利
    • 導電性粒子之製造方法、導電性糊料、以及電子元件之製造方法
    • 导电性粒子之制造方法、导电性煳料、以及电子组件之制造方法
    • TW200628248A
    • 2006-08-16
    • TW094133726
    • 2005-09-28
    • TDK股份有限公司 TDK CORPORATION
    • 鈴木和孝 KAZUTAKA SUZUKI佐藤茂樹 SHIGEKI SATO
    • B22FB01DH01G
    • B22F1/025B22F2001/0033B22F2999/00H01B1/02H01B1/22H01G4/0085H01G4/12H01G4/30Y10T29/435B22F9/24
    • 本發明的導電性粒子之製造方法係特別即使將內電極層的各厚度薄層化之情況時,仍可抑制燒成階段中的導電性粒子粒成長狀況,能有效的防止球狀化、電極不連續,可有效的抑制降低靜電電容狀況,且被覆層用金屬不致有異常偏析現象,能效率佳的製造由較薄被覆層覆蓋的核粒子。製造出具有:以鎳為主成分之核部51,以及覆蓋其周圍之被覆層52的導電性粒子之方法。將核用粉末、含有形成被覆層52之金屬或合金的水溶性金屬鹽、以及界面活性劑(或水溶性高分子化合物)進行混合,而在核用粉末的外表面上,還原析出形成被覆層52的金屬或合金。形成被覆層52的金屬或合金係以從Ru、Rh、Re及Pt中,至少選擇1種的元素為主成分。
    • 本发明的导电性粒子之制造方法系特别即使将内电极层的各厚度薄层化之情况时,仍可抑制烧成阶段中的导电性粒子粒成长状况,能有效的防止球状化、电极不连续,可有效的抑制降低静电电容状况,且被覆层用金属不致有异常偏析现象,能效率佳的制造由较薄被覆层覆盖的核粒子。制造出具有:以镍为主成分之核部51,以及覆盖其周围之被覆层52的导电性粒子之方法。将核用粉末、含有形成被覆层52之金属或合金的水溶性金属盐、以及界面活性剂(或水溶性高分子化合物)进行混合,而在核用粉末的外表面上,还原析出形成被覆层52的金属或合金。形成被覆层52的金属或合金系以从Ru、Rh、Re及Pt中,至少选择1种的元素为主成分。
    • 7. 发明专利
    • 導電性粒子之製造方法、導電性糊料、以及電子元件之製造方法
    • 导电性粒子之制造方法、导电性煳料、以及电子组件之制造方法
    • TWI293902B
    • 2008-03-01
    • TW094133726
    • 2005-09-28
    • TDK股份有限公司 TDK CORPORATION
    • 鈴木和孝 KAZUTAKA SUZUKI佐藤茂樹 SHIGEKI SATO
    • B22FB01DH01G
    • B22F1/025B22F2001/0033B22F2999/00H01B1/02H01B1/22H01G4/0085H01G4/12H01G4/30Y10T29/435B22F9/24
    • 本發明的導電性粒子之製造方法係特別即使將內電極層的各厚度薄層化之情況時,仍可抑制燒成階段中的導電性粒子粒成長狀況,能有效的防止球狀化、電極不連續,可有效的抑制降低靜電電容狀況,且被覆層用金屬不致有異常偏析現象,能效率佳的製造由較薄被覆層覆蓋的核粒子。製造出具有:以鎳為主成分之核部51,以及覆蓋其周圍之被覆層52的導電性粒子之方法。將核用粉末、含有形成被覆層52之金屬或合金的水溶性金屬鹽、以及界面活性劑(或水溶性高分子化合物)進行混合,而在核用粉末的外表面上,還原析出形成被覆層52的金屬或合金。形成被覆層52的金屬或合金係以從Ru、Rh、Re及Pt中,至少選擇1種的元素為主成分。
    • 本发明的导电性粒子之制造方法系特别即使将内电极层的各厚度薄层化之情况时,仍可抑制烧成阶段中的导电性粒子粒成长状况,能有效的防止球状化、电极不连续,可有效的抑制降低静电电容状况,且被覆层用金属不致有异常偏析现象,能效率佳的制造由较薄被覆层覆盖的核粒子。制造出具有:以镍为主成分之核部51,以及覆盖其周围之被覆层52的导电性粒子之方法。将核用粉末、含有形成被覆层52之金属或合金的水溶性金属盐、以及界面活性剂(或水溶性高分子化合物)进行混合,而在核用粉末的外表面上,还原析出形成被覆层52的金属或合金。形成被覆层52的金属或合金系以从Ru、Rh、Re及Pt中,至少选择1种的元素为主成分。
    • 10. 发明专利
    • 薄片銅粉及其製造方法以及導電性糊
    • 薄片铜粉及其制造方法以及导电性煳
    • TW200840666A
    • 2008-10-16
    • TW097110358
    • 2005-04-25
    • 三井金屬業股份有限公司 MITSUI MINING & SMELTING CO., LTD.
    • 上貴彥吉丸克彥中村芳信島村宏之
    • B22FH01B
    • B22F1/0014B22F1/0044B22F1/0055B22F1/0062B22F9/24B22F2001/0033H01B1/22H05K1/095
    • 本發明之目的係提供一種成為微粒、粒度分布變得銳利、結晶子變大、具有良好之耐氧化性之薄片銅粉。為了達成該目的,因此,採用包含P且結晶子直徑/DIA成為0.01以上之薄片銅粉等。為了製造該薄片銅粉,因此,採用具有:調製包含銅鹽及配位化合劑之水溶液之第1製程、在該水溶液添加氫氧化鹼而調製包含氧化銅之第1漿體之第2製程、在該第1漿體添加可以將氧化銅還原成為氧化亞銅之第1還原劑而調製包含氧化亞銅之第2漿體之第3製程、以及在該第2漿體添加可以將氧化亞銅還原成為銅之第2還原劑而得到薄片銅粉之第4製程並且在前述第1製程-第3製程之至少一個製程及/或第4製程而在第2漿體來添加磷酸及其鹽之薄片銅粉之製造方法。
    • 本发明之目的系提供一种成为微粒、粒度分布变得锐利、结晶子变大、具有良好之耐氧化性之薄片铜粉。为了达成该目的,因此,采用包含P且结晶子直径/DIA成为0.01以上之薄片铜粉等。为了制造该薄片铜粉,因此,采用具有:调制包含铜盐及配位化合剂之水溶液之第1制程、在该水溶液添加氢氧化碱而调制包含氧化铜之第1浆体之第2制程、在该第1浆体添加可以将氧化铜还原成为氧化亚铜之第1还原剂而调制包含氧化亚铜之第2浆体之第3制程、以及在该第2浆体添加可以将氧化亚铜还原成为铜之第2还原剂而得到薄片铜粉之第4制程并且在前述第1制程-第3制程之至少一个制程及/或第4制程而在第2浆体来添加磷酸及其盐之薄片铜粉之制造方法。