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    • 3. 发明专利
    • 濺鍍用鉭製線圈之再生方法及藉由該再生方法而得之鉭製線圈
    • 溅镀用钽制线圈之再生方法及借由该再生方法而得之钽制线圈
    • TW201315829A
    • 2013-04-16
    • TW101134110
    • 2012-09-18
    • JX日鑛日石金屬股份有限公司JX NIPPON MINING & METALS CORPORATION
    • 塚本志郎TSUKAMOTO, SHIRO
    • C23C14/34
    • H01J37/3476C23C14/34C23C14/564H01J37/32853H01J37/3288H01J37/34H01J37/3447Y10T29/49748
    • 本發明係關於一種濺鍍用鉭製線圈之再生方法,其係配置於基板與濺鍍靶之間之濺鍍用鉭製線圈之再生方法,其特徵在於:藉由對線圈整個面或一部分進行切削加工,而對使用完畢之線圈進行面加工(切削至再沈積膜及滾紋加工痕跡消失),從而除去濺鍍中所形成之再沈積膜,然後,對切削後之部位重新施加滾紋。於濺鍍中,濺鍍粒子會堆積(再沈積)於配置在基板與濺鍍靶間的鉭製線圈之表面,本發明之課題在於提供以下技術:於濺鍍結束後,藉由切削而除去該使用完畢之線圈所堆積之濺鍍粒子,從而有效地使鉭製線圈再生,藉此可排除不必要之新線圈之製作,提高生產性,且穩定地提供該線圈。
    • 本发明系关于一种溅镀用钽制线圈之再生方法,其系配置于基板与溅镀靶之间之溅镀用钽制线圈之再生方法,其特征在于:借由对线圈整个面或一部分进行切削加工,而对使用完毕之线圈进行面加工(切削至再沉积膜及滚纹加工痕迹消失),从而除去溅镀中所形成之再沉积膜,然后,对切削后之部位重新施加滚纹。于溅镀中,溅镀粒子会堆积(再沉积)于配置在基板与溅镀靶间的钽制线圈之表面,本发明之课题在于提供以下技术:于溅镀结束后,借由切削而除去该使用完毕之线圈所堆积之溅镀粒子,从而有效地使钽制线圈再生,借此可排除不必要之新线圈之制作,提高生产性,且稳定地提供该线圈。
    • 4. 发明专利
    • 鈦製濺鍍靶及其製造方法
    • 钛制溅镀靶及其制造方法
    • TW201632647A
    • 2016-09-16
    • TW104131215
    • 2015-09-22
    • JX日鑛日石金屬股份有限公司JX NIPPON MINING & METALS CORPORATION
    • 塚本志郎TSUKAMOTO, SHIRO
    • C23C14/34H01L21/285
    • C23C14/34H01L21/285
    • 習知之凹(concave)形狀之鈦製濺鍍靶係切削鈦製之壓延板而製作,由於在平面部與楔形(taper)部晶向存在大差異,故而存在於利用濺鍍進行成膜時,膜厚之均勻性差之問題。本案發明係代替切削,而藉由對鈦製之壓延板進行加壓(鍛造)從而加工成凹形狀,藉此於平面部與楔形部減小晶向之差,從而提供特性優異之鈦製濺鍍靶。藉此,具有如下優異之效果:能夠不改變習知之濺鍍特性,而形成均一性(uniformity)優異之薄膜,從而能夠提高發展微細化、高積體化之半導體製品之良率或可靠性。
    • 习知之凹(concave)形状之钛制溅镀靶系切削钛制之压延板而制作,由于在平面部与楔形(taper)部晶向存在大差异,故而存在于利用溅镀进行成膜时,膜厚之均匀性差之问题。本案发明系代替切削,而借由对钛制之压延板进行加压(锻造)从而加工成凹形状,借此于平面部与楔形部减小晶向之差,从而提供特性优异之钛制溅镀靶。借此,具有如下优异之效果:能够不改变习知之溅镀特性,而形成均一性(uniformity)优异之薄膜,从而能够提高发展微细化、高积体化之半导体制品之良率或可靠性。