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    • 2. 发明专利
    • 電路板孔內焊錫之測試方法
    • 电路板孔内焊锡之测试方法
    • TW201329443A
    • 2013-07-16
    • TW101100629
    • 2012-01-06
    • 臻鼎科技股份有限公司ZHEN DING TECHNOLOGY CO., LTD.
    • 白耀文BAI, YAO-WEN
    • G01N27/20H05K3/00
    • 一種電路板孔內焊錫之測試方法,其包括以下步驟:提供一待測電路板,所述待測電路板包括至少一個通孔,所述通孔孔壁鍍有銅層,所述銅層表面形成有噴錫層;量測所述通孔兩個開口之間之噴錫層之間之電阻值,記錄為R1;將所述待測電路板於一鹼性蝕刻液中浸泡,之後取出並清潔乾燥,其中,所述鹼性蝕刻液之組分包括氨水、氯化銨及氯化銅,所述鹼性蝕刻液之PH範圍為7.8-9.0;再次量測所述通孔兩個開口之間之噴錫層之間之電阻值,記錄為R2;及計算ΔR=(R2-R1)/R1,如果ΔR大於一設定值,則判定所述噴錫層有焊錫裂縫或孔內缺錫不良。
    • 一种电路板孔内焊锡之测试方法,其包括以下步骤:提供一待测电路板,所述待测电路板包括至少一个通孔,所述通孔孔壁镀有铜层,所述铜层表面形成有喷锡层;量测所述通孔两个开口之间之喷锡层之间之电阻值,记录为R1;将所述待测电路板于一碱性蚀刻液中浸泡,之后取出并清洁干燥,其中,所述碱性蚀刻液之组分包括氨水、氯化铵及氯化铜,所述碱性蚀刻液之PH范围为7.8-9.0;再次量测所述通孔两个开口之间之喷锡层之间之电阻值,记录为R2;及计算ΔR=(R2-R1)/R1,如果ΔR大于一设置值,则判定所述喷锡层有焊锡裂缝或孔内缺锡不良。
    • 8. 发明专利
    • 電路基板之塞孔方法
    • 电路基板之塞孔方法
    • TW201338660A
    • 2013-09-16
    • TW101109582
    • 2012-03-21
    • 臻鼎科技股份有限公司ZHEN DING TECHNOLOGY CO., LTD.
    • 白耀文BAI, YAO-WEN
    • H05K3/40
    • 本發明提供一種電路基板之塞孔方法,其包括步驟:提供電路基板,該電路基板具有複數導電孔,每個導電孔之深度均大於3mm;藉由至少兩次塞孔工序於複數導電孔中填充塞孔油墨直至每個導電孔均被塞孔油墨填滿,每次塞孔工序均包括步驟:藉由絲網印刷於該複數導電孔中填充塞孔油墨,其中塞孔油墨於每個導電孔中之填充深度為1-2mm,及使用超聲波振盪填充了塞孔油墨之電路基板30-120秒,從而使得塞孔油墨中之氣泡逸出;以及使用超聲波振盪具有填滿了塞孔油墨之導電孔之電路基板30-90秒,從而獲得已塞孔之電路基板。
    • 本发明提供一种电路基板之塞孔方法,其包括步骤:提供电路基板,该电路基板具有复数导电孔,每个导电孔之深度均大于3mm;借由至少两次塞孔工序于复数导电孔中填充塞孔油墨直至每个导电孔均被塞孔油墨填满,每次塞孔工序均包括步骤:借由丝网印刷于该复数导电孔中填充塞孔油墨,其中塞孔油墨于每个导电孔中之填充深度为1-2mm,及使用超声波振荡填充了塞孔油墨之电路基板30-120秒,从而使得塞孔油墨中之气泡逸出;以及使用超声波振荡具有填满了塞孔油墨之导电孔之电路基板30-90秒,从而获得已塞孔之电路基板。