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    • 5. 发明专利
    • 決定積體電路之電壓以及找出電壓與電路參數之關係的方法
    • 决定集成电路之电压以及找出电压与电路参数之关系的方法
    • TW202018544A
    • 2020-05-16
    • TW107139648
    • 2018-11-08
    • 瑞昱半導體股份有限公司REALTEK SEMICONDUCTOR CORPORATION
    • 陳英傑CHEN, YING-CHIEH余美儷YU, MEI-LI羅幼嵐LO, YU-LAN林欣樟LIN, HSIN-CHANG高淑怡KAO, SHU-YI
    • G06F17/50H01L21/02
    • 本發明揭露一種決定IC之電壓的方法,包含:依據一電路設計進行一靜態時序分析,以得到該電路設計之一關鍵路徑的資料,再據以產生一網表;依據一標準電壓及複數個預設參數對該網表執行一電路參數模擬以及一蒙地卡羅模擬,以分別得到一電路參數參考值以及複數個電路參數值的一變異數;依據一預設電壓範圍執行一適應性電壓調整分析,以得到一電壓與電路參數關係,其中該電壓與電路參數關係指出該預設電壓範圍內複數個預設電壓的每一個所關聯的一電路參數偏移達到了多少個該變異數;以及依據該標準電壓測試一IC,以得到該IC之一電路參數測試值,並依據該電路參數測試值與該電路參數參考值之差以及該電壓與電路參數關係,決定該IC之一供應電壓。
    • 本发明揭露一种决定IC之电压的方法,包含:依据一电路设计进行一静态时序分析,以得到该电路设计之一关键路径的数据,再据以产生一网表;依据一标准电压及复数个默认参数对该网表运行一电路参数仿真以及一蒙地卡罗仿真,以分别得到一电路参数参考值以及复数个电路参数值的一变异数;依据一默认电压范围运行一适应性电压调整分析,以得到一电压与电路参数关系,其中该电压与电路参数关系指出该默认电压范围内复数个默认电压的每一个所关联的一电路参数偏移达到了多少个该变异数;以及依据该标准电压测试一IC,以得到该IC之一电路参数测试值,并依据该电路参数测试值与该电路参数参考值之差以及该电压与电路参数关系,决定该IC之一供应电压。