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1. 发明专利

TW201627678A 消除靜電之測試方法审中-公开
简体标题：消除静电之测试方法
公开(公告)号：TW201627678A
公开(公告)日：2016-08-01
申请号：TW104102343
申请日：2015-01-23
申请人：晶焱科技股份有限公司 , AMAZING MICROELECTRONIC CORP.
发明人：柯明道 , KER, MING DOU , 莊哲豪 , CHUANG, CHE HAO
IPC分类号： G01R31/26
摘要：本發明係揭露一種消除靜電之測試方法，其係利用一測試設備，該測試設備包含一測試器與一平台。首先，執行至少一測試流程，在測試流程中，測試設備上產生有靜電電荷。在測試流程中，測試器接觸並測試位於平台之一測試區域上之至少一測試積體電路(IC)。接著，將測試積體電路移離測試器與測試區域。結束測試流程後，移動接地之一導電裝置至測試區域，使測試器接觸導電裝置，以釋放靜電電荷至接地端。接著，將導電裝置移離測試器與測試區域。最後，回至測試流程，以測試下一測試積體電路。
简体摘要：本发明系揭露一种消除静电之测试方法，其系利用一测试设备，该测试设备包含一测试器与一平台。首先，运行至少一测试流程，在测试流程中，测试设备上产生有静电电荷。在测试流程中，测试器接触并测试位于平台之一测试区域上之至少一测试集成电路(IC)。接着，将测试集成电路移离测试器与测试区域。结束测试流程后，移动接地之一导电设备至测试区域，使测试器接触导电设备，以释放静电电荷至接地端。接着，将导电设备移离测试器与测试区域。最后，回至测试流程，以测试下一测试集成电路。

2. 发明专利

TWI469308B 電源箝制靜電放電防護電路有权
简体标题：电源箝制静电放电防护电路
公开(公告)号：TWI469308B
公开(公告)日：2015-01-11
申请号：TW101133779
申请日：2012-09-14
申请人：晶焱科技股份有限公司 , AMAZING MICROELECTRONIC CORP.
发明人：艾飛 , ALTOLAGUIRRE, FEDERICO AGUSTIN , 柯明道 , KER, MING DOU , 姜信欽 , JIANG, RYAN HSIN CHIN
IPC分类号： H01L23/60
CPC分类号： H02H9/046 , H01L2924/0002 , H01L2924/00

3. 发明专利

TW201409654A 電源箝制靜電放電防護電路审中-公开
简体标题：电源箝制静电放电防护电路
公开(公告)号：TW201409654A
公开(公告)日：2014-03-01
申请号：TW101133779
申请日：2012-09-14
申请人：晶焱科技股份有限公司 , AMAZING MICROELECTRONIC CORP.
发明人：艾飛 , ALTOLAGUIRRE, FEDERICO AGUSTIN , 柯明道 , KER, MING DOU , 姜信欽 , JIANG, RYAN HSIN CHIN
IPC分类号： H01L23/60
CPC分类号： H02H9/046 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要：一種電源箝制靜電放電防護電路，其係包括一矽控整流器以及一控制模組，其中矽控整流器係電性連接於一高電壓準位與一低電壓準位之間，以用來承載一電流路徑。控制模組係並聯於矽控整流器，並包含有一P型金氧半場效電晶體、一N型金氧半場效電晶體、至少一輸出二極體、一電阻、以及一導通串列。其中，矽控整流器可以是一P型或N型之基底觸發矽控整流器。利用此種新穎之電源箝制靜電放電防護電路，可達到大幅降低電路之漏電流與省卻元件製程面積之功效。
简体摘要：一种电源箝制静电放电防护电路，其系包括一硅控整流器以及一控制模块，其中硅控整流器系电性连接于一高电压准位与一低电压准位之间，以用来承载一电流路径。控制模块系并联于硅控整流器，并包含有一P型金氧半场效应管、一N型金氧半场效应管、至少一输出二极管、一电阻、以及一导通串行。其中，硅控整流器可以是一P型或N型之基底触发硅控整流器。利用此种新颖之电源箝制静电放电防护电路，可达到大幅降低电路之漏电流与省却组件制程面积之功效。

4. 发明专利

TWI541976B 三維積體電路封裝有权
简体标题：三维集成电路封装
公开(公告)号：TWI541976B
公开(公告)日：2016-07-11
申请号：TW102147441
申请日：2013-12-20
申请人：晶焱科技股份有限公司 , AMAZING MICROELECTRONIC CORP.
发明人：柯明道 , KER, MING DOU , 莊哲豪 , CHUANG, CHE HAO
IPC分类号： H01L25/04 , H01L23/52
CPC分类号： H01L23/60 , H01L23/66 , H01L24/16 , H01L24/17 , H01L25/0655 , H01L25/0657 , H01L2224/16 , H01L2224/16146 , H01L2224/16227

5. 发明专利

TWI517227B 平面式放電微通道（ＭｉｃｒｏＴｕｂｅｓ）結構及其製作方法有权
简体标题：平面式放电微信道（ＭｉｃｒｏＴｕｂｅｓ）结构及其制作方法
公开(公告)号：TWI517227B
公开(公告)日：2016-01-11
申请号：TW101106427
申请日：2012-02-24
申请人：晶焱科技股份有限公司 , AMAZING MICROELECTRONIC CORP.
发明人：陳東暘 , CHEN, TUNG YANG , 柯明道 , KER, MING DOU , 姜信欽 , JIANG, RYAN HSIN CHIN
IPC分类号： H01L21/30
CPC分类号： H01J9/02 , H01J17/066

6. 发明专利

TW201335980A 平面式放電微通道（ＭｉｃｒｏＴｕｂｅｓ）結構及其製作方法审中-公开
简体标题：平面式放电微信道（ＭｉｃｒｏＴｕｂｅｓ）结构及其制作方法
公开(公告)号：TW201335980A
公开(公告)日：2013-09-01
申请号：TW101106427
申请日：2012-02-24
申请人：晶焱科技股份有限公司 , AMAZING MICROELECTRONIC CORP.
发明人：陳東暘 , CHEN, TUNG YANG , 柯明道 , KER, MING DOU , 姜信欽 , JIANG, RYAN HSIN CHIN
IPC分类号： H01L21/30
CPC分类号： H01J9/02 , H01J17/066
摘要：本發明係揭露一種以半導體製程為基礎的平面式放電微通道(MicroTubes)結構及其製作方法，首先於一基板上形成二電極圖案與至少一分隔區塊，電極圖案相隔一間隙，且分隔區塊位於該間隙中。接著，形成一絕緣層於電極圖案與分隔區塊上，並充填上述間隙，以藉其形成連通電極圖案之至少二放電路徑。由於利用上述技術實可於半導體結構中設計出複數條放電路徑，因此具極高的可靠度及再次使用性。
简体摘要：本发明系揭露一种以半导体制程为基础的平面式放电微信道(MicroTubes)结构及其制作方法，首先于一基板上形成二电极图案与至少一分隔区块，电极图案相隔一间隙，且分隔区块位于该间隙中。接着，形成一绝缘层于电极图案与分隔区块上，并充填上述间隙，以藉其形成连通电极图案之至少二放电路径。由于利用上述技术实可于半导体结构中设计出复数条放电路径，因此具极高的可靠度及再次使用性。

7. 发明专利

TWI546550B 消除靜電之測試裝置有权
简体标题：消除静电之测试设备
公开(公告)号：TWI546550B
公开(公告)日：2016-08-21
申请号：TW104102344
申请日：2015-01-23
申请人：晶焱科技股份有限公司 , AMAZING MICROELECTRONIC CORP.
发明人：柯明道 , KER, MING DOU , 莊哲豪 , CHUANG, CHE HAO
IPC分类号： G01R31/28 , H05F3/02

8. 发明专利

TWI384231B 電壓暫態偵測電路有权
简体标题：电压暂态侦测电路
公开(公告)号：TWI384231B
公开(公告)日：2013-02-01
申请号：TW098119569
申请日：2009-06-11
申请人：晶焱科技股份有限公司 , AMAZING MICROELECTRONIC CORP.
发明人：柯明道 , KER, MING DOU , 陳穩義 , CHEN, WEN YI , 姜信欽 , JIANG, HSIN CHIN
IPC分类号： G01R19/155 , H02H3/22
CPC分类号： H02H9/046 , H02H1/0007

9. 发明专利

TWI546548B 消除靜電之測試方法有权
简体标题：消除静电之测试方法
公开(公告)号：TWI546548B
公开(公告)日：2016-08-21
申请号：TW104102343
申请日：2015-01-23
申请人：晶焱科技股份有限公司 , AMAZING MICROELECTRONIC CORP.
发明人：柯明道 , KER, MING DOU , 莊哲豪 , CHUANG, CHE HAO
IPC分类号： G01R31/26

10. 发明专利

TW201627683A 消除靜電之測試裝置审中-公开
简体标题：消除静电之测试设备
公开(公告)号：TW201627683A
公开(公告)日：2016-08-01
申请号：TW104102344
申请日：2015-01-23
申请人：晶焱科技股份有限公司 , AMAZING MICROELECTRONIC CORP.
发明人：柯明道 , KER, MING DOU , 莊哲豪 , CHUANG, CHE HAO
IPC分类号： G01R31/28 , H05F3/02
摘要：本發明係揭露一種消除靜電之測試裝置，包含一消除積體電路(IC)與一測試器。消除積體電路具有複數第一接腳、一第二接腳與一第三接腳。所有第一接腳分別連接至少一測試積體電路之複數第四接腳，且測試積體電路之一表面上有靜電電荷，第三接腳連接接地端，測試器之複數探針分別接觸所有第四接腳。在第二接腳接收開啟訊號時，消除積體電路利用開啟訊號形成介於測試積體電路與接地端之導通路徑，並經由第一接腳與第三接腳釋放靜電電荷至接地端。在第二接腳接收關閉訊號時，消除積體電路利用關閉訊號以切斷導通路徑，且測試器測試測試積體電路。
简体摘要：本发明系揭露一种消除静电之测试设备，包含一消除集成电路(IC)与一测试器。消除集成电路具有复数第一接脚、一第二接脚与一第三接脚。所有第一接脚分别连接至少一测试集成电路之复数第四接脚，且测试集成电路之一表面上有静电电荷，第三接脚连接接地端，测试器之复数探针分别接触所有第四接脚。在第二接脚接收打开信号时，消除集成电路利用打开信号形成介于测试集成电路与接地端之导通路径，并经由第一接脚与第三接脚释放静电电荷至接地端。在第二接脚接收关闭信号时，消除集成电路利用关闭信号以切断导通路径，且测试器测试测试集成电路。

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