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热词
    • 4. 发明专利
    • 倒置式覆晶封裝構造
    • 倒置式覆晶封装构造
    • TW432654B
    • 2001-05-01
    • TW089101236
    • 2000-01-24
    • 日月光半導體製造股份有限公司
    • 王維中王學德張圖寬陳崑進
    • H01L
    • 一種倒置式覆晶封裝構造,其包含一原先為打線式封裝設計之半導體晶片直接利用複數個錫鉛連接(solder joint)與一覆晶基板下表面進行接合。該覆晶基板下表面設有複數個錫球銲墊於該半導體晶片之週邊用以安裝複數個錫球。該複數個錫球銲墊係分別電性連接至該半導體晶片相對應之輸入/輸出墊(I/Opad)。本發明之特徵在於在不修改晶片IC設計與製程的情況下,仍可大致沿用原先為打線式封裝設計之基板電路佈局及本發明之覆晶封裝構造可直接安裝於原先為打線式封裝設計之印刷電路板,而完全不需變更印刷電路板之電路佈局設計。
    • 一种倒置式覆晶封装构造,其包含一原先为打线式封装设计之半导体芯片直接利用复数个锡铅连接(solder joint)与一覆晶基板下表面进行接合。该覆晶基板下表面设有复数个锡球焊垫于该半导体芯片之周边用以安装复数个锡球。该复数个锡球焊垫系分别电性连接至该半导体芯片相对应之输入/输出垫(I/Opad)。本发明之特征在于在不修改芯片IC设计与制程的情况下,仍可大致沿用原先为打线式封装设计之基板电路布局及本发明之覆晶封装构造可直接安装于原先为打线式封装设计之印刷电路板,而完全不需变更印刷电路板之电路布局设计。
    • 5. 发明专利
    • 製造堆疊晶片封裝構造之方法
    • 制造堆栈芯片封装构造之方法
    • TW444364B
    • 2001-07-01
    • TW089105412
    • 2000-03-23
    • 日月光半導體製造股份有限公司
    • 王學德陶恕
    • H01L
    • H01L2224/16225H01L2224/32225H01L2224/48091H01L2224/73204H01L2224/73265H01L2224/92247H01L2924/00014H01L2924/00
    • 一種製造堆疊晶片封裝構造之方法,其包含下列步驟:(a)將一第一晶片置放在一基板上,使得該第一晶片之錫鉛凸塊對齊該基板上相對應的覆晶接合墊;(b)回焊該錫鉛凸塊;(c)將一第二晶片之背面利用一膠層貼在該第一晶片上;(d)硬化該膠層;(e)形成一壞膠於第一晶片與基板間;(f)硬化該填膠;(g)電性連接該第二晶片之晶片銲墊至基板上相對應的複數個線接合墊;及(h)形成一封膠體包覆該第一晶片、第二晶片以及該基板上表面之一部份。由於該膠層係先在步驟(d)中被硬化而形成一保護層於第一晶片之背面。因而,在該填膠硬化的過程中,該已硬化的膠層可以幫助該第一晶片抵抗填膠硬化製程產生之應力,藉此改善晶片破裂(die crack)之問題。
    • 一种制造堆栈芯片封装构造之方法,其包含下列步骤:(a)将一第一芯片置放在一基板上,使得该第一芯片之锡铅凸块对齐该基板上相对应的覆晶接合垫;(b)回焊该锡铅凸块;(c)将一第二芯片之背面利用一胶层贴在该第一芯片上;(d)硬化该胶层;(e)形成一坏胶于第一芯片与基板间;(f)硬化该填胶;(g)电性连接该第二芯片之芯片焊垫至基板上相对应的复数个线接合垫;及(h)形成一封胶体包覆该第一芯片、第二芯片以及该基板上表面之一部份。由于该胶层系先在步骤(d)中被硬化而形成一保护层于第一芯片之背面。因而,在该填胶硬化的过程中,该已硬化的胶层可以帮助该第一芯片抵抗填胶硬化制程产生之应力,借此改善芯片破裂(die crack)之问题。
    • 6. 发明专利
    • 可改善製程效率及可靠性之覆晶封裝結構及澆注方法
    • 可改善制程效率及可靠性之覆晶封装结构及浇注方法
    • TW441050B
    • 2001-06-16
    • TW088106087
    • 1999-04-16
    • 日月光半導體製造股份有限公司
    • 王維中王學德方仁廣陶恕
    • H01L
    • 本發明為一種可改善製程效率及可靠性之覆晶封裝結構及澆注方法,其主要係在基板上覆置連接晶片,而基板上之中間區域為一非焊罩區域,其餘區域則覆蓋有一焊罩,又於該基板中間區域之中央則形成有一通孔,藉此,充填材料可由晶片之全部周圍同時澆注時,並向內流至該非焊罩區域時即停止流動,而不會堵塞該通孔,可降低澆注時程並有效將該基板與該晶片間之空氣控制在通孔附近形成空隙(VOID),在封裝後續製程時,因該區域的空氣透過通孔與外界流通,故不會造成在高溫迴焊(REFLOW)時產生膨爆(POPCORN)及晶片裂化(DI ECRACK)之現象。
    • 本发明为一种可改善制程效率及可靠性之覆晶封装结构及浇注方法,其主要系在基板上覆置连接芯片,而基板上之中间区域为一非焊罩区域,其余区域则覆盖有一焊罩,又于该基板中间区域之中央则形成有一通孔,借此,充填材料可由芯片之全部周围同时浇注时,并向内流至该非焊罩区域时即停止流动,而不会堵塞该通孔,可降低浇注时程并有效将该基板与该芯片间之空气控制在通孔附近形成空隙(VOID),在封装后续制程时,因该区域的空气透过通孔与外界流通,故不会造成在高温回焊(REFLOW)时产生膨爆(POPCORN)及芯片裂化(DI ECRACK)之现象。
    • 7. 发明专利
    • 導線架上覆晶半導體封裝結構 SEMICONDUCTOR PACKAGE WITH FLIP CHIP ON LEADFRAME
    • 导线架上覆晶半导体封装结构 SEMICONDUCTOR PACKAGE WITH FLIP CHIP ON LEADFRAME
    • TWI317991B
    • 2009-12-01
    • TW092136315
    • 2003-12-19
    • 日月光半導體製造股份有限公司
    • 劉千王學德王盟仁邱己豪黃泰源
    • H01L
    • H01L24/17H01L23/3107H01L23/4334H01L23/49548H01L23/49558H01L23/49575H01L24/45H01L24/48H01L2224/13099H01L2224/16245H01L2224/32145H01L2224/45144H01L2224/48091H01L2224/48247H01L2224/73253H01L2224/73265H01L2924/01006H01L2924/01029H01L2924/01033H01L2924/01079H01L2924/01082H01L2924/014H01L2924/07802H01L2924/14H01L2924/16152H01L2924/181H01L2924/00014H01L2924/00H01L2924/00012
    • 一種導線架上覆晶半導體封裝結構,其係包含有複數個引腳、至少一晶片及一封膠體,該些引腳之上表面內端係為凸塊接合區,該些引腳之下表面外端係形成有複數個外接區,該些引腳係形成有至少一阻銲凹陷部,該阻銲凹陷部係鄰接該些凸塊接合區,其係可供該封膠體填充,該阻銲凹陷部係具有倒「Ω」形截面為佳,以阻止該覆晶晶片之凸塊過度潤溼擴散至該些引腳之其它部位,並以該封膠體係填充於該阻銲凹陷部,以達到穩固該些引腳之內端。 A semiconductor package with flip chip on leadframe comprises a plurality of leads, at least a chip and a molding compound. The leads have a plurality of bump-bonding regions on upper surfaces at inner ends thereof and have a plurality of outer connecting regions on lower surfaces at outer ends thereof. At least a solder-resist concave portion is formed on upper surfaces of the leads adjacent to the flip-chip bonding regions for filling in the molding compound. The solder-resist concave portion preferably has an upside-down "Ω"-shaped profile for preventing other portions of the leads from being over-wetted and spread by bumps of the chip. Because that the solder-resist concave portion is filled with the molding compound, the inner ends of the leads are fixed well.
    • 一种导线架上覆晶半导体封装结构,其系包含有复数个引脚、至少一芯片及一封胶体,该些引脚之上表面内端系为凸块接合区,该些引脚之下表面外端系形成有复数个外置区,该些引脚系形成有至少一阻焊凹陷部,该阻焊凹陷部系邻接该些凸块接合区,其系可供该封胶体填充,该阻焊凹陷部系具有倒“Ω”形截面为佳,以阻止该覆晶芯片之凸块过度润湿扩散至该些引脚之其它部位,并以该封胶体系填充于该阻焊凹陷部,以达到稳固该些引脚之内端。 A semiconductor package with flip chip on leadframe comprises a plurality of leads, at least a chip and a molding compound. The leads have a plurality of bump-bonding regions on upper surfaces at inner ends thereof and have a plurality of outer connecting regions on lower surfaces at outer ends thereof. At least a solder-resist concave portion is formed on upper surfaces of the leads adjacent to the flip-chip bonding regions for filling in the molding compound. The solder-resist concave portion preferably has an upside-down "Ω"-shaped profile for preventing other portions of the leads from being over-wetted and spread by bumps of the chip. Because that the solder-resist concave portion is filled with the molding compound, the inner ends of the leads are fixed well.
    • 8. 发明专利
    • 底膠填充裝置
    • 底胶填充设备
    • TW540143B
    • 2003-07-01
    • TW090128980
    • 2001-11-22
    • 日月光半導體製造股份有限公司
    • 楊朝欽王學德
    • H01L
    • H01L2224/27H01L2224/73204H01L2224/743H01L2224/81H01L2224/83192
    • 一種底膠填充裝置,係用以填充一半導體覆晶封裝構造之底膠,其包括一印刷機構及一遮罩,其中該印刷機構具有一刮板,而該遮罩具有至少一開口,且該底膠係藉由刮板之擠壓以填充於開口,其特徵在於:該遮罩之開口的週邊設置有至少一凸出部,且其外緣係呈凸弧狀,如此,便可使藉由該印刷機構印刷之底膠表面呈現平順,且外廓呈凸弧面,以使當晶片打至基板時,底膠中的空氣可減至最少,進而使底膠能充分發揮應力緩衝之目的。
    • 一种底胶填充设备,系用以填充一半导体覆晶封装构造之底胶,其包括一印刷机构及一遮罩,其中该印刷机构具有一刮板,而该遮罩具有至少一开口,且该底胶系借由刮板之挤压以填充于开口,其特征在于:该遮罩之开口的周边设置有至少一凸出部,且其外缘系呈凸弧状,如此,便可使借由该印刷机构印刷之底胶表面呈现平顺,且外廓呈凸弧面,以使当芯片打至基板时,底胶中的空气可减至最少,进而使底胶能充分发挥应力缓冲之目的。
    • 9. 发明专利
    • 可增進封膠效率之覆晶封裝結構及製程
    • 可增进封胶效率之覆晶封装结构及制程
    • TW432653B
    • 2001-05-01
    • TW088121289
    • 1999-12-06
    • 日月光半導體製造股份有限公司
    • 陶恕王維中王學德
    • H01L
    • H01L24/81H01L2224/16225H01L2224/32225H01L2224/73204H01L2224/92125H01L2924/00
    • 本發明為一種可增進封膠效率及可靠度之覆晶封裝結構及製程,其主要係將晶片覆置連接於基板表面上之前,在基板上晶片覆置區內預先塗佈數個以上不導電黏膠於中央區域,且黏膠彼此保持適當間距以維持晶片覆置時,晶片與基板之間中央區域與外界之空氣流通。此舉可以增加晶片覆置連接於基板的黏著強度,以防止晶片之凸塊電極黏著區在後續烘烤製程中基板變形而產生電極連接不良或分離情形,造成封裝產品失效。又於該基板之中央區域形成有一通孔,藉由該通孔及預先塗佈之不導電黏膠,充填材料由晶片之全部周圍或是一側同時澆注時,得以極佳之附著性向基板之中央流動,且在充填材料流動的同時,存在於基板、晶片以及充填材料之間的空氣得以由中央形成的通孔逃逸出基板之外,此舉不但可大幅減少封膠之時間,同時可有效地將該基板與晶片間之空氣驅離而不致產生空隙。
    • 本发明为一种可增进封胶效率及可靠度之覆晶封装结构及制程,其主要系将芯片覆置连接于基板表面上之前,在基板上芯片覆置区内预先涂布数个以上不导电黏胶于中央区域,且黏胶彼此保持适当间距以维持芯片覆置时,芯片与基板之间中央区域与外界之空气流通。此举可以增加芯片覆置连接于基板的黏着强度,以防止芯片之凸块电极黏着区在后续烘烤制程中基板变形而产生电极连接不良或分离情形,造成封装产品失效。又于该基板之中央区域形成有一通孔,借由该通孔及预先涂布之不导电黏胶,充填材料由芯片之全部周围或是一侧同时浇注时,得以极佳之附着性向基板之中央流动,且在充填材料流动的同时,存在于基板、芯片以及充填材料之间的空气得以由中央形成的通孔逃逸出基板之外,此举不但可大幅减少封胶之时间,同时可有效地将该基板与芯片间之空气驱离而不致产生空隙。