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    • 10. 发明专利
    • 半導體發光裝置之製造方法
    • 半导体发光设备之制造方法
    • TW201618338A
    • 2016-05-16
    • TW104124389
    • 2015-07-28
    • 住友化學股份有限公司SUMITOMO CHEMICAL COMPANY, LIMITED
    • 吉川岳YOSHIKAWA, GAKU高島正之TAKASHIMA, MASAYUKI
    • H01L33/56C08G77/06C08L83/06H01L23/29H01L23/31
    • H01L33/56C08G77/04C08L83/04C09D183/06H01L33/502H01L2933/005
    • 一種半導體發光裝置之製造方法,其包含:將聚矽氧樹脂組成物塗佈於半導體發光元件之表面之步驟,與藉由使該塗佈之聚矽氧樹脂組成物熱硬化而形成覆蓋前述半導體發光元件之表面之密封部之步驟;前述聚矽氧樹脂組成物相對於該聚矽氧樹脂組成物之固體成分之總質量包含60質量%以上之聚矽氧樹脂,該聚矽氧樹脂之構成成分之矽原子僅為實質上鍵結3個氧原子之矽原子;將熱硬化前之該聚矽氧樹脂之1000~1050cm-1下之源自Si-O-Si鍵之紅外線吸收光譜之波峰位置設為a cm-1,將熱硬化後之該聚矽氧樹脂組成物之950~1050cm-1下之源自Si-O-Si鍵之紅外線吸收光譜之波峰位置設為b cm-1時,該熱硬化係在滿足5
    • 一种半导体发光设备之制造方法,其包含:将聚硅氧树脂组成物涂布于半导体发光组件之表面之步骤,与借由使该涂布之聚硅氧树脂组成物热硬化而形成覆盖前述半导体发光组件之表面之密封部之步骤;前述聚硅氧树脂组成物相对于该聚硅氧树脂组成物之固体成分之总质量包含60质量%以上之聚硅氧树脂,该聚硅氧树脂之构成成分之硅原子仅为实质上键结3个氧原子之硅原子;将热硬化前之该聚硅氧树脂之1000~1050cm-1下之源自Si-O-Si键之红外线吸收光谱之波峰位置设为a cm-1,将热硬化后之该聚硅氧树脂组成物之950~1050cm-1下之源自Si-O-Si键之红外线吸收光谱之波峰位置设为b cm-1时,该热硬化系在满足5