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    • 4. 发明专利
    • 三維結構光測量系統
    • 三维结构光测量系统
    • TW201947537A
    • 2019-12-16
    • TW107116045
    • 2018-05-11
    • 所羅門股份有限公司SOLOMON TECHNOLOGY CORPORATION
    • 陳政隆CHEN, CHENG-LUNG戴文智TAI, WEN-CHIH
    • G06T17/00
    • 一種三維結構光測量系統包含一第一影像擷取單元、一投影單元、一第二影像擷取單元、及一控制單元。該控制單元分析該第一影像擷取單元所擷取相關於一物件的一表面的一個二維影像,以產生一亮度灰階條件,並根據該亮度灰階條件,將多個預定光柵圖案所對應的亮度分別作調整,以產生多個補償光柵圖案,進而控制該投影單元投影該等補償光柵圖案至該物件的該表面。該控制單元接收該第二影像擷取單元所擷取的多個投影光柵影像,並據以產生該表面的三維輪廓。
    • 一种三维结构光测量系统包含一第一影像截取单元、一投影单元、一第二影像截取单元、及一控制单元。该控制单元分析该第一影像截取单元所截取相关于一对象的一表面的一个二维影像,以产生一亮度灰阶条件,并根据该亮度灰阶条件,将多个预定光栅图案所对应的亮度分别作调整,以产生多个补偿光栅图案,进而控制该投影单元投影该等补偿光栅图案至该对象的该表面。该控制单元接收该第二影像截取单元所截取的多个投影光栅影像,并据以产生该表面的三维轮廓。