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    • 2. 发明专利
    • 記憶體及包含其之記憶體系統
    • 内存及包含其之内存系统
    • TW201506950A
    • 2015-02-16
    • TW103113277
    • 2014-04-10
    • 愛思開海力士有限公司SK HYNIX INC.
    • 池性洙CHI, SUNG-SOO
    • G11C8/06G11C8/08
    • G11C7/02G11C11/40622G11C11/408G11C29/783G11C2211/4065
    • 本發明揭示一種記憶體,其包含:一第一胞元區塊,其包括複數個第一字線及用於替換該複數個第一字線中之至少一者之一或多個第一冗餘字線;一第二胞元區塊,其包括複數個第二字線及用於替換該複數個第二字線中之至少一者之一或多個第二冗餘字線;及一控制單元,其適合於在一目標再新區段期間循序接收一或多個輸入位址、回應於一第一輸入位址而選擇該第一胞元區塊及該第二胞元區塊中之一者以及包含於該選定胞元區塊中之一字線且在基於該第一輸入位址而選擇之該選定字線毗鄰於冗餘字線時啟動毗鄰於該選定字線之一或多個毗鄰字線,其中該等毗鄰字線包括該冗餘字線。
    • 本发明揭示一种内存,其包含:一第一胞元区块,其包括复数个第一字线及用于替换该复数个第一字线中之至少一者之一或多个第一冗余字线;一第二胞元区块,其包括复数个第二字线及用于替换该复数个第二字线中之至少一者之一或多个第二冗余字线;及一控制单元,其适合于在一目标再新区段期间循序接收一或多个输入位址、回应于一第一输入位址而选择该第一胞元区块及该第二胞元区块中之一者以及包含于该选定胞元区块中之一字线且在基于该第一输入位址而选择之该选定字线毗邻于冗余字线时启动毗邻于该选定字线之一或多个毗邻字线,其中该等毗邻字线包括该冗余字线。
    • 3. 发明专利
    • 閂鎖電路及包含該閂鎖電路的半導體裝置
    • 闩锁电路及包含该闩锁电路的半导体设备
    • TW201604866A
    • 2016-02-01
    • TW103139613
    • 2014-11-14
    • 愛思開海力士有限公司SK HYNIX INC.
    • 池性洙CHI, SUNG-SOO
    • G11C11/412H01L27/105H01L27/108H01L27/11
    • H03K3/356104G11C11/4125
    • 本發明揭示一種閂鎖電路,包含:第一至第N儲存節點,其中N為等於或大於四的偶數;以及第一至第N電晶體對,每一者係包含透過該第一至第N儲存節點的一對應節點彼此串聯耦合之一PMOS電晶體以及一NMOS電晶體。該PMOS電晶體耦合至該等儲存節點之一者,該節點包含在該PMOS電晶體閘極上該等電晶體對之前一者內。該NMOS電晶體耦合至該等儲存節點之一者,該節點包含在該NMOS電晶體閘極上該等電晶體對之後一者內。該第一至第N電晶體對之該等PMOS電晶體形成於第一主動區域內。該第一至第N電晶體對的該等NMOS電晶體形成於與該第一主動區域相隔的一第二主動區域內。
    • 本发明揭示一种闩锁电路,包含:第一至第N存储节点,其中N为等于或大于四的偶数;以及第一至第N晶体管对,每一者系包含透过该第一至第N存储节点的一对应节点彼此串联耦合之一PMOS晶体管以及一NMOS晶体管。该PMOS晶体管耦合至该等存储节点之一者,该节点包含在该PMOS晶体管闸极上该等晶体管对之前一者内。该NMOS晶体管耦合至该等存储节点之一者,该节点包含在该NMOS晶体管闸极上该等晶体管对之后一者内。该第一至第N晶体管对之该等PMOS晶体管形成于第一主动区域内。该第一至第N晶体管对的该等NMOS晶体管形成于与该第一主动区域相隔的一第二主动区域内。