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1. 发明专利

TWI359007B 以光學同調斷層掃瞄分析黏膜樣本的方法 METHOD FOR ANALYZING A MUCOSA SAMPLE WITH OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY 有权
简体标题：以光学同调断层扫瞄分析黏膜样本的方法 METHOD FOR ANALYZING A MUCOSA SAMPLE WITH OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY
公开(公告)号：TWI359007B
公开(公告)日：2012-03-01
申请号：TW097141557
申请日：2008-10-29
申请人：國立台灣大學
发明人：蔡孟燦 , 李翔傑 , 李正匡 , 王義閔 , 江俊斌 , 陳信銘 , 楊志忠
IPC分类号： A61B
CPC分类号： G01B9/02091 , G01B9/02083
摘要：一種光學同調斷層掃瞄分析生物黏膜結構的方法，包括：(a)利用光學同調斷層掃瞄系統掃瞄一黏膜樣本；(b)由該光學同調斷層掃瞄的二維或三維影像結果中，選出一特定橫向範圍，分析該特定橫向範圍內所有縱向強度分佈(A-scan intensity profile)訊號；(c)計算各縱向強度分佈之三種參數，包括在樣品表面下某一深度範圍的強度標準差(Standard deviation)、空間頻譜的指數衰減常數(Exponential decay constant of the spatial-frequency spectrum)以及基底膜(Basement membrane)仍存在的情況下之上皮的厚度(Epithelium thickness)等三種指標；以及(c)以該橫向範圍內所有縱向強度(A-scan)的三種參數值，來分析黏膜樣本之結構。
简体摘要：一种光学同调断层扫瞄分析生物黏膜结构的方法，包括：(a)利用光学同调断层扫瞄系统扫瞄一黏膜样本；(b)由该光学同调断层扫瞄的二维或三维影像结果中，选出一特定横向范围，分析该特定横向范围内所有纵向强度分布(A-scan intensity profile)信号；(c)计算各纵向强度分布之三种参数，包括在样品表面下某一深度范围的强度标准差(Standard deviation)、空间频谱的指数衰减常数(Exponential decay constant of the spatial-frequency spectrum)以及基底膜(Basement membrane)仍存在的情况下之上皮的厚度(Epithelium thickness)等三种指针；以及(c)以该横向范围内所有纵向强度(A-scan)的三种参数值，来分析黏膜样本之结构。

2. 发明专利

TW201016193A 以光學同調斷層掃瞄分析黏膜樣本的方法 METHOD FOR ANALYZING A MUCOSA SAMPLE WITH OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY 审中-公开
简体标题：以光学同调断层扫瞄分析黏膜样本的方法 METHOD FOR ANALYZING A MUCOSA SAMPLE WITH OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY
公开(公告)号：TW201016193A
公开(公告)日：2010-05-01
申请号：TW097141557
申请日：2008-10-29
申请人：國立台灣大學
发明人：蔡孟燦 , 李翔傑 , 李正匡 , 王義閔 , 江俊斌 , 陳信銘 , 楊志忠
IPC分类号： A61B
CPC分类号： G01B9/02091 , G01B9/02083
摘要：一種光學同調斷層掃瞄分析生物黏膜結構的方法，包括：（a）利用光學同調斷層掃瞄系統掃瞄一黏膜樣本；（b）由該光學同調斷層掃瞄的二維或三維影像結果中，選出一特定橫向範圍，分析該特定橫向範圍內所有縱向強度分佈(A-scan intensity profile)訊號；（c）計算各縱向強度分佈之三種參數，包括在樣品表面下某一深度範圍的強度標準差(Standard deviation)、空間頻譜的指數衰減常數(Exponential decay constant of the spatial-frequency spectrum)以及基底膜(Basement membrane)仍存在的情況下之上皮的厚度(Epithelium thickness)等三種指標；以及（c）以該橫向範圍內所有縱向強度(A-scan)的三種參數值，來分析黏膜樣本之結構。
简体摘要：一种光学同调断层扫瞄分析生物黏膜结构的方法，包括：（a）利用光学同调断层扫瞄系统扫瞄一黏膜样本；（b）由该光学同调断层扫瞄的二维或三维影像结果中，选出一特定横向范围，分析该特定横向范围内所有纵向强度分布(A-scan intensity profile)信号；（c）计算各纵向强度分布之三种参数，包括在样品表面下某一深度范围的强度标准差(Standard deviation)、空间频谱的指数衰减常数(Exponential decay constant of the spatial-frequency spectrum)以及基底膜(Basement membrane)仍存在的情况下之上皮的厚度(Epithelium thickness)等三种指针；以及（c）以该横向范围内所有纵向强度(A-scan)的三种参数值，来分析黏膜样本之结构。

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