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1. 发明专利

TWI372246B 氧合血紅素飽和度量測系統及方法 MEASUREMENT SYSTEMS AND METHODS FOR OXYGENATED HEMOGLOBIN SATURATION LEVEL 有权
简体标题：氧合血红素饱和度量测系统及方法 MEASUREMENT SYSTEMS AND METHODS FOR OXYGENATED HEMOGLOBIN SATURATION LEVEL
公开(公告)号：TWI372246B
公开(公告)日：2012-09-11
申请号：TW096141175
申请日：2007-11-01
申请人：國立台灣大學
发明人：楊志忠 , 呂志偉 , 李正匡 , 蔡孟燦 , 王義閔
IPC分类号： G01N , A61B
CPC分类号： G01N33/721 , A61B5/1455 , G01J3/4531 , G01N21/4795
摘要：一種氧合血紅素飽和度量測方法，首先提供待測血液及參考反射鏡。接著對待測血液及參考反射鏡照射光線，參考反射鏡提供第一反射光束，且待測血液之不同深度之逆向散射提供第二反射光束。在取得第一反射光束與第二反射光束干涉作用所產生的干涉光訊號後，根據干涉光訊號來取得第一光波長範圍對於待測血液之第一衰減常數，以及取得第二光波長範圍對於待測血液之第二衰減常數。最後，取得第一衰減常數對第二衰減常數之衰減比例，並根據衰減比例取得待測血液之氧合血紅素飽和度。
简体摘要：一种氧合血红素饱和度量测方法，首先提供待测血液及参考反射镜。接着对待测血液及参考反射镜照射光线，参考反射镜提供第一反射光束，且待测血液之不同深度之逆向散射提供第二反射光束。在取得第一反射光束与第二反射光束干涉作用所产生的干涉光信号后，根据干涉光信号来取得第一光波长范围对于待测血液之第一衰减常数，以及取得第二光波长范围对于待测血液之第二衰减常数。最后，取得第一衰减常数对第二衰减常数之衰减比例，并根据衰减比例取得待测血液之氧合血红素饱和度。

2. 发明专利

TWI359007B 以光學同調斷層掃瞄分析黏膜樣本的方法 METHOD FOR ANALYZING A MUCOSA SAMPLE WITH OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY 有权
简体标题：以光学同调断层扫瞄分析黏膜样本的方法 METHOD FOR ANALYZING A MUCOSA SAMPLE WITH OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY
公开(公告)号：TWI359007B
公开(公告)日：2012-03-01
申请号：TW097141557
申请日：2008-10-29
申请人：國立台灣大學
发明人：蔡孟燦 , 李翔傑 , 李正匡 , 王義閔 , 江俊斌 , 陳信銘 , 楊志忠
IPC分类号： A61B
CPC分类号： G01B9/02091 , G01B9/02083
摘要：一種光學同調斷層掃瞄分析生物黏膜結構的方法，包括：(a)利用光學同調斷層掃瞄系統掃瞄一黏膜樣本；(b)由該光學同調斷層掃瞄的二維或三維影像結果中，選出一特定橫向範圍，分析該特定橫向範圍內所有縱向強度分佈(A-scan intensity profile)訊號；(c)計算各縱向強度分佈之三種參數，包括在樣品表面下某一深度範圍的強度標準差(Standard deviation)、空間頻譜的指數衰減常數(Exponential decay constant of the spatial-frequency spectrum)以及基底膜(Basement membrane)仍存在的情況下之上皮的厚度(Epithelium thickness)等三種指標；以及(c)以該橫向範圍內所有縱向強度(A-scan)的三種參數值，來分析黏膜樣本之結構。
简体摘要：一种光学同调断层扫瞄分析生物黏膜结构的方法，包括：(a)利用光学同调断层扫瞄系统扫瞄一黏膜样本；(b)由该光学同调断层扫瞄的二维或三维影像结果中，选出一特定横向范围，分析该特定横向范围内所有纵向强度分布(A-scan intensity profile)信号；(c)计算各纵向强度分布之三种参数，包括在样品表面下某一深度范围的强度标准差(Standard deviation)、空间频谱的指数衰减常数(Exponential decay constant of the spatial-frequency spectrum)以及基底膜(Basement membrane)仍存在的情况下之上皮的厚度(Epithelium thickness)等三种指针；以及(c)以该横向范围内所有纵向强度(A-scan)的三种参数值，来分析黏膜样本之结构。

3. 发明专利

TW201016193A 以光學同調斷層掃瞄分析黏膜樣本的方法 METHOD FOR ANALYZING A MUCOSA SAMPLE WITH OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY 审中-公开
简体标题：以光学同调断层扫瞄分析黏膜样本的方法 METHOD FOR ANALYZING A MUCOSA SAMPLE WITH OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY
公开(公告)号：TW201016193A
公开(公告)日：2010-05-01
申请号：TW097141557
申请日：2008-10-29
申请人：國立台灣大學
发明人：蔡孟燦 , 李翔傑 , 李正匡 , 王義閔 , 江俊斌 , 陳信銘 , 楊志忠
IPC分类号： A61B
CPC分类号： G01B9/02091 , G01B9/02083
摘要：一種光學同調斷層掃瞄分析生物黏膜結構的方法，包括：（a）利用光學同調斷層掃瞄系統掃瞄一黏膜樣本；（b）由該光學同調斷層掃瞄的二維或三維影像結果中，選出一特定橫向範圍，分析該特定橫向範圍內所有縱向強度分佈(A-scan intensity profile)訊號；（c）計算各縱向強度分佈之三種參數，包括在樣品表面下某一深度範圍的強度標準差(Standard deviation)、空間頻譜的指數衰減常數(Exponential decay constant of the spatial-frequency spectrum)以及基底膜(Basement membrane)仍存在的情況下之上皮的厚度(Epithelium thickness)等三種指標；以及（c）以該橫向範圍內所有縱向強度(A-scan)的三種參數值，來分析黏膜樣本之結構。
简体摘要：一种光学同调断层扫瞄分析生物黏膜结构的方法，包括：（a）利用光学同调断层扫瞄系统扫瞄一黏膜样本；（b）由该光学同调断层扫瞄的二维或三维影像结果中，选出一特定横向范围，分析该特定横向范围内所有纵向强度分布(A-scan intensity profile)信号；（c）计算各纵向强度分布之三种参数，包括在样品表面下某一深度范围的强度标准差(Standard deviation)、空间频谱的指数衰减常数(Exponential decay constant of the spatial-frequency spectrum)以及基底膜(Basement membrane)仍存在的情况下之上皮的厚度(Epithelium thickness)等三种指针；以及（c）以该横向范围内所有纵向强度(A-scan)的三种参数值，来分析黏膜样本之结构。

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