会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 1. 发明专利
    • 以光學同調斷層掃瞄分析黏膜樣本的方法 METHOD FOR ANALYZING A MUCOSA SAMPLE WITH OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY
    • 以光学同调断层扫瞄分析黏膜样本的方法 METHOD FOR ANALYZING A MUCOSA SAMPLE WITH OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY
    • TWI359007B
    • 2012-03-01
    • TW097141557
    • 2008-10-29
    • 國立台灣大學
    • 蔡孟燦李翔傑李正匡王義閔江俊斌陳信銘楊志忠
    • A61B
    • G01B9/02091G01B9/02083
    • 一種光學同調斷層掃瞄分析生物黏膜結構的方法,包括:(a)利用光學同調斷層掃瞄系統掃瞄一黏膜樣本;(b)由該光學同調斷層掃瞄的二維或三維影像結果中,選出一特定橫向範圍,分析該特定橫向範圍內所有縱向強度分佈(A-scan intensity profile)訊號;(c)計算各縱向強度分佈之三種參數,包括在樣品表面下某一深度範圍的強度標準差(Standard deviation)、空間頻譜的指數衰減常數(Exponential decay constant of the spatial-frequency spectrum)以及基底膜(Basement membrane)仍存在的情況下之上皮的厚度(Epithelium thickness)等三種指標;以及(c)以該橫向範圍內所有縱向強度(A-scan)的三種參數值,來分析黏膜樣本之結構。
    • 一种光学同调断层扫瞄分析生物黏膜结构的方法,包括:(a)利用光学同调断层扫瞄系统扫瞄一黏膜样本;(b)由该光学同调断层扫瞄的二维或三维影像结果中,选出一特定横向范围,分析该特定横向范围内所有纵向强度分布(A-scan intensity profile)信号;(c)计算各纵向强度分布之三种参数,包括在样品表面下某一深度范围的强度标准差(Standard deviation)、空间频谱的指数衰减常数(Exponential decay constant of the spatial-frequency spectrum)以及基底膜(Basement membrane)仍存在的情况下之上皮的厚度(Epithelium thickness)等三种指针;以及(c)以该横向范围内所有纵向强度(A-scan)的三种参数值,来分析黏膜样本之结构。
    • 2. 发明专利
    • 以光學同調斷層掃瞄分析黏膜樣本的方法 METHOD FOR ANALYZING A MUCOSA SAMPLE WITH OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY
    • 以光学同调断层扫瞄分析黏膜样本的方法 METHOD FOR ANALYZING A MUCOSA SAMPLE WITH OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY
    • TW201016193A
    • 2010-05-01
    • TW097141557
    • 2008-10-29
    • 國立台灣大學
    • 蔡孟燦李翔傑李正匡王義閔江俊斌陳信銘楊志忠
    • A61B
    • G01B9/02091G01B9/02083
    • 一種光學同調斷層掃瞄分析生物黏膜結構的方法,包括:(a)利用光學同調斷層掃瞄系統掃瞄一黏膜樣本;(b)由該光學同調斷層掃瞄的二維或三維影像結果中,選出一特定橫向範圍,分析該特定橫向範圍內所有縱向強度分佈(A-scan intensity profile)訊號;(c)計算各縱向強度分佈之三種參數,包括在樣品表面下某一深度範圍的強度標準差(Standard deviation)、空間頻譜的指數衰減常數(Exponential decay constant of the spatial-frequency spectrum)以及基底膜(Basement membrane)仍存在的情況下之上皮的厚度(Epithelium thickness)等三種指標;以及(c)以該橫向範圍內所有縱向強度(A-scan)的三種參數值,來分析黏膜樣本之結構。
    • 一种光学同调断层扫瞄分析生物黏膜结构的方法,包括:(a)利用光学同调断层扫瞄系统扫瞄一黏膜样本;(b)由该光学同调断层扫瞄的二维或三维影像结果中,选出一特定横向范围,分析该特定横向范围内所有纵向强度分布(A-scan intensity profile)信号;(c)计算各纵向强度分布之三种参数,包括在样品表面下某一深度范围的强度标准差(Standard deviation)、空间频谱的指数衰减常数(Exponential decay constant of the spatial-frequency spectrum)以及基底膜(Basement membrane)仍存在的情况下之上皮的厚度(Epithelium thickness)等三种指针;以及(c)以该横向范围内所有纵向强度(A-scan)的三种参数值,来分析黏膜样本之结构。