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    • 10. 发明专利
    • 半導體裝置 SEMICONDUCTOR DEVICE
    • 半导体设备 SEMICONDUCTOR DEVICE
    • TW201203464A
    • 2012-01-16
    • TW100100333
    • 2011-01-05
    • 半導體能源研究所股份有限公司
    • 關根祐輔鹽野入豐加藤清山崎舜平
    • H01L
    • H01L27/105H01L27/1052H01L27/1156H01L27/1207H01L27/1225
    • 提供一種半導體裝置,該半導體裝置包括非揮發性記憶體單元。該非揮發性記憶體單元包括:使用氧化物半導體的截止狀態下的源極與汲極之間的漏電流(截止電流)少的寫入電晶體;使用與該寫入電晶體不同的半導體材料的讀取電晶體;以及電容器。對該記憶體單元的資訊的寫入藉由將電位供應到寫入電晶體的源極電極及汲極電極的其中之一者、電容器的電極中的其中一者、讀取電晶體的閘極電極彼此電連接的節點,使節點中保持預定量的電荷來進行。在進行1×10 9 次的寫入前後,該記憶體單元的儲存視窗寬度的變化量為2%或更小。
    • 提供一种半导体设备,该半导体设备包括非挥发性内存单元。该非挥发性内存单元包括:使用氧化物半导体的截止状态下的源极与汲极之间的漏电流(截止电流)少的写入晶体管;使用与该写入晶体管不同的半导体材料的读取晶体管;以及电容器。对该内存单元的信息的写入借由将电位供应到写入晶体管的源极电极及汲极电极的其中之一者、电容器的电极中的其中一者、读取晶体管的闸极电极彼此电连接的节点,使节点中保持预定量的电荷来进行。在进行1×10 9 次的写入前后,该内存单元的存储窗口宽度的变化量为2%或更小。