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1. 发明专利

TW202018303A 具浮動容置座之半導體元件測試載盤及其測試設備审中-公开
简体标题：具浮动容置座之半导体组件测试载盘及其测试设备
公开(公告)号：TW202018303A
公开(公告)日：2020-05-16
申请号：TW107139959
申请日：2018-11-09
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：陳峯杰 , CHEN, FONG-JAY , 黃騰達 , HUANG, TENG-DA
IPC分类号： G01R1/067 , H01L21/66
摘要：本發明係有關於一種具浮動容置座之半導體元件測試載盤及其測試設備，該半導體元件測試載盤包括有一基座及一容置座。容置座設置有複數容設有半導體元件之容置槽以及複數容設有壓縮彈簧之彈簧凹槽，所述容置座固設有複數支撐柱，該每一支撐柱分別穿設於該基座中，並以二扣卡件分別對應扣合於基座底部及容置座頂部之每一支撐柱上。藉此，透過改良式之扣合方式，除了有效避免基座的支撐邊變形外，更可方便使用上的拆裝替換，增進不同產線使用上的便利性。
简体摘要：本发明系有关于一种具浮动容置座之半导体组件测试载盘及其测试设备，该半导体组件测试载盘包括有一基座及一容置座。容置座设置有复数容设有半导体组件之容置槽以及复数容设有压缩弹簧之弹簧凹槽，所述容置座固设有复数支撑柱，该每一支撑柱分别穿设于该基座中，并以二扣卡件分别对应扣合于基座底部及容置座顶部之每一支撑柱上。借此，透过改良式之扣合方式，除了有效避免基座的支撑边变形外，更可方便使用上的拆装替换，增进不同产线使用上的便利性。

2. 发明专利

TW201625956A 半導體元件測試裝置及其測試設備审中-公开
简体标题：半导体组件测试设备及其测试设备
公开(公告)号：TW201625956A
公开(公告)日：2016-07-16
申请号：TW104101107
申请日：2015-01-13
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：陳峯杰 , CHEN, FONG JAY , 陳盈宏 , CHEN, YING HUNG
IPC分类号： G01R1/06 , G01R31/26
摘要：本發明係有關於一種半導體元件測試裝置及其測試設備，可應用於分類機中，該裝置主要包括有一上測試座及一下測試座。上測試座固設於一上治具，包括有複數上部探針、一基座、一浮動容置座以及夾設於基座與浮動容置座間之至少一彈性體。其中，當上測試座向下壓入至下測試座，至少一彈性體遭壓縮，促使每一上部探針由浮動容置座之每一探針口中露出，藉以電性測試一半導體元件。藉此，在壓測作業中，可吸收壓合過程之衝擊應力，減少半導體元件受損的機率，有效防止測試異常狀況產生。
简体摘要：本发明系有关于一种半导体组件测试设备及其测试设备，可应用于分类机中，该设备主要包括有一上测试座及一下测试座。上测试座固设于一上治具，包括有复数上部探针、一基座、一浮动容置座以及夹设于基座与浮动容置座间之至少一弹性体。其中，当上测试座向下压入至下测试座，至少一弹性体遭压缩，促使每一上部探针由浮动容置座之每一探针口中露出，借以电性测试一半导体组件。借此，在压测作业中，可吸收压合过程之冲击应力，减少半导体组件受损的概率，有效防止测试异常状况产生。

3. 发明专利

TWI556345B 半導體元件靠邊定位機構及其測試裝置有权
简体标题：半导体组件靠边定位机构及其测试设备
公开(公告)号：TWI556345B
公开(公告)日：2016-11-01
申请号：TW103122975
申请日：2014-07-03
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：陳峯杰 , CHEN, FONG JAY , 詹勳亮 , CHANG, HSUNG LIANG , 林文婷 , LIN, WEN TING , 陳盈宏 , CHEN, YING HUNG
IPC分类号： H01L21/68 , G01R31/26

4. 发明专利

TWI548876B 半導體元件測試裝置及其測試設備有权
简体标题：半导体组件测试设备及其测试设备
公开(公告)号：TWI548876B
公开(公告)日：2016-09-11
申请号：TW104101107
申请日：2015-01-13
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：陳峯杰 , CHEN, FONG JAY , 陳盈宏 , CHEN, YING HUNG
IPC分类号： G01R1/06 , G01R31/26

5. 发明专利

TWI676033B 具浮動容置座之半導體元件測試載盤及其測試設備有权
简体标题：具浮动容置座之半导体组件测试载盘及其测试设备
公开(公告)号：TWI676033B
公开(公告)日：2019-11-01
申请号：TW107139959
申请日：2018-11-09
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：陳峯杰 , CHEN, FONG-JAY , 黃騰達 , HUANG, TENG-DA
IPC分类号： G01R1/067 , H01L21/66

6. 发明专利

TW201603174A 半導體元件靠邊定位機構及其測試裝置审中-公开
简体标题：半导体组件靠边定位机构及其测试设备
公开(公告)号：TW201603174A
公开(公告)日：2016-01-16
申请号：TW103122975
申请日：2014-07-03
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：陳峯杰 , CHEN, FONG JAY , 詹勳亮 , CHANG, HSUNG LIANG , 林文婷 , LIN, WEN TING , 陳盈宏 , CHEN, YING HUNG
IPC分类号： H01L21/68 , G01R31/26
摘要：本發明係有關於一種半導體元件靠邊定位機構及其測試裝置，該測試裝置整合了半導體元件靠邊定位機構、進出料模組以及取放單元。而半導體元件靠邊定位機構包括有一基座、一吸附載座以及一校正片。基座包括一底座及二墊塊，底座上設置有一滑軌及一動力源。吸附載座連接至少一連接管，滑設於滑軌上。校正片具有至少一開槽，固設於二墊塊。其中，吸附載座係能藉由動力源在滑軌上滑移至一特定處時，將一置放於陶瓷吸座上之半導體元件定位至開槽之一對角處。藉此，在不更換任何治具的情況下，所述半導體元件將被準確的定位，有助於使用者重複進行取放作業，增進半導體元件檢測之效能。
简体摘要：本发明系有关于一种半导体组件靠边定位机构及其测试设备，该测试设备集成了半导体组件靠边定位机构、进出料模块以及取放单元。而半导体组件靠边定位机构包括有一基座、一吸附载座以及一校正片。基座包括一底座及二垫块，底座上设置有一滑轨及一动力源。吸附载座连接至少一连接管，滑设于滑轨上。校正片具有至少一开槽，固设于二垫块。其中，吸附载座系能借由动力源在滑轨上滑移至一特定处时，将一置放于陶瓷吸座上之半导体组件定位至开槽之一对角处。借此，在不更换任何治具的情况下，所述半导体组件将被准确的定位，有助于用户重复进行取放作业，增进半导体组件检测之性能。

7. 发明专利

TWI458985B 高硬度耐磨探針與其製作方法有权
简体标题：高硬度耐磨探针与其制作方法
公开(公告)号：TWI458985B
公开(公告)日：2014-11-01
申请号：TW100105956
申请日：2011-02-23
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD
发明人：陳峯杰 , CHEN, FONG JAY , 張久芳 , CHANG, CHIU FANG
IPC分类号： G01R1/067 , C22C38/12 , C22C38/00
CPC分类号： G01R3/00 , B22F2998/10 , C22C29/08 , B22F5/006 , B22F3/162

8. 发明专利

TWI399547B 具同心圓探針座之半導體測試設備有权
简体标题：具同心圆探针座之半导体测试设备
公开(公告)号：TWI399547B
公开(公告)日：2013-06-21
申请号：TW098124694
申请日：2009-07-22
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：陳峯杰 , CHEN, FONG JAY
IPC分类号： G01R1/073
CPC分类号： G01R31/2889

9. 发明专利

TWI387766B 可換用不同探針卡之ＩＣ測試機台有权
简体标题：可换用不同探针卡之ＩＣ测试机台
公开(公告)号：TWI387766B
公开(公告)日：2013-03-01
申请号：TW097142541
申请日：2008-11-04
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD
发明人：蔡秉諺 , 陳峯杰
IPC分类号： G01R31/26

10. 发明专利

TWI386646B 探針座有权
简体标题：探针座
公开(公告)号：TWI386646B
公开(公告)日：2013-02-21
申请号：TW098128773
申请日：2009-08-27
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：陳峯杰 , CHEN, FONG JAY
IPC分类号： G01R1/04 , G01R31/26

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