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1. 发明专利

TW201418722A 用於高速功能性測試的獨立多晶片單元探測卡审中-公开
简体标题：用于高速功能性测试的独立多芯片单元探测卡
公开(公告)号：TW201418722A
公开(公告)日：2014-05-16
申请号：TW102139770
申请日：2013-11-01
申请人：漢民測試系統股份有限公司 , HERMES TESTING SOLUTIONS INC.
发明人：賴鴻尉 , LAI, HUNG WEI
IPC分类号： G01R1/073
CPC分类号： G01R1/0433 , G01R1/0408 , G01R31/2889
摘要：一種探測卡包含一印刷電路板，印刷電路板包含至少二種連接器布局(connection arrangement)及一子板(daughter board)，子板藉由其中一種連接器布局與印刷電路板連接。子板包含複數個晶片單元模組(cell module)，每一晶片單元模組具有一容納受測元件的插槽，其中每一連接器布局係用於與預定的子板連接。
简体摘要：一种探测卡包含一印刷电路板，印刷电路板包含至少二种连接器布局(connection arrangement)及一子板(daughter board)，子板借由其中一种连接器布局与印刷电路板连接。子板包含复数个芯片单元模块(cell module)，每一芯片单元模块具有一容纳受测组件的插槽，其中每一连接器布局系用于与预定的子板连接。

2. 实用新型

TWM583947U 半導體測試裝置有权
简体标题：半导体测试设备
公开(公告)号：TWM583947U
公开(公告)日：2019-09-21
申请号：TW108204650
申请日：2019-04-16
申请人：漢民測試系統股份有限公司 , HERMES TESTING SOLUTIONS INC.
发明人：徐文元 , HSU, WEN-YUAN , 周士瑩 , CHOU, SHIH-YING , 賴禹亨 , LAI, YU-HENG
IPC分类号： G01R1/44 , G01R1/04 , G01R31/26

3. 发明专利

TWI692643B 半導體測試裝置有权
简体标题：半导体测试设备
公开(公告)号：TWI692643B
公开(公告)日：2020-05-01
申请号：TW108113275
申请日：2019-04-16
申请人：漢民測試系統股份有限公司 , HERMES TESTING SOLUTIONS INC.
发明人：徐文元 , HSU, WEN-YUAN , 周士瑩 , CHOU, SHIH-YING , 賴禹亨 , LAI, YU-HENG , 陳伯龍 , CHEN, BO-LUNG
IPC分类号： G01R1/067 , G01R1/44

4. 发明专利

TWI668058B 探針清潔裝置有权
简体标题：探针清洁设备
公开(公告)号：TWI668058B
公开(公告)日：2019-08-11
申请号：TW106124004
申请日：2017-07-18
申请人：漢民測試系統股份有限公司 , HERMES TESTING SOLUTIONS INC.
发明人：邱慶龍 , CHIU, CHING-LONG
IPC分类号： B08B13/00 , G01R1/067

5. 发明专利

TWI439698B 電路測試探針卡及其探針基板結構有权
简体标题：电路测试探针卡及其探针基板结构
公开(公告)号：TWI439698B
公开(公告)日：2014-06-01
申请号：TW100135562
申请日：2011-09-30
申请人：漢民測試系統股份有限公司 , HERMES TESTING SOLUTIONS INC.
发明人：王慶棟 , WANG, CHING DONG
IPC分类号： G01R1/067 , G01R31/28
CPC分类号： G01R1/07314 , G01R1/07378

6. 发明专利

TW201314212A 電路測試探針卡及其探針基板結構审中-公开
简体标题：电路测试探针卡及其探针基板结构
公开(公告)号：TW201314212A
公开(公告)日：2013-04-01
申请号：TW100135562
申请日：2011-09-30
申请人：漢民測試系統股份有限公司 , HERMES TESTING SOLUTIONS INC.
发明人：王慶棟 , WANG, CHING DONG
IPC分类号： G01R1/067 , G01R31/28
CPC分类号： G01R1/07314 , G01R1/07378
摘要：一種電路測試探針卡及其探針基板結構，可有效提供縮小電路探針測試卡測試點的間距。電路測試探針卡係利用一探針基板之上下表面分別與一電路板及複數個探針電性連接，其特徵在於探針基板係包括：一基板主體，係具有複數個上接點於基板主體之一上表面；以及複數條導線，係貫穿設置於基板主體內且導線之兩端係分別暴露於基板主體之上表面與一下表面，其中導線暴露於上表面之間距係大於導線暴露於下表面之間距；以及每一導線係分別與每一上接點電性連接。
简体摘要：一种电路测试探针卡及其探针基板结构，可有效提供缩小电路探针测试卡测试点的间距。电路测试探针卡系利用一探针基板之上下表面分别与一电路板及复数个探针电性连接，其特征在于探针基板系包括：一基板主体，系具有复数个上接点于基板主体之一上表面；以及复数条导线，系贯穿设置于基板主体内且导线之两端系分别暴露于基板主体之上表面与一下表面，其中导线暴露于上表面之间距系大于导线暴露于下表面之间距；以及每一导线系分别与每一上接点电性连接。

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