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1. 发明专利

TWI284952B 具有修改容易之軟體的自動測試系統 AUTOMATIC TEST SYSTEM WITH EASILY MODIFIED SOFTWARE 有权
简体标题：具有修改容易之软件的自动测试系统 AUTOMATIC TEST SYSTEM WITH EASILY MODIFIED SOFTWARE
公开(公告)号：TWI284952B
公开(公告)日：2007-08-01
申请号：TW093117010
申请日：2004-06-14
申请人：泰瑞丹公司 TERADYNE, INC.
发明人：史黛芬J 荷亞克 HLOTYAK, STEPHEN J. , 亞倫L 布利茲 BLITZ, ALAN L. , 雷都B 史緹森 STIMSON, RANDALL B.
IPC分类号： H01L
CPC分类号： G01R31/31912 , G01R31/31907 , G01R31/31917
摘要：揭示一種諸如用來測試半導體裝置之自動測試系統，充當製造之部分。其測試系統使用儀器來產生並且測量測試信號。自動測試系統具有硬體與軟體結構，其允許儀器在製造之後附加於測試系統。離析其軟體成為儀器特定規格與儀器非從屬軟體。當測試系統的實體實現改變或是儀器因為在系列產品中的測試器不同而改變，至軟體組件的預定測試介面允許將儀器容易的整合至測試系統，並且容易重複使用軟體。
简体摘要：揭示一种诸如用来测试半导体设备之自动测试系统，充当制造之部分。其测试系统使用仪器来产生并且测量测试信号。自动测试系统具有硬件与软件结构，其允许仪器在制造之后附加于测试系统。离析其软件成为仪器特定规格与仪器非从属软件。当测试系统的实体实现改变或是仪器因为在系列产品中的测试器不同而改变，至软件组件的预定测试界面允许将仪器容易的集成至测试系统，并且容易重复使用软件。

2. 发明专利

TWI284207B 電路測試裝置、用於處理測試儀器內的量測資料之方法與利用其之測試電子電路之方法 CIRCUIT TESTING APPARATUS, METHOD OF PROCESSING MEASURE DATA IN A TEST INSTRUMENT AND METHOD OF TESTING AN ELECTRONIC CIRCUIT USING THE SAME 有权
简体标题：电路测试设备、用于处理测试仪器内的量测数据之方法与利用其之测试电子电路之方法 CIRCUIT TESTING APPARATUS, METHOD OF PROCESSING MEASURE DATA IN A TEST INSTRUMENT AND METHOD OF TESTING AN ELECTRONIC CIRCUIT USING THE SAME
公开(公告)号：TWI284207B
公开(公告)日：2007-07-21
申请号：TW092116368
申请日：2003-06-17
申请人：泰瑞丹公司 TERADYNE, INC.
发明人：多明尼克‧威內斯 VIENS, DOMINIC , 葛瑞高利P‧布朗 BROWN, GREGORY P. , 賴利‧克萊恩 KLEIN, LARRY , 法蘭寇斯‧拉保提 LABONTE, FRANCOIS
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31907
摘要：一種自動測試系統係從一或多個測試儀器傳送量測資料至一處理器並且處理該量測資料、亦即由該一或多個測試儀器所起始之量測資料的封包、傳送以及處理。一種用於測試一待測元件之方法係包括以一測試儀器補捉量測資料，並且以該測試儀器起始一在該量測資料上之操作。該些操作係包括封包該量測資料以提供封包後的資料，並且傳送該封包後的資料至一用於處理之切換／處理電路。一種製造一電子電路之方法係包括製造該電子電路並且以前述方法測試該電子電路。
简体摘要：一种自动测试系统系从一或多个测试仪器发送量测数据至一处理器并且处理该量测数据、亦即由该一或多个测试仪器所起始之量测数据的封包、发送以及处理。一种用于测试一待测组件之方法系包括以一测试仪器补捉量测数据，并且以该测试仪器起始一在该量测数据上之操作。该些操作系包括封包该量测数据以提供封包后的数据，并且发送该封包后的数据至一用于处理之切换／处理电路。一种制造一电子电路之方法系包括制造该电子电路并且以前述方法测试该电子电路。

3. 发明专利

TWI258921B 多階級數字計數器振盪器 MULTI-STAGE NUMERIC COUNTER OSCILLATOR 有权
简体标题：多阶级数字计数器振荡器 MULTI-STAGE NUMERIC COUNTER OSCILLATOR
公开(公告)号：TWI258921B
公开(公告)日：2006-07-21
申请号：TW093139807
申请日：2004-12-21
申请人：泰瑞丹公司 TERADYNE, INC.
发明人：彼得瑞雀特 REICHERT, PETER
IPC分类号： H03K
CPC分类号： G06F1/0328
摘要：一種數字計數器振盪器包含一商數累加器及一餘數累加器。該商數累加器具有一用以接收一QUOTIENT數值的可程式化輸入、一參考時脈輸入及一多重位元輸出。該輸出係用以傳送一代表一累加商數總和之輸出值OUT。該多重位元輸出回應於各參考時脈週期而按一預定量所增量。該餘數累加器包含用以接收個別的REMAINDER及DIVISOR值的可程式化輸入、一參考時脈輸入及一代表一小於一預定義數位整數之累加數位餘數總和的多重位元輸出。該餘數累加器進一步包含一比較器，其具有一用以接收一程式化除數值的第一輸入，以及一用以接收該餘數累加器多重位元輸出的第二輸入。該比較器可運作以產生一增量進位信號，以當該餘數多重位元輸出達到該預先定義整數值時可將該信號施加於該商數累加器。
简体摘要：一种数字计数器振荡器包含一商数累加器及一余数累加器。该商数累加器具有一用以接收一QUOTIENT数值的可进程化输入、一参考时脉输入及一多重比特输出。该输出系用以发送一代表一累加商数总和之输出值OUT。该多重比特输出回应于各参考时脉周期而按一预定量所增量。该余数累加器包含用以接收个别的REMAINDER及DIVISOR值的可进程化输入、一参考时脉输入及一代表一小于一预定义数码整数之累加数码余数总和的多重比特输出。该余数累加器进一步包含一比较器，其具有一用以接收一进程化除数值的第一输入，以及一用以接收该余数累加器多重比特输出的第二输入。该比较器可运作以产生一增量进制信号，以当该余数多重比特输出达到该预先定义整数值时可将该信号施加于该商数累加器。

4. 发明专利

TW200521647A 具有改進之訊號純度的高解析度合成器 HIGH RESOLUTION SYNTHESIZER WITH IMPROVED SIGNAL PURITY 审中-公开
简体标题：具有改进之信号纯度的高分辨率合成器 HIGH RESOLUTION SYNTHESIZER WITH IMPROVED SIGNAL PURITY
公开(公告)号：TW200521647A
公开(公告)日：2005-07-01
申请号：TW093139808
申请日：2004-12-21
申请人：泰瑞丹公司 TERADYNE, INC.
发明人：傑森梅希爾 MESSIER, JASON
IPC分类号： G06F
CPC分类号： G06F1/0328 , G06F1/08
摘要：一種使用直接數位合成(DDS)訊號產生器來產生具有高頻譜純度或者低抖動數位時脈的訊號之自動測試系統係被揭示。此低抖動時脈具有可變的頻率，並且將之以程式規劃藉以控制其他的測試功能，諸如任意波形之產生。此DDS使用一種高解析度、高取樣率的DAC來產生所要轉換成為數位時脈之正弦波。DDS訊號產生器之結構允許使用低成本的CMOS電路，以產生饋給高取樣率的DAC之資料流。
简体摘要：一种使用直接数码合成(DDS)信号产生器来产生具有高频谱纯度或者低抖动数码时脉的信号之自动测试系统系被揭示。此低抖动时脉具有可变的频率，并且将之以进程规划借以控制其他的测试功能，诸如任意波形之产生。此DDS使用一种高分辨率、高采样率的DAC来产生所要转换成为数码时脉之正弦波。DDS信号产生器之结构允许使用低成本的CMOS电路，以产生馈给高采样率的DAC之数据流。

5. 发明专利

TWI220934B 自動測試設備校正方法 ATE CALIBRATION METHOD 有权
简体标题：自动测试设备校正方法 ATE CALIBRATION METHOD
公开(公告)号：TWI220934B
公开(公告)日：2004-09-11
申请号：TW091105237
申请日：2002-03-19
申请人：泰瑞丹公司 TERADYNE, INC.
发明人：保羅‧勞許 ROUSH, PAUL , 保羅R. 哈特麥可 HATMAKER, PAUL R. , 麥可‧吉比司 GEBIS, MICHAEL , 柯提司S. 亞拉齊 ARAKI, KURTIS S.
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/3191 , G01R31/31937
摘要：本發明係揭示一種校正半導體測試器之方法。該種方法包括首先選擇至少一個金製元件與複數個失敗機構，該金製元件具有已知電氣特性。該至少一個金製元件係接著介面至複數個通道。跟著該介面步驟之後，該等測試器通道係並行以特定邊緣測試器波形而特性化。該特定邊緣測試器波形係為作用以隔離該複數個失敗機構之一特定子集合，並且產生特定的特性化資料。該特定邊緣特性化資料係接著與該已知電氣特性作比較，以偵測邊緣參數不一致性。在該比較步驟之後，該複數個通道係調諧以使得邊緣參數不一致性為最小化。
简体摘要：本发明系揭示一种校正半导体测试器之方法。该种方法包括首先选择至少一个金制组件与复数个失败机构，该金制组件具有已知电气特性。该至少一个金制组件系接着界面至复数个信道。跟着该界面步骤之后，该等测试器信道系并行以特定边缘测试器波形而特性化。该特定边缘测试器波形系为作用以隔离该复数个失败机构之一特定子集合，并且产生特定的特性化数据。该特定边缘特性化数据系接着与该已知电气特性作比较，以侦测边缘参数不一致性。在该比较步骤之后，该复数个信道系调谐以使得边缘参数不一致性为最小化。

6. 发明专利

TW571107B 積體多通道類比測試設備架構失效
简体标题：积体多信道模拟测试设备架构
公开(公告)号：TW571107B
公开(公告)日：2004-01-11
申请号：TW088118033
申请日：1999-10-25
申请人：泰瑞丹公司 TERADYNE, INC.
发明人：艾瑞克L 楚本巴賀 ERIC L. TRUEBENBACH , 陳江南 JIANN-NENG CHEN , 李察P 戴維斯 RICHARD P. DAVIS , 約翰J 阿瑞納 JOHN J. ARENA , 泰瑞莎P 羅培玆 TERESA P. LOPES , 大衛J 林德 DAVID J. LIND
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/2834
摘要：本發明揭示用來實施電路組件之功能性測試的類比測試設備架構。類比測試設備包含複數個相同的通道，每個通道包含可於被測電路組件之一節點上驅動測試激發物及測量反應的電路。每個通道中之驅動器及測量電路利用分離設備來執行傳統上已於測試系統中執行的功能。類比測試設備更進一步包含一個主時鐘參考，其被用來將驅動器及測量電路的運作同步化。每個通道更進一步包含同將觸發事件分配於通道內及其他通道的觸發電路；一個被通道中之測量電路共享的輸入緩衝器。同步化的運作，被分配的觸發事件，及被共享的輸入緩衝器被用來改善功能性測試期間的測量相關性。
简体摘要：本发明揭示用来实施电路组件之功能性测试的模拟测试设备架构。模拟测试设备包含复数个相同的信道，每个信道包含可于被测电路组件之一节点上驱动测试激发物及测量反应的电路。每个信道中之驱动器及测量电路利用分离设备来运行传统上已于测试系统中运行的功能。模拟测试设备更进一步包含一个主时钟参考，其被用来将驱动器及测量电路的运作同步化。每个信道更进一步包含同将触发事件分配于信道内及其他信道的触发电路；一个被信道中之测量电路共享的输入缓冲器。同步化的运作，被分配的触发事件，及被共享的输入缓冲器被用来改善功能性测试期间的测量相关性。

7. 发明专利

TW200305962A 具有容易更換的介面單元之半導體測試系統 SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM WITH EASILY CHANGED INTERFACE UNIT 失效
简体标题：具有容易更换的界面单元之半导体测试系统 SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM WITH EASILY CHANGED INTERFACE UNIT
公开(公告)号：TW200305962A
公开(公告)日：2003-11-01
申请号：TW092108074
申请日：2003-04-09
申请人：泰瑞丹公司 TERADYNE, INC.
发明人：尼爾R 班特列 BENTLEY, NEIL R. , 邱邁克 CHIU, MICHAEL A. , 韋恩沛狄多 PETITTO, WAYNE
IPC分类号： H01L
CPC分类号： G01R31/2889 , G01R31/01 , G01R31/2834 , G01R31/2851 , G01R31/31905
摘要：本發明揭示一子組件，以助於更換用於一自動測試系統之介面單元。所揭示的實施例係顯示其具有一操控器與一測試器之一自動測試系統。該介面單元係一裝置介面板（DIB）。該子組件係允許DIB為易於接近，而還可為適當對準至測試系統。並無特殊的工具係為所需以更換DIB。
简体摘要：本发明揭示一子组件，以助于更换用于一自动测试系统之界面单元。所揭示的实施例系显示其具有一操控器与一测试器之一自动测试系统。该界面单元系一设备界面板（DIB）。该子组件系允许DIB为易于接近，而还可为适当对准至测试系统。并无特殊的工具系为所需以更换DIB。

8. 发明专利

TW200303651A 具有重置能力之高速完全平衡差動D型正反器 HIGH-SPEED FULLY BALANCED DIFFERENTIAL D FLIP-FLOP WITH RESET 失效
简体标题：具有重置能力之高速完全平衡差动D型正反器 HIGH-SPEED FULLY BALANCED DIFFERENTIAL D FLIP-FLOP WITH RESET
公开(公告)号：TW200303651A
公开(公告)日：2003-09-01
申请号：TW092104173
申请日：2003-02-27
申请人：泰瑞丹公司 TERADYNE, INC.
发明人：林郭 LING, KUOK
IPC分类号： H03K
CPC分类号： H03K3/356043 , H03K3/3562
摘要：揭示一種差動D型正反器，其係包含個別的主單元以及從屬單元。該主單元包含一個第一資料設置電路以及一個第一資料儲存電路。該第一資料儲存電路係連接到第一資料設定電路的輸出。該單元進一步地包含一差動時脈電路以及一差動重置電路。該時脈電路係具有互補的時脈輸入，藉以交替地將資料設置以及儲存在資料設置與資料儲存電路之中。差動重置電路接到差動輸出並且回應於一重置信號，以驅動該差動輸出成為一個預定之邏輯位準。該差動重置電路包含相匹配的互補重置驅動器，以便呈現出相似的電容。該從屬單元係形成實施上相似於主單元，並且包含連接到主單元的第一差動輸出之一個第二差動輸入。
简体摘要：揭示一种差动D型正反器，其系包含个别的主单元以及从属单元。该主单元包含一个第一数据设置电路以及一个第一数据存储电路。该第一数据存储电路系连接到第一数据设置电路的输出。该单元进一步地包含一差动时脉电路以及一差动重置电路。该时脉电路系具有互补的时脉输入，借以交替地将数据设置以及存储在数据设置与数据存储电路之中。差动重置电路接到差动输出并且回应于一重置信号，以驱动该差动输出成为一个预定之逻辑位准。该差动重置电路包含相匹配的互补重置驱动器，以便呈现出相似的电容。该从属单元系形成实施上相似于主单元，并且包含连接到主单元的第一差动输出之一个第二差动输入。

9. 发明专利

TWI277742B 測量非相干取樣測試信號之方法與裝置 MEHTOD AND APPARATUS FOR TESTING NON-COHERENTLY SAMPLED TEST SIGNALS 有权
简体标题：测量非相干采样测试信号之方法与设备 MEHTOD AND APPARATUS FOR TESTING NON-COHERENTLY SAMPLED TEST SIGNALS
公开(公告)号：TWI277742B
公开(公告)日：2007-04-01
申请号：TW091134279
申请日：2002-11-26
申请人：泰瑞丹公司 TERADYNE, INC.
发明人：哈洛得J. 列文 LEVIN, HAROLD J.
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R23/16
摘要：一種用來測量頻譜的成分之技術，其係測量非相干取樣測試信號之頻譜成分，例如雜訊以及失真，該信號包含已知頻率的至少一個音調，該技術係包含根據該至少一個音調的頻率以及複數個已知的取樣參數來模型化該至少一個音調之頻譜的成分，包含漏損的效應。一個離散傅立葉轉換係在該取樣測試信號中被採用，並且該離散傅立葉轉換係根據被模型化之頻譜的成分而調整。該調整後的離散傅立葉轉換大致上係無漏損並且直接顯示出該測試信號之頻譜的成分，其包括一般會在漏損誤差中遺失的低功率成分。
简体摘要：一种用来测量频谱的成分之技术，其系测量非相干采样测试信号之频谱成分，例如噪声以及失真，该信号包含已知频率的至少一个音调，该技术系包含根据该至少一个音调的频率以及复数个已知的采样参数来模型化该至少一个音调之频谱的成分，包含漏损的效应。一个离散傅里叶转换系在该采样测试信号中被采用，并且该离散傅里叶转换系根据被模型化之频谱的成分而调整。该调整后的离散傅里叶转换大致上系无漏损并且直接显示出该测试信号之频谱的成分，其包括一般会在漏损误差中遗失的低功率成分。

10. 发明专利

TWI260722B 具有容易更換的介面單元之半導體測試系統 SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM WITH EASILY CHANGED INTERFACE UNIT 失效
简体标题：具有容易更换的界面单元之半导体测试系统 SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM WITH EASILY CHANGED INTERFACE UNIT
公开(公告)号：TWI260722B
公开(公告)日：2006-08-21
申请号：TW092108074
申请日：2003-04-09
申请人：泰瑞丹公司 TERADYNE, INC.
发明人：尼爾R. 班特列 BENTLEY, NEIL R. , 邱邁克 CHIU, MICHAEL A. , 韋恩.沛狄多 PETITTO, WAYNE
IPC分类号： H01L
CPC分类号： G01R31/2889 , G01R31/01 , G01R31/2834 , G01R31/2851 , G01R31/31905
摘要：本發明揭示一子組件，以助於更換用於一自動測試系統之介面單元。所揭示的實施例係顯示其具有一操控器與一測試器之一自動測試系統。該介面單元係一裝置介面板(DIB)。該子組件係允許DIB為易於接近，而還可為適當對準至測試系統。並無特殊的工具係為所需以更換DIB。
简体摘要：本发明揭示一子组件，以助于更换用于一自动测试系统之界面单元。所揭示的实施例系显示其具有一操控器与一测试器之一自动测试系统。该界面单元系一设备界面板(DIB)。该子组件系允许DIB为易于接近，而还可为适当对准至测试系统。并无特殊的工具系为所需以更换DIB。

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