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1. 发明专利

TWI574017B 電流感測器有权
简体标题：电流传感器
公开(公告)号：TWI574017B
公开(公告)日：2017-03-11
申请号：TW103130879
申请日：2014-09-05
申请人：旭化成微電子股份有限公司 , ASAHI KASEI MICRODEVICES CORPORATION
发明人：鈴木健治 , SUZUKI, KENJI , 今庄秀人 , IMAJYO, HIDETO , 長谷川秀則 , HASEGAWA, HIDENORI , 甲斐健司 , KAI, KENJI
IPC分类号： G01R15/20 , G01R19/00
CPC分类号： G01R15/20

2. 发明专利

TWI501539B 線性運動元件之控制裝置及其控制方法有权
简体标题：线性运动组件之控制设备及其控制方法
公开(公告)号：TWI501539B
公开(公告)日：2015-09-21
申请号：TW102117424
申请日：2013-05-16
申请人：旭化成微電子股份有限公司 , ASAHI KASEI MICRODEVICES CORPORATION
发明人：福島貴志 , FUKUSHIMA, TAKASHI
IPC分类号： H02P25/06 , G02B7/04
CPC分类号： G05D3/1481 , G02B7/08 , G05B1/02 , G05B6/02 , H02P25/06 , H02P2203/00

3. 发明专利

TW201535007A 手振修正裝置及其調整方法、手振修正電路、手振修正方法、以及相機模組及其光學要素之位置控制方法审中-公开
简体标题：手振修正设备及其调整方法、手振修正电路、手振修正方法、以及相机模块及其光学要素之位置控制方法
公开(公告)号：TW201535007A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：TW103142899
申请日：2014-12-09
申请人：旭化成微電子股份有限公司 , ASAHI KASEI MICRODEVICES CORPORATION
发明人：笠松新 , KASAMATSU, ARATA
IPC分类号： G02B7/04 , G03B5/00
CPC分类号： G02B27/646 , G02B7/09 , G03B5/00 , G03B13/36 , G03B2205/0007 , G03B2217/005
摘要：本發明係關於手振修正裝置及相機模組。於透鏡(50)相對於攝像元件於自動調焦方向與手振方向移動之手振修正裝置中，包含第1位置感測器(52)、距離信號算出部(51)、目標位置信號算出電路(53)及驅動信號生成部(54)。被輸入在手振方向移動之透鏡(50)之位置即第1檢測位置信號、於自動調焦方向移動之透鏡(50)之位置即第2檢測位置信號、及透鏡自光軸方向傾斜時之角速度即角速度信號，而輸出驅動信號。驅動部(60)根據驅動信號使透鏡於手振方向移動。
简体摘要：本发明系关于手振修正设备及相机模块。于透镜(50)相对于摄像组件于自动调焦方向与手振方向移动之手振修正设备中，包含第1位置传感器(52)、距离信号算出部(51)、目标位置信号算出电路(53)及驱动信号生成部(54)。被输入在手振方向移动之透镜(50)之位置即第1检测位置信号、于自动调焦方向移动之透镜(50)之位置即第2检测位置信号、及透镜自光轴方向倾斜时之角速度即角速度信号，而输出驱动信号。驱动部(60)根据驱动信号使透镜于手振方向移动。

4. 发明专利

TWI490459B 紅外線感測器及其製造方法、紅外線感測器用濾光部件、光耦合器有权
简体标题：红外线传感器及其制造方法、红外线传感器用滤光部件、光耦合器
公开(公告)号：TWI490459B
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：TW102144668
申请日：2013-12-05
申请人：旭化成微電子股份有限公司 , ASAHI KASEI MICRODEVICES CORPORATION
发明人：福中敏昭 , FUKUNAKA, TOSHIAKI , 明樂泰孝 , MYORAKU, YASUTAKA
IPC分类号： G01J1/42 , G01J1/04 , H01L31/0232 , H01L31/18
CPC分类号： H01L31/02327 , G01J1/02 , G01J1/0271 , G01J1/04 , G01J1/0492 , G01N21/35 , G01N21/3504 , G01N21/61 , G02B5/208 , H01L31/02 , H01L31/0232 , H01L31/02325 , H01L31/09 , H01L31/12 , H01L31/16 , H01L31/173 , H02S40/44

5. 发明专利

TWI480554B 電流感測器用基板及電流感測器有权
简体标题：电流传感器用基板及电流传感器
公开(公告)号：TWI480554B
公开(公告)日：2015-04-11
申请号：TW101125434
申请日：2012-07-13
申请人：旭化成微電子股份有限公司 , ASAHI KASEI MICRODEVICES CORPORATION
发明人：鈴木健治 , SUZUKI, KENJI , 今庄秀人 , IMAJO, HIDETO , 高木大吾 , TAKAGI, DAIGO
IPC分类号： G01R15/20 , H01L23/12 , H01L23/50 , H01L43/06
CPC分类号： G01R15/146 , G01R15/20 , H01L24/05 , H01L24/37 , H01L24/40 , H01L24/48 , H01L24/49 , H01L24/73 , H01L2224/05554 , H01L2224/40095 , H01L2224/40245 , H01L2224/48091 , H01L2224/48247 , H01L2224/49171 , H01L2224/73221 , H01L2924/00014 , H01L2924/181 , H01L2224/45099 , H01L2924/00012 , H01L2224/37099 , H01L2224/84

6. 发明专利

TW201504635A 電流感測器审中-公开
简体标题：电流传感器
公开(公告)号：TW201504635A
公开(公告)日：2015-02-01
申请号：TW102141945
申请日：2013-11-18
申请人：旭化成微電子股份有限公司 , ASAHI KASEI MICRODEVICES CORPORATION
发明人：鈴木健治 , SUZUKI, KENJI , 今庄秀人 , IMAJYOU, HIDETO , 高木大吾 , TAKAGI, DAIGO
IPC分类号： G01R15/20
CPC分类号： G01R15/207 , G01R19/0092 , H01L2224/48091 , H01L2224/48137 , H01L2224/48247 , H01L2924/181 , H01L2924/00014 , H01L2924/00012
摘要：本發明係提供一種絕緣耐性優異之電流感測器。本發明之電流感測器1包含：導體10；支持部30，其用以支持信號處理IC20；磁電轉換元件13，其構成為可與信號處理IC20電性連接，且以檢測由流動於導體10之電流產生之磁場之方式配置於導體10之間隙10a；及絕緣構件14，其支持磁電轉換元件13。
简体摘要：本发明系提供一种绝缘耐性优异之电流传感器。本发明之电流传感器1包含：导体10；支持部30，其用以支持信号处理IC20；磁电转换组件13，其构成为可与信号处理IC20电性连接，且以检测由流动于导体10之电流产生之磁场之方式配置于导体10之间隙10a；及绝缘构件14，其支持磁电转换组件13。

7. 发明专利

TWI462296B 半導體裝置、半導體裝置之製造方法有权
简体标题：半导体设备、半导体设备之制造方法
公开(公告)号：TWI462296B
公开(公告)日：2014-11-21
申请号：TW101107207
申请日：2012-03-03
申请人：旭化成微電子股份有限公司 , ASAHI KASEI MICRODEVICES CORPORATION
发明人：長倉浩太郎 , NAGAKURA, KOTARO
IPC分类号： H01L29/78 , H01L21/00
CPC分类号： H01L28/60 , H01L21/31111 , H01L21/32105 , H01L27/0629 , H01L28/40

8. 发明专利

TW201409921A 線性運動元件之控制裝置及其控制方法审中-公开
简体标题：线性运动组件之控制设备及其控制方法
公开(公告)号：TW201409921A
公开(公告)日：2014-03-01
申请号：TW102117424
申请日：2013-05-16
申请人：旭化成微電子股份有限公司 , ASAHI KASEI MICRODEVICES CORPORATION
发明人：福島貴志 , FUKUSHIMA, TAKASHI
IPC分类号： H02P25/06 , G02B7/04
CPC分类号： G05D3/1481 , G02B7/08 , G05B1/02 , G05B6/02 , H02P25/06 , H02P2203/00
摘要：本發明係關於即使發生磁性感測器之搭載位置偏差或磁化不均之情形時、或由磁性感測器所檢測之磁場受到線性運動元件之驅動用線圈之磁場干擾之情形時，仍可正確地進行線性運動元件之位置控制之線性運動元件之控制裝置及其控制方法。為避免因驅動線圈之洩漏磁場對磁場感測器(21)造成影響，校準運算電路(24)具有在取得檢測磁場之前停止對驅動線圈供電之時間，基於檢測位置信號值(Vip)，自與線性運動元件(31)之起始位置對應之第1位置信號值(NEGCAL)、及與最終位置對應之第2位置信號值(POSCAL)獲得檢測位置運算信號值(VPROC)。洩漏磁場修正電路(34)連接於元件位置指令信號產生電路(26)，修正因驅動線圈(29)之洩漏磁場引起之磁場感測器之檢測誤差。
简体摘要：本发明系关于即使发生磁性传感器之搭载位置偏差或磁化不均之情形时、或由磁性传感器所检测之磁场受到线性运动组件之驱动用线圈之磁场干扰之情形时，仍可正确地进行线性运动组件之位置控制之线性运动组件之控制设备及其控制方法。为避免因驱动线圈之泄漏磁场对磁场传感器(21)造成影响，校准运算电路(24)具有在取得检测磁场之前停止对驱动线圈供电之时间，基于检测位置信号值(Vip)，自与线性运动组件(31)之起始位置对应之第1位置信号值(NEGCAL)、及与最终位置对应之第2位置信号值(POSCAL)获得检测位置运算信号值(VPROC)。泄漏磁场修正电路(34)连接于组件位置指令信号产生电路(26)，修正因驱动线圈(29)之泄漏磁场引起之磁场传感器之检测误差。

9. 实用新型

TWM459621U 積層線圈有权
简体标题：积层线圈
公开(公告)号：TWM459621U
公开(公告)日：2013-08-11
申请号：TW101218571
申请日：2012-09-25
申请人：旭化成微電子股份有限公司 , ASAHI KASEI MICRODEVICES CORPORATION
发明人：小野和則 , ONO, KAZUNORI , 黑木誠一 , KUROKI, SEIICHI
IPC分类号： H02K3/26 , H02K3/28

10. 发明专利

TW201244099A 半導體裝置、半導體裝置之製造方法审中-公开
简体标题：半导体设备、半导体设备之制造方法
公开(公告)号：TW201244099A
公开(公告)日：2012-11-01
申请号：TW101107207
申请日：2012-03-03
申请人：旭化成微電子股份有限公司
发明人：長倉浩太郎
IPC分类号： H01L
CPC分类号： H01L28/60 , H01L21/31111 , H01L21/32105 , H01L27/0629 , H01L28/40
摘要：本發明製造一種可抑制電容値之施加電場依賴性上升與介電質膜之初期缺陷之兩者的2層多晶矽電容元件。該2層多晶矽電容元件包含:下部電極,其注入有磷離子;介電質膜,其形成於下部電極上;及上部電極,其形成於該介電質膜上;且介電質膜包含:熱氧化膜,其係將形成下部電極之多晶矽膜之一部分氧化而形成,且腐蝕其表層部;及堆積氧化膜,其形成於熱氧化膜上。
简体摘要：本发明制造一种可抑制电容値之施加电场依赖性上升与介电质膜之初期缺陷之两者的2层多晶硅电容组件。该2层多晶硅电容组件包含:下部电极,其注入有磷离子;介电质膜,其形成于下部电极上;及上部电极,其形成于该介电质膜上;且介电质膜包含:热氧化膜,其系将形成下部电极之多晶硅膜之一部分氧化而形成,且腐蚀其表层部;及堆积氧化膜,其形成于热氧化膜上。

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