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81. 发明专利

TWI482193B 電子顯微鏡及電子線檢測器有权
简体标题：电子显微镜及电子线检测器
公开(公告)号：TWI482193B
公开(公告)日：2015-04-21
申请号：TW102126278
申请日：2013-07-23
申请人：日立全球先端科技股份有限公司 , HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION
发明人：今村伸 , IMAMURA, SHIN , 大嶋卓 , OHSHIMA, TAKASHI , 小瀬洋一 , OSE, YOICHI , 平根賢一 , HIRANE, KENICHI
IPC分类号： H01J37/244 , H01J37/26 , G01T1/20
CPC分类号： H01J37/244 , H01J37/28 , H01J2237/063 , H01J2237/2443 , H01J2237/2445 , H01J2237/28 , H01J2237/2801

82. 发明专利

TWI474031B 固體攝像裝置有权
简体标题：固体摄像设备
公开(公告)号：TWI474031B
公开(公告)日：2015-02-21
申请号：TW097136953
申请日：2008-09-25
申请人：濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：森治通 , MORI, HARUMICHI , 藤田一樹 , FUJITA, KAZUKI , 久島龍次 , KYUSHIMA, RYUJI
IPC分类号： G01T1/20 , H01L27/14 , H04N5/321 , H04N5/335
CPC分类号： H01L27/14623 , G01T1/00 , G01T1/20 , H01L27/14603 , H01L27/14663 , H04N5/32 , H04N5/359 , H04N5/3742

83. 发明专利

TW201504660A 輻射影像拾取單元及輻射影像拾取顯示系統审中-公开
简体标题：辐射影像十取单元及辐射影像十取显示系统
公开(公告)号：TW201504660A
公开(公告)日：2015-02-01
申请号：TW103121619
申请日：2014-06-23
申请人：新力股份有限公司 , SONY CORPORATION
发明人：藤本信二 , FUJIMOTO, SHINJI , 吉川周憲 , KIKKAWA, HIRONORI , 山田泰弘 , YAMADA, YASUHIRO , 千田滿 , SENDA, MICHIRU
IPC分类号： G01T1/20 , H01L27/146
CPC分类号： H01L27/14663 , G01T1/2018 , H01L27/14625
摘要：本發明提供一種輻射影像拾取單元，其包含：複數個像素，其等各者經組態以基於一輻射產生一信號電荷；一裝置基板，其包含用於各像素之一光電轉換元件；一波長轉換層，其係提供於該裝置基板之一光入射側上，且經組態以將該輻射之一波長轉換為其他波長；及一隔離壁，其分離用於各像素之該波長轉換層。該輻射影像拾取單元經組態以容許該波長轉換層與該裝置基板之間之一間隙等於或大於一臨限值或等於或小於該臨限值，該臨限值係基於一影像拾取目標之一空間頻率而預設。
简体摘要：本发明提供一种辐射影像十取单元，其包含：复数个像素，其等各者经组态以基于一辐射产生一信号电荷；一设备基板，其包含用于各像素之一光电转换组件；一波长转换层，其系提供于该设备基板之一光入射侧上，且经组态以将该辐射之一波长转换为其他波长；及一隔离壁，其分离用于各像素之该波长转换层。该辐射影像十取单元经组态以容许该波长转换层与该设备基板之间之一间隙等于或大于一临限值或等于或小于该临限值，该临限值系基于一影像十取目标之一空间频率而默认。

84. 发明专利

TW201418754A 閃爍器面板及閃爍器面板之製造方法审中-公开
简体标题：闪烁器皮肤及闪烁器皮肤之制造方法
公开(公告)号：TW201418754A
公开(公告)日：2014-05-16
申请号：TW102135613
申请日：2013-10-02
申请人：東麗股份有限公司 , TORAY INDUSTRIES, INC.
发明人：岡村昌紀 , OKAMURA, MASAKI , 井口雄一朗 , IGUCHI, YUICHIRO , 木之下英樹 , KINOSHITA, HIDEKI
IPC分类号： G01T1/20 , H01L27/14
CPC分类号： G01T1/2002 , C03C3/066 , C03C8/04 , C09K11/7701 , G01T1/2018 , G01T1/202 , G03F7/40 , G21K4/00 , G21K2004/08 , H01L27/14663
摘要：本發明之目的為提供一種閃爍器面板，其係大面積地、高精密度地形成細窄的間隔物，且發光效率高、實現鮮明的畫質。本發明提供一種閃爍器面板，其係具有閃爍器層之閃爍器面板，而該閃爍器層包含平板狀基板、設置於該基板上之間隔物、及藉由上述間隔物所隔開區隔的格子內所填充之螢光體，並且上述間隔物係由主成分為含有2~20質量%鹼金屬氧化物之低熔點玻璃的材料所構成，將上述間隔物之頂部寬度Lt或上述間隔物之90%高度的寬度L90除以上述間隔物的半高寬度Lh之值為0.45~1，且將上述間隔物之底部寬度Lb或上述間隔物之10%高度的寬度L10除以上述半高寬度Lh之值為1~3。
简体摘要：本发明之目的为提供一种闪烁器皮肤，其系大面积地、高精密度地形成细窄的间隔物，且发光效率高、实现鲜明的画质。本发明提供一种闪烁器皮肤，其系具有闪烁器层之闪烁器皮肤，而该闪烁器层包含平板状基板、设置于该基板上之间隔物、及借由上述间隔物所隔开区隔的格子内所填充之萤光体，并且上述间隔物系由主成分为含有2~20质量%碱金属氧化物之低熔点玻璃的材料所构成，将上述间隔物之顶部宽度Lt或上述间隔物之90%高度的宽度L90除以上述间隔物的半高宽度Lh之值为0.45~1，且将上述间隔物之底部宽度Lb或上述间隔物之10%高度的宽度L10除以上述半高宽度Lh之值为1~3。

85. 发明专利

TWI421528B 放射線攝像元件及放射線攝像方法有权
简体标题：放射线摄像组件及放射线摄像方法
公开(公告)号：TWI421528B
公开(公告)日：2014-01-01
申请号：TW094127189
申请日：2005-08-10
申请人：濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：宮口和久 , MIYAGUCHI, KAZUHISA
IPC分类号： G01T1/20 , H01L27/14 , H01L31/09 , H04N5/321
CPC分类号： G01T1/2018 , H01L27/14618 , H01L27/14663 , H01L27/14689 , H01L27/148 , H01L31/02322 , H01L2224/48091 , H01L2924/10253 , H01L2924/3025 , H04N5/32 , H01L2924/00014 , H01L2924/00

86. 发明专利

TWI416100B 重調數位乳腺Ｘ光攝影偵測器失效
简体标题：重调数码乳腺Ｘ光摄影侦测器
公开(公告)号：TWI416100B
公开(公告)日：2013-11-21
申请号：TW096139049
申请日：2007-10-18
申请人：保健潮流健康公司 , CARESTREAM HEALTH, INC.
发明人：提摩西J 沃錫 , WOJCIK, TIMOTHY J. , 傑佛瑞W 拜恩 , BYNG, JEFFREY W. , 布雷利S 賈利 , JADRICH, BRADLEY S. , 馬克E 夏佛 , SHAFER, MARK E. , 國良葉 , YIP, KWOK-LEUNG
IPC分类号： G01N23/04 , G01T1/20
CPC分类号： A61B6/4233 , A61B6/502 , A61B6/563 , G01T1/244 , G01T1/2928

87. 发明专利

TW201337310A Ｘ光偵測裝置审中-公开
简体标题：Ｘ光侦测设备
公开(公告)号：TW201337310A
公开(公告)日：2013-09-16
申请号：TW101141717
申请日：2012-11-08
申请人： IBEX革新股份有限公司 , IBEX INNOVATIONS LIMITED
发明人：吉布森蓋瑞 , GIBSON, GARY
IPC分类号： G01T1/20 , G01T1/29
CPC分类号： G01T1/20 , G01N23/04 , G01T1/2985
摘要：本發明係關於一種包括x光偵測器之x光成像裝置。該x光偵測器包括一經組態以將入射x光波長光子轉換成發射可見波長光子之部件、一測試材料之位置、一x光源及一經組態以擾動x光能譜之結構，其各列於共軸上。該x光源係經配置以沿該共軸引導x光能譜從而衝擊該部件、經組態以擾動x光能譜之該結構及放置之測試材料。該結構位於該x光源與該部件之間，至與該共軸相交之測試材料之位置的一側，及該結構包括至少三個相鄰區域，各區域係與緊鄰的區域不同及經組態以不同方式擾動x光能譜。
简体摘要：本发明系关于一种包括x光侦测器之x光成像设备。该x光侦测器包括一经组态以将入射x光波长光子转换成发射可见波长光子之部件、一测试材料之位置、一x光源及一经组态以扰动x光能谱之结构，其各列于共轴上。该x光源系经配置以沿该共轴引导x光能谱从而冲击该部件、经组态以扰动x光能谱之该结构及放置之测试材料。该结构位于该x光源与该部件之间，至与该共轴相交之测试材料之位置的一侧，及该结构包括至少三个相邻区域，各区域系与紧邻的区域不同及经组态以不同方式扰动x光能谱。

88. 发明专利

TWI675219B 檢測器有权
简体标题：检测器
公开(公告)号：TWI675219B
公开(公告)日：2019-10-21
申请号：TW103136957
申请日：2014-10-24
申请人：日商濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K. K.
发明人：山本晃永 , YAMAMOTO, KOEI , 永野輝昌 , NAGANO, TERUMASA , 里健一 , SATO, KENICHI , 中村重幸 , NAKAMURA, SHIGEYUKI , 大桑勇樹 , OKUWA, YUKI
IPC分类号： G01T1/20

89. 发明专利

TWI648551B 閃爍器面板有权
简体标题：闪烁器皮肤
公开(公告)号：TWI648551B
公开(公告)日：2019-01-21
申请号：TW103139697
申请日：2014-11-17
申请人：東麗股份有限公司 , TORAY INDUSTRIES, INC.
发明人：藤原秀行 , FUJIWARA, HIDEYUKI , 內田哲夫 , UCHIDA, TETSUO , 木之下英樹 , KINOSHITA, HIDEKI , 秋本旭 , AKIMOTO, AKIRA
IPC分类号： G01T1/20

90. 发明专利

TWI638449B 檢測器、正子發射斷層攝影裝置及Ｘ射線電腦斷層攝影裝置有权
简体标题：检测器、正子发射断层摄影设备及Ｘ射线电脑断层摄影设备
公开(公告)号：TWI638449B
公开(公告)日：2018-10-11
申请号：TW103105717
申请日：2014-02-20
申请人：日商濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：藤井義磨郎 , FUJII, YOSHIMARO , 永野輝昌 , NAGANO, TERUMASA , 山村和久 , YAMAMURA, KAZUHISA , 里健一 , SATO, KENICHI , 土屋龍太郎 , TSUCHIYA, RYUTARO
IPC分类号： H01L27/144 , G01T1/20 , G01T1/161 , H01L31/107

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