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31. 发明专利

TW201530146A 接觸端子的維修方法及檢測裝置审中-公开
简体标题：接触端子的维修方法及检测设备
公开(公告)号：TW201530146A
公开(公告)日：2015-08-01
申请号：TW103136658
申请日：2014-10-23
申请人：日本電產理德股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：山下宗寛 , YAMASHITA, MUNEHIRO
IPC分类号： G01R1/04 , G01R31/04 , G01R31/28
CPC分类号： G01R31/04 , G01R3/00 , G01R31/2808
摘要：本發明的接觸端子的維修方法及檢測裝置不需要用於檢測接觸端子的特別工藝，在對檢測對象的配線進行導通檢測的同時，掌握接觸端子的狀態，從而在發生異常之前檢測出需要更換的接觸端子。所述維修方法用於維修在連接夾具上設置的接觸端子，所述連接夾具用於連接進行電性檢測的檢測物件物與進行所述檢測的檢測裝置，所述方法是通過接觸端子檢測出對有關檢測物件部位供應用於檢測的電力時的電壓變化，當檢測到電壓變化不是以時間序列增加的部位時，判斷為接觸端子異常進而通知維修資訊。
简体摘要：本发明的接触端子的维修方法及检测设备不需要用于检测接触端子的特别工艺，在对检测对象的配线进行导通检测的同时，掌握接触端子的状态，从而在发生异常之前检测出需要更换的接触端子。所述维修方法用于维修在连接夹具上设置的接触端子，所述连接夹具用于连接进行电性检测的检测对象物与进行所述检测的检测设备，所述方法是通过接触端子检测出对有关检测对象部位供应用于检测的电力时的电压变化，当检测到电压变化不是以时间串行增加的部位时，判断为接触端子异常进而通知维修信息。

32. 发明专利

TWI438455B 基板檢驗裝置有权
简体标题：基板检验设备
公开(公告)号：TWI438455B
公开(公告)日：2014-05-21
申请号：TW101136949
申请日：2012-10-05
申请人：日本電產理德股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：山下宗寬 , YAMASHITA, MUNEHIRO
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/02

33. 发明专利

TW201339601A 內設零件基板的檢查方法审中-公开
简体标题：内设零件基板的检查方法
公开(公告)号：TW201339601A
公开(公告)日：2013-10-01
申请号：TW102104633
申请日：2013-02-06
申请人：日本電產理德股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：山下宗寬 , YAMASHITA, MUNEHIRO , 後藤彰 , GOTO, AKIRA , 栗原靖人 , KURIHARA, YASUHITO
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/26
摘要：本發明提供一種內設零件基板的檢查方法，其可有效地消除檢查夾具內的配線之間的寄生電容等的影響、以及內設零件基板內的配線之間的靜電電容的影響，並可對內設零件基板內的檢查對象部進行準確的檢查。例如在將電容器(C1)設為關注檢查對象部的情況下，與被設為第一選擇檢查點的檢查點(D1、D2)以及被設為第一電位調整檢查點的檢查點(D5~D7)接觸的探針(P1、P2、P5~P7)與電源部的第一輸出端子電連接。另外，與被設為第二選擇檢查點(D4)接觸的探針(P4)與電源部(4)的第二輸出端子電連接。另外，與被設為非關聯檢查點(D3、D8~D10)接觸的探針(P3、P8~P10)與接地電位電連接。
简体摘要：本发明提供一种内设零件基板的检查方法，其可有效地消除检查夹具内的配线之间的寄生电容等的影响、以及内设零件基板内的配线之间的静电电容的影响，并可对内设零件基板内的检查对象部进行准确的检查。例如在将电容器(C1)设为关注检查对象部的情况下，与被设为第一选择检查点的检查点(D1、D2)以及被设为第一电位调整检查点的检查点(D5~D7)接触的探针(P1、P2、P5~P7)与电源部的第一输出端子电连接。另外，与被设为第二选择检查点(D4)接触的探针(P4)与电源部(4)的第二输出端子电连接。另外，与被设为非关联检查点(D3、D8~D10)接触的探针(P3、P8~P10)与接地电位电连接。

34. 发明专利

TWI396852B 觸控面板檢驗裝置有权
简体标题：触摸皮肤检验设备
公开(公告)号：TWI396852B
公开(公告)日：2013-05-21
申请号：TW099115328
申请日：2010-05-13
申请人：日本電產理德股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：山下宗寬 , YAMASHITA, MUNEHIRO
IPC分类号： G01R31/02 , G06F3/041

35. 发明专利

TWI510794B 基板檢測裝置及基板檢測方法有权
简体标题：基板检测设备及基板检测方法
公开(公告)号：TWI510794B
公开(公告)日：2015-12-01
申请号：TW103113799
申请日：2014-04-16
申请人：日本電産理徳股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：山下宗寛 , YAMASHITA, MUNEHIRO
IPC分类号： G01R31/02
CPC分类号： G01R31/2806 , G01R31/2812 , H05K3/00 , H05K2203/162

36. 发明专利

TWI577091B 配線構造及基板檢查裝置有权
简体标题：配线构造及基板检查设备
公开(公告)号：TWI577091B
公开(公告)日：2017-04-01
申请号：TW102117884
申请日：2013-05-21
申请人：日本電產麗德股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：山下宗寛 , YAMASHITA, MUNEHIRO
IPC分类号： H01R13/02 , H01R13/70 , G01R31/28

37. 发明专利

TWI394961B 絕緣檢查裝置及絕緣檢查方法有权
简体标题：绝缘检查设备及绝缘检查方法
公开(公告)号：TWI394961B
公开(公告)日：2013-05-01
申请号：TW095138401
申请日：2006-10-18
申请人：日本電產麗德股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：山下宗寬 , YAMASHITA, MUNEHIRO
IPC分类号： G01R31/02
CPC分类号： G01R31/12

38. 发明专利

TWI489123B 檢測裝置及檢測方法失效
简体标题：检测设备及检测方法
公开(公告)号：TWI489123B
公开(公告)日：2015-06-21
申请号：TW103113111
申请日：2014-04-09
申请人：日本電産理徳股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：山下宗寛 , YAMASHITA, MUNEHIRO , 高橋正 , TAKAHASHI, TADASHI
IPC分类号： G01R31/28 , G06F3/041
CPC分类号： G09G3/006 , G09G2330/12

39. 发明专利

TWI434050B 基板檢查裝置及基板檢查方法有权
简体标题：基板检查设备及基板检查方法
公开(公告)号：TWI434050B
公开(公告)日：2014-04-11
申请号：TW096137119
申请日：2007-10-03
申请人：日本電產麗德股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：山下宗寬 , YAMASHITA, MUNEHIRO
IPC分类号： G01R31/02 , H05K3/00
CPC分类号： G01R31/2812

40. 发明专利

TW201403953A 配線構造及基板檢查裝置审中-公开
简体标题：配线构造及基板检查设备
公开(公告)号：TW201403953A
公开(公告)日：2014-01-16
申请号：TW102117884
申请日：2013-05-21
申请人：日本電產麗德股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：山下宗寛 , YAMASHITA, MUNEHIRO
IPC分类号： H01R13/02 , H01R13/70 , G01R31/28
摘要：本發明的課題是在於提供一種有效率地使用複數的連接切換單元及與該等相關聯的構成，謀求檢查效率的提升之配線構造。此配線構造是藉由配線(151)來電性連接複數的探針(P1~Pn)與複數的連接切換單元(SC1~SCm)之間，該複數的探針(P1~Pn)是設在檢查治具(11)，該檢查治具(11)是被使用在與檢查對象基板(2)的電氣特性有關的檢查。複數的連接切換單元(SC1~SCm)是分別具有用以和檢查治具(11)的探針(P1~Pn)側連接的複數個單元端子(131)。檢查治具(11)的探針(P1~Pn)與連接切換單元(SC1~SCm)的單元端子(131)是以和各連接切換單元(SC1~SCm)的探針(P1~Pn)連接的單元端子(131)的數量能夠在連接切換單元(SC1~SCm)間實質地形成均等的方式藉由配線(151)來電性連接。
简体摘要：本发明的课题是在于提供一种有效率地使用复数的连接切换单元及与该等相关联的构成，谋求检查效率的提升之配线构造。此配线构造是借由配线(151)来电性连接复数的探针(P1~Pn)与复数的连接切换单元(SC1~SCm)之间，该复数的探针(P1~Pn)是设在检查治具(11)，该检查治具(11)是被使用在与检查对象基板(2)的电气特性有关的检查。复数的连接切换单元(SC1~SCm)是分别具有用以和检查治具(11)的探针(P1~Pn)侧连接的复数个单元端子(131)。检查治具(11)的探针(P1~Pn)与连接切换单元(SC1~SCm)的单元端子(131)是以和各连接切换单元(SC1~SCm)的探针(P1~Pn)连接的单元端子(131)的数量能够在连接切换单元(SC1~SCm)间实质地形成均等的方式借由配线(151)来电性连接。

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