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1. 发明专利

TWI489123B 檢測裝置及檢測方法失效
简体标题：检测设备及检测方法
公开(公告)号：TWI489123B
公开(公告)日：2015-06-21
申请号：TW103113111
申请日：2014-04-09
申请人：日本電産理徳股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：山下宗寛 , YAMASHITA, MUNEHIRO , 高橋正 , TAKAHASHI, TADASHI
IPC分类号： G01R31/28 , G06F3/041
CPC分类号： G09G3/006 , G09G2330/12

2. 发明专利

TWI512308B 檢測裝置及檢測方法有权
简体标题：检测设备及检测方法
公开(公告)号：TWI512308B
公开(公告)日：2015-12-11
申请号：TW103112804
申请日：2014-04-08
申请人：日本電産理徳股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：高橋正 , TAKAHASHI, TADASHI
IPC分类号： G01R31/28 , G06F3/041
CPC分类号： G01R31/021 , G06F3/044 , G06F3/047

3. 发明专利

TW201439562A 檢測裝置及檢測方法失效
简体标题：检测设备及检测方法
公开(公告)号：TW201439562A
公开(公告)日：2014-10-16
申请号：TW103113111
申请日：2014-04-09
申请人：日本電産理徳股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：山下宗寛 , YAMASHITA, MUNEHIRO , 高橋正 , TAKAHASHI, TADASHI
IPC分类号： G01R31/28 , G06F3/041
CPC分类号： G09G3/006 , G09G2330/12
摘要：本發明係揭露一種對複數個配線同時進行交流訊號的施加和電流訊號的測定，由此可以高速檢測觸控面板位置偵測功能的檢測裝置及檢測方法。其中檢測裝置包括：電源設備，包含供應交流訊號的第一供應部和第二供應部；連接設備，將所希望的y軸配線電連接於第一供應部或第二供應部；電流偵測設備，具備複數個電流偵測部；評價設備，將來自電流偵測部的偵測值作為基礎執行配線的評價；控制設備，藉由控制各設備執行顯示配線的檢測，其中，控制設備催促控制以便連接於第一供應部的y軸配線的個數和連接於第二供應部的y軸配線的個數保持一定。
简体摘要：本发明系揭露一种对复数个配线同时进行交流信号的施加和电流信号的测定，由此可以高速检测触摸皮肤位置侦测功能的检测设备及检测方法。其中检测设备包括：电源设备，包含供应交流信号的第一供应部和第二供应部；连接设备，将所希望的y轴配线电连接于第一供应部或第二供应部；电流侦测设备，具备复数个电流侦测部；评价设备，将来自电流侦测部的侦测值作为基础运行配线的评价；控制设备，借由控制各设备运行显示配线的检测，其中，控制设备催促控制以便连接于第一供应部的y轴配线的个数和连接于第二供应部的y轴配线的个数保持一定。

4. 发明专利

TW201439561A 檢測裝置及檢測方法审中-公开
简体标题：检测设备及检测方法
公开(公告)号：TW201439561A
公开(公告)日：2014-10-16
申请号：TW103112804
申请日：2014-04-08
申请人：日本電産理徳股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：高橋正 , TAKAHASHI, TADASHI
IPC分类号： G01R31/28 , G06F3/041
CPC分类号： G01R31/021 , G06F3/044 , G06F3/047
摘要：本發明揭露一種藉由檢測出形成在觸控面板的配線的粗細，進而能迅速且有效地進行該配線的良好與不良的檢測的檢測裝置及檢測方法。其中，檢測裝置，主要包括：電源設備，向成為檢測對象的配線供給交流訊號；第一檢測設備，非接觸配置在成為檢測對象的配線的表示配線的一端的同時，與電源設備的另一端導通連接；第二檢測設備，與成為檢測對象的配線的表示配線對向且非接觸地配置的同時，與電源設備的另一端導通連接；判定設備，基於第一測定設備和第二測定設備的測定結果，判定配線的良好與不良。
简体摘要：本发明揭露一种借由检测出形成在触摸皮肤的配线的粗细，进而能迅速且有效地进行该配线的良好与不良的检测的检测设备及检测方法。其中，检测设备，主要包括：电源设备，向成为检测对象的配线供给交流信号；第一检测设备，非接触配置在成为检测对象的配线的表示配线的一端的同时，与电源设备的另一端导通连接；第二检测设备，与成为检测对象的配线的表示配线对向且非接触地配置的同时，与电源设备的另一端导通连接；判定设备，基于第一测定设备和第二测定设备的测定结果，判定配线的良好与不良。

5. 发明专利

TWI686616B 基板檢查裝置及基板檢查方法有权
简体标题：基板检查设备及基板检查方法
公开(公告)号：TWI686616B
公开(公告)日：2020-03-01
申请号：TW104135380
申请日：2015-10-28
申请人：日商日本電產理德股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：高橋正 , TAKAHASHI, TADASHI , 鸙野俊寿 , HIBARINO, TOSHIHISA , 本田睦 , HONDA, MUTSUHIRO
IPC分类号： G01R31/28 , G06F3/041

6. 发明专利

TW201508288A 檢測裝置审中-公开
简体标题：检测设备
公开(公告)号：TW201508288A
公开(公告)日：2015-03-01
申请号：TW103128645
申请日：2014-08-20
申请人：日本電產理德股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：高橋正 , TAKAHASHI, TADASHI
IPC分类号： G01R31/02 , G01R31/12 , G01R31/28
摘要：本發明提供一種通過簡單構成能檢測出絕緣檢測時發生的電火花和部分放電的檢測裝置。所述檢測裝置包括：電流源，向正極側圖形供給電流，所述正極側圖形是檢測物件的配線圖形中的一個；電流測定部，測定流過所述檢測物件的配線圖形的電流；以及判定部，基於所述電流測定部測定的電流的時間變化，判定所述檢測物件的配線圖形中是否發生了電火花或部分放電。
简体摘要：本发明提供一种通过简单构成能检测出绝缘检测时发生的电火花和部分放电的检测设备。所述检测设备包括：电流源，向正极侧图形供给电流，所述正极侧图形是检测对象的配线图形中的一个；电流测定部，测定流过所述检测对象的配线图形的电流；以及判定部，基于所述电流测定部测定的电流的时间变化，判定所述检测对象的配线图形中是否发生了电火花或部分放电。

7. 发明专利

TW201621335A 基板檢查裝置及基板檢查方法审中-公开
简体标题：基板检查设备及基板检查方法
公开(公告)号：TW201621335A
公开(公告)日：2016-06-16
申请号：TW104135380
申请日：2015-10-28
申请人：日本電產理德股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：高橋正 , TAKAHASHI, TADASHI , 鸙野俊寿 , HIBARINO, TOSHIHISA , 本田睦 , HONDA, MUTSUHIRO
IPC分类号： G01R31/28 , G06F3/041
CPC分类号： G06F3/0418 , G01R27/02 , G01R27/26 , G01R31/00 , G01R31/2839 , G06F3/041 , G06F3/044 , G06F3/045 , G06F2203/04103
摘要：本發明提供一種基板檢查裝置及基板檢查方法，其容易降低靜電電容及電阻值之測量工時。解決手段在於具備：測量處理部(41)，對應於將複數個連接端子(Tx)和複數個連接端子(Ty)予以分別組合所得的複數個組合，針對與各組合對應的連接端子(Tx、Ty)，藉由交流電源(2)對該連接端子(Ty)供給交流信號(SA)，且藉由電流計(3)檢測流動至該連接端子(Tx)的電流，藉此執行取得與各組合對應之電流的測量處理；以及算出部(42)，基於在測量處理中藉由電流計(3)所檢測出的電流之大小和顯示相位的資訊，來執行用以算出與各組合對應之靜電電容和電阻值的算出處理。
简体摘要：本发明提供一种基板检查设备及基板检查方法，其容易降低静电电容及电阻值之测量工时。解决手段在于具备：测量处理部(41)，对应于将复数个连接端子(Tx)和复数个连接端子(Ty)予以分别组合所得的复数个组合，针对与各组合对应的连接端子(Tx、Ty)，借由交流电源(2)对该连接端子(Ty)供给交流信号(SA)，且借由电流计(3)检测流动至该连接端子(Tx)的电流，借此运行取得与各组合对应之电流的测量处理；以及算出部(42)，基于在测量处理中借由电流计(3)所检测出的电流之大小和显示相位的信息，来运行用以算出与各组合对应之静电电容和电阻值的算出处理。

8. 发明专利

TW201805647A 檢查裝置审中-公开
简体标题：检查设备
公开(公告)号：TW201805647A
公开(公告)日：2018-02-16
申请号：TW106108309
申请日：2017-03-14
申请人：日本電產理德股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：高橋正 , TAKAHASHI, TADASHI
IPC分类号： G01R31/36
CPC分类号： G01N27/00 , H01M8/04 , H01M8/10
摘要：本發明係提供一種檢查裝置，其係與被利用於燃料電池之膜、電極接合體等之被檢查物相關者。本發明之檢查裝置係形成有電解質膜及以夾著該電解質膜的方式積層之觸媒層的被檢查物的電阻檢查裝置，該檢查裝置係具備：第一電極部，以對被檢查物之一方的觸媒層抵接之一個大電極部所形成；第二電極部，以對被檢查物之另一方的觸媒層抵接之複數個小電極部所形成；電壓單元，對第一電極部與第二電極部之間施加預定的電壓；複數個檢測單元，檢測第二電極部之各小電極部的電性信號；以及判定單元，依據複數個檢測單元的檢測結果來判定被檢查物的良莠。
简体摘要：本发明系提供一种检查设备，其系与被利用于燃料电池之膜、电极接合体等之被检查物相关者。本发明之检查设备系形成有电解质膜及以夹着该电解质膜的方式积层之触媒层的被检查物的电阻检查设备，该检查设备系具备：第一电极部，以对被检查物之一方的触媒层抵接之一个大电极部所形成；第二电极部，以对被检查物之另一方的触媒层抵接之复数个小电极部所形成；电压单元，对第一电极部与第二电极部之间施加预定的电压；复数个检测单元，检测第二电极部之各小电极部的电性信号；以及判定单元，依据复数个检测单元的检测结果来判定被检查物的良莠。

9. 发明专利

TW201740121A 檢查輔助具、檢查輔助具套組、及基板檢查裝置审中-公开
简体标题：检查辅助具、检查辅助具套组、及基板检查设备
公开(公告)号：TW201740121A
公开(公告)日：2017-11-16
申请号：TW105141391
申请日：2016-12-14
申请人：日本電產理德股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：松川俊英 , MATSUKAWA, TOSHIHIDE , 北澤一孝 , KITAZAWA, KAZUTAKA , 中山孝文 , NAKAYAMA, TAKAFUMI , 辻本正之 , TSUJIMOTO, MASAYUKI , 高橋正 , TAKAHASHI, TADASHI , 角田晴美 , KADOTA, HARUMI , 楠田達文 , KUSUDA, TATSUFUMI
IPC分类号： G01R1/073 , G01R31/28 , G01R31/26
CPC分类号： G01R1/073 , G01R31/02 , G01R31/26 , G01R31/28 , H05K3/00
摘要：本發明提供一種檢查輔助具、檢查輔助具套組及基板檢查裝置。檢查輔助具3D係用以檢查設定有檢查對象之檢查點P1的基板100的檢查輔助具3D，該檢查輔助具3D係具備：探針Pr，係用以接觸於檢查點P1；以及加熱塊35D，係具有用以接觸於基板100的接觸面B1，藉由加熱接觸面B1而加熱基板100。
简体摘要：本发明提供一种检查辅助具、检查辅助具套组及基板检查设备。检查辅助具3D系用以检查设置有检查对象之检查点P1的基板100的检查辅助具3D，该检查辅助具3D系具备：探针Pr，系用以接触于检查点P1；以及加热块35D，系具有用以接触于基板100的接触面B1，借由加热接触面B1而加热基板100。

10. 发明专利

TWI681199B 單層型檢查對象物的檢查裝置及檢查方法有权
简体标题：单层型检查对象物的检查设备及检查方法
公开(公告)号：TWI681199B
公开(公告)日：2020-01-01
申请号：TW104105084
申请日：2015-02-13
申请人：日商日本電產理德股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：高橋正 , TAKAHASHI, TADASHI , 林定志 , LIN, TING CHIH
IPC分类号： G01R31/28 , G06F3/044

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