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    • 23. 发明专利
    • 帶電探針及其電場量測方法
    • 带电探针及其电场量测方法
    • TW201437640A
    • 2014-10-01
    • TW102109996
    • 2013-03-21
    • 國立清華大學NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY
    • 曾繁根TSENG, FAN GANG張佐民CHANG, JOE MING
    • G01Q70/08G01R29/12
    • 本發明提供一種帶電探針及其電場量測方法,探針可充電於單一顆黏合於探針針尖的駐極體奈米球以形成帶電荷之探針,並可適用於掃描探針顯微術。探針包含絕緣針頭基座、懸臂樑及單一顆駐極體奈米球。懸臂樑用以支撐絕緣針頭基座,單一顆奈米設置於絕緣針頭基座之磨損平面上。在使用電極接觸法後,單一顆奈米球可儲存有單一電性之固定量電荷,利用虛像法電荷計算公式計算單一電性之固定量電荷。在於探針尖端的駐極體奈米球儲電後,此探針即可於原子力顯微鏡系統上以輕敲法掃描影像或力距離曲線擷取任何物件表面之電場分佈圖。
    • 本发明提供一种带电探针及其电场量测方法,探针可充电於单一颗黏合于探针针尖的驻极体奈米球以形成带电荷之探针,并可适用于扫描探针显微术。探针包含绝缘针头基座、悬臂梁及单一颗驻极体奈米球。悬臂梁用以支撑绝缘针头基座,单一颗奈米设置于绝缘针头基座之磨损平面上。在使用电极接触法后,单一颗奈米球可存储有单一电性之固定量电荷,利用虚像法电荷计算公式计算单一电性之固定量电荷。在于探针尖端的驻极体奈米球储电后,此探针即可于原子力显微镜系统上以轻敲法扫描影像或力距离曲线截取任何对象表面之电场分布图。